物品空间剂量分布检测方法及装置制造方法及图纸

公开了一种物品空间剂量分布检测方法及装置，物品空间剂量分布检测方法包括：构建剂量分布标准模型，剂量分布标准模型包括物品在预设大小的能量辐照下剂量分布数据与密度值的标准映射关系；对待测物进行透视扫描，获得待测物的立体透视图像和待测物各空间点的检测密度值；根据待测物各空间点的检测密度值及剂量分布标准模型的标准映射关系得到待测物各空间点的剂量分布数据；以及将待测物各空间点的剂量分布数据与立体透视图像匹配并显示。根据本公开实施例的物品空间剂量分布检测方法及装置，使得待测物各立体空间点的剂量分布数据更直观准确，方便辐照工艺中多种参数的合理配置。

【技术实现步骤摘要】
物品空间剂量分布检测方法及装置
本公开涉及辐照加工领域，具体涉及一种物品空间剂量分布检测方法及装置。
技术介绍
辐照加工是利用射线对物质所产生的物理效应、化学效应和生物效应，以达到预定的目标效果，可以用于食品保鲜、医疗保健品消毒灭菌、包装材料消毒灭菌、化妆品灭菌、及材料改性等。辐照加工涉及的领域广泛，是食品加工、医疗医药品加工等关系国计民生的产业的重要加工环节，成为国民经济的重要组成。采用电子束进行辐照加工时，由于电子束穿透力有限，对于有相当厚度的货物而言，货物内部剂量场的分布尤为重要，一旦货物包装尺寸和装载方式与电子束穿透能力不匹配，很容易出现穿不透、剂量场不达标的辐照质量事故。因此货物中实际剂量的分布情况是辐照加工工艺、生产方案、质量控制的关键。因此，在辐照加工前，需要知道货物的剂量分布数据，目前常用的检测方法是通过货物开箱检查，将剂量计埋入待测物内进行测试，效率低、成本高、技术要求高。
技术实现思路
有鉴于此，本公开提供物品空间剂量分布检测方法及装置，能够直观显示待测物各立体空间点的剂量分布数据，方便辐照工艺中多种参数的合理配置。一方面，本公开实施例提供一种物品空间剂量分布检测方法，包括：构建剂量分布标准模型，所述剂量分布标准模型包括物品在预设大小的能量辐照下剂量分布数据与密度值的标准映射关系；对待测物进行透视扫描，获得所述待测物的立体透视图像和所述待测物各空间点的检测密度值；根据所述待测物各空间点的所述检测密度值及所述剂量分布标准模型的标准映射关系得到所述待测物各空间点的剂量分布数据；以及将所述待测物各空间点的所述剂量分布数据与所述立体透视图像匹配并显示。根据本公开实施例的一个方面，构建剂量分布标准模型包括：构建剂量分布初始模型，所述剂量分布初始模型包括物品在预设大小的能量辐照下剂量分布数据与理论密度值的理论映射关系；获得校正模型；通过所述校正模型对所述剂量分布初始模型校正，得到所述剂量分布标准模型。根据本公开实施例的一个方面，获得校正模型包括：提供与所述待测物匹配的校正组件，所述校正组件包括多种尺寸的多个校正块；对所述校正组件进行透视扫描，获得所述校正组件的理论密度值；测量多个所述校正块的质量及尺寸，计算得到与多个所述校正块对应的多个实际密度值；将多个所述实际密度值与所述理论密度值拟合，得到所述校正模型。根据本公开实施例的一个方面，将多个所述实际密度值与所述理论密度值拟合包括将多个所述实际密度值与所述理论密度值进行多项式拟合。根据本公开实施例的一个方面，所述校正块为正方体校正块，所述正方体校正块的边长为0.1毫米至30毫米，多种尺寸的多个所述正方体校正块能够拼接形成长方体形状的所述校正组件。根据本公开实施例的一个方面，所述剂量分布数据包括以下中的至少任一：剂量最大值与表面剂量的比值数据；剂量最小值与表面剂量的比值数据；剂量不均匀度数据。根据本公开实施例的一个方面，预设大小的能量为1MeV至20MeV的能量。另一方面，本公开实施例提供一种物品空间剂量分布检测装置，包括：模型处理装置，用于构建剂量分布标准模型，所述剂量分布标准模型包括物品在预设大小的能量辐照下剂量分布数据与密度值的标准映射关系；立体透视装置，用于对待测物进行透视扫描，以获得所述待测物的立体透视图像和所述待测物各空间点的检测密度值；计算装置，与所述模型处理装置、所述立体透视装置连接，所述计算装置根据所述待测物各空间点的所述检测密度值及所述剂量分布标准模型的标准映射关系得到所述待测物各空间点的剂量分布数据；以及显示装置，与所述计算装置连接，所述显示装置将所述待测物各空间点的所述剂量分布数据与所述立体透视图像匹配并显示。根据本公开实施例的一个方面，物品空间剂量分布检测装置还包括：校正组件，用于通过所述立体透视装置的透视扫描获取校正模型，其中，所述模型处理装置能够构建剂量分布初始模型，并根据所述校正模型对所述剂量分布初始模型校正，得到所述剂量分布标准模型。根据本公开实施例的一个方面，所述校正组件包括多种尺寸的多个校正块，所述校正块为正方体校正块，所述正方体校正块的边长为0.1毫米至30毫米，多种尺寸的多个所述正方体校正块能够拼接形成长方体形状的所述校正组件。根据本公开实施例的物品空间剂量分布检测方法及装置，将待测物各空间点的剂量分布数据与立体透视图像匹配，得到三维立体形式对待测物各空间点的图像信息和剂量分布数据进行显示，使得待测物各立体空间点的剂量分布数据更直观准确，方便辐照工艺中多种参数的合理配置。该物品空间剂量分布检测方法相比常规技术测试周期短，快速高效，测试结果精度高，物品内部情况一目了然，可以极大提高了辐照加工现场的工作效率。在一些可选的实施例中，剂量分布标准模型通过对构建的剂量分布初始模型进行校正得到，使得剂量分布标准模型中剂量分布数据与密度值的映射关系更准确，进一步使得获得的各空间点的剂量分布数据更加准确。附图说明通过阅读以下参照附图对非限制性实施例所作的详细描述，本公开的其它特征、目的和优点将会变得更明显,其中，相同或相似的附图标记表示相同或相似的特征。图1示出根据本公开实施例的物品空间剂量分布检测方法的流程图；图2示出根据本公开实施例的物品空间剂量分布检测方法中构建剂量分布标准模型步骤的流程图；图3示出根据本公开实施例的物品空间剂量分布检测方法中获得校正模型步骤的流程图；图4示出根据本公开实施例的物品空间剂量分布检测装置的结构框图；图5至图8分别示出根据本公开实施例的物品空间剂量分布检测装置中显示装置显示的界面示意图。具体实施方式下面将详细描述本公开的各个方面的特征和示例性实施例。在下面的详细描述中，提出了许多具体细节，以便提供对本公开的全面理解。但是，对于本领域技术人员来说很明显的是，本公开可以在不需要这些具体细节中的一些细节的情况下实施。下面对实施例的描述仅仅是为了通过示出本公开的示例来提供对本公开的更好的理解。本公开决不限于下面所提出的任何具体配置和算法，而是在不脱离本公开的精神的前提下覆盖了元素、部件和算法的任何修改、替换和改进。在附图和下面的描述中，没有示出公知的结构和技术，以便避免对本公开造成不必要的模糊。本公开实施例提供一种物品空间剂量分布检测方法，可以很好地指导辐照加工工艺的制定。图1示出根据本公开实施例的物品空间剂量分布检测方法的流程图，该物品空间剂量分布检测方法包括步骤S100至步骤S400。在步骤S100中，构建剂量分布标准模型，剂量分布标准模型包括物品在预设大小的能量辐照下剂量分布数据与密度值的标准映射关系。其中，上述预设大小的能量可以为1MeV至20MeV的能量。剂量分布数据可以包括以下中的至少任一：剂量最大值与表面剂量的比值数据；剂量最小值与表面剂量的比值数据；剂量不均匀度数据。即剂量分布标准模型可以包括以下中的至少任一：剂量最大值与表面剂量的比值数据与密度值的标准映射关系；剂量最小值与表面剂量的比值本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种物品空间剂量分布检测方法，包括：/n构建剂量分布标准模型，所述剂量分布标准模型包括物品在预设大小的能量辐照下剂量分布数据与密度值的标准映射关系；/n对待测物进行透视扫描，获得所述待测物的立体透视图像和所述待测物各空间点的检测密度值；/n根据所述待测物各空间点的所述检测密度值及所述剂量分布标准模型的标准映射关系得到所述待测物各空间点的剂量分布数据；以及/n将所述待测物各空间点的所述剂量分布数据与所述立体透视图像匹配并显示。/n

【技术特征摘要】
1.一种物品空间剂量分布检测方法，包括：
构建剂量分布标准模型，所述剂量分布标准模型包括物品在预设大小的能量辐照下剂量分布数据与密度值的标准映射关系；
对待测物进行透视扫描，获得所述待测物的立体透视图像和所述待测物各空间点的检测密度值；
根据所述待测物各空间点的所述检测密度值及所述剂量分布标准模型的标准映射关系得到所述待测物各空间点的剂量分布数据；以及
将所述待测物各空间点的所述剂量分布数据与所述立体透视图像匹配并显示。


2.根据权利要求1所述的物品空间剂量分布检测方法，其中，构建剂量分布标准模型包括：
构建剂量分布初始模型，所述剂量分布初始模型包括物品在预设大小的能量辐照下剂量分布数据与理论密度值的理论映射关系；
获得校正模型；
通过所述校正模型对所述剂量分布初始模型校正，得到所述剂量分布标准模型。


3.根据权利要求2所述的物品空间剂量分布检测方法，其中，获得校正模型包括：
提供与所述待测物匹配的校正组件，所述校正组件包括多种尺寸的多个校正块；
对所述校正组件进行透视扫描，获得所述校正组件的理论密度值；
测量多个所述校正块的质量及尺寸，计算得到与多个所述校正块对应的多个实际密度值；
将多个所述实际密度值与所述理论密度值拟合，得到所述校正模型。


4.根据权利要求3所述的物品空间剂量分布检测方法，其中，将多个所述实际密度值与所述理论密度值拟合包括将多个所述实际密度值与所述理论密度值进行多项式拟合。


5.根据权利要求3所述的物品空间剂量分布检测方法，其中，所述校正块为正方体校正块，所述正方体校正块的边长为0.1毫米至30毫米，多种尺寸的多个所述正方体校正块能够...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈志强，李元景，韩志伟，杨光，覃怀莉，邝山，梁爱凤，刘燕琴，
申请(专利权)人：清华大学，同方威视技术股份有限公司，同威信达技术北京股份有限公司，
类型：发明
国别省市：北京;11