【技术实现步骤摘要】
适用多规格框架断路器二次回路全自动检测装置及方法
本专利技术涉及一种回路全自动检测装置，尤其涉及一种适用多规格框架断路器二次回路全自动检测装置及方法，属于低压电器制造领域。
技术介绍
二次回路用于控制断路器的分、合、储能等操作，并实现电气联锁和输出断路器状态指示等。一般二次回路检测通常需对接线组接线，并用螺钉紧固，方法虽简单，但费时费力，也不适用于自动检测。
技术实现思路
本专利技术主要是解决现有技术中存在的不足，提供一种在线全自动检测装置，且能满足多种断路器的检测的适用多规格框架断路器二次回路全自动检测装置及方法。本专利技术的上述技术问题主要是通过下述技术方案得以解决的：一种适用多规格框架断路器二次回路全自动检测装置，包括托盘、二次回路检测单元和底板，所述的托盘的上部设有随托盘位移至二次回路检测单元下方的框架断路器，所述的二次回路检测单元中设有可XYZ向位移的三向伺服系统且三向伺服系统与框架断路器呈活动式触接；所述的底板上设有可位移的夹紧装置且框架断路器的两侧分别通过夹紧装置进行夹持定位；
【技术保护点】
1.一种适用多规格框架断路器二次回路全自动检测装置，其特征在于：包括托盘(1)、二次回路检测单元(2)和底板(3)，所述的托盘(1)的上部设有随托盘(1)位移至二次回路检测单元(2)下方的框架断路器(4)，所述的二次回路检测单元(2)中设有可XYZ向位移的三向伺服系统(5)且三向伺服系统(5)与框架断路器(4)呈活动式触接；所述的底板(3)上设有可位移的夹紧装置且框架断路器(4)的两侧分别通过夹紧装置进行夹持定位；/n所述的三向伺服系统(5)包括可XYZ向位移的探针罩(6)，所述的探针罩(6)中设有均匀分布的探针(7)，所述的探针(7)经XYZ向位移调节后对准框架断路器(4...
【技术特征摘要】
1.一种适用多规格框架断路器二次回路全自动检测装置，其特征在于：包括托盘(1)、二次回路检测单元(2)和底板(3)，所述的托盘(1)的上部设有随托盘(1)位移至二次回路检测单元(2)下方的框架断路器(4)，所述的二次回路检测单元(2)中设有可XYZ向位移的三向伺服系统(5)且三向伺服系统(5)与框架断路器(4)呈活动式触接；所述的底板(3)上设有可位移的夹紧装置且框架断路器(4)的两侧分别通过夹紧装置进行夹持定位；
所述的三向伺服系统(5)包括可XYZ向位移的探针罩(6)，所述的探针罩(6)中设有均匀分布的探针(7)，所述的探针(7)经XYZ向位移调节后对准框架断路器(4)中的二次接线组对应点进行触点导电且通过电连(8)导通；
所述的夹紧装置包括沿底板(3)进行位移的夹紧操作架(9)，所述的夹紧操作架(9)前端的两侧端设有与框架断路器(4)外壁相活动定位的夹紧丝杆(10)，所述的夹紧丝杆(10)通过传动组件进行传动。
2.根据权利要求1所述的适用多规格框架断路器二次回路全自动检测装置，其特征在于：所述的二次回路检测单元(2)包括安装架(11)，所述的三向伺服系统(5)固定在安装架(11)的底部，所述的三向伺服系统(5)包括移动板(12)，所述的移动板(12)通过设在安装架(11)中的X向导向组件(13)进行X向位移，所述的安装架(11)中设有推动移动板(12)进行Y向位移的Y向导向组件(14)，所述的移动板(12)中设有推动探针罩(6)进行Z向位移的Z向导向组件(15)，所述的电连(8)设在探针罩(6)的外壁；所述的X向导向组件(13)、Y向导向组件(14)和Z向导向组件(15)三者结构相同。
3.根据权利要求2所述的适用多规格框架断路器二次回路全自动检测装置，其特征在于：所述的Z向导向组件(15)包括丝杆(16)和滑块(17)，所述的丝杆(16)外套有与滑块(17)相固定的螺母(18)，所述的滑块(17)沿直线导轨(19)进行位移的，所述的滑块(17)带动探针罩(6)进行位移，所述的丝杆(16)通过伺服电机(20)进行驱动，所述的伺服电机(20)与丝杆(16)间通过联轴...
【专利技术属性】
技术研发人员：陈佳成，袁迪飞，
申请(专利权)人：杭州杰涵机械科技有限公司，
类型：发明
国别省市：浙江;33
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