一种元器件测试方法、装置及系统制造方法及图纸

本发明专利技术公开一种元器件测试方法、装置及系统，该元器件测试方法包括：显示单元显示应用界面，应用界面包括第一区域、第二区域和第三区域，其中，第一区域包括设备选择控件和测试参数控件，第二区域包括当前测试结果显示控件和测试启动控件，第三区域包括历史测试结果显示控件、测试重测控件和测试停止控件；处理单元响应于用户对各区域中的不同控件的操作执行相应的工作；报警单元基于测试结果选择是否合格进行选择性报警，本申请的元器件测试方法该方法通过编程完成仪表的设置操作，降低人员设置过程中的失误，快速形成生产能力，该方法有效提高各类元器件测试工作效率。

【技术实现步骤摘要】
一种元器件测试方法、装置及系统
本专利技术涉及测试元器件领域。更具体地，涉及一种元器件测试方法、装置及系统。
技术介绍
在电子元器件的测试过程中，出于对实验室噪声问题的考虑，开发者选择在判断样品测试参数超差时蜂鸣器发出声响，提示操作员样品不合格。在早期的调试过程中，这一功能很好的发挥了作用。可是当软件投入实际应用时，这一细节却因为操作员操作速度的加快而使发生了不合格样品被投放至合格的样品中的情况。分析所发生的问题，其根源有二：其一，操作员将样品投入合格一栏的动作发生在声音产生之前，没有收到声音提示的操作员以为样品属于合格，但电脑判断后给出不合格的提示，造成操作员误投样品；其二，就是操作员未能使被测件与测试夹具实现良好的连接，从而造成数据超差。目前，对于电子元件的测试参数及结果只能通过人工记录的方式来记载，而依靠人为的判断，降低了器件测试的准确度，降低了测试效率并提高了查错，在增加了人员投入的同时也降低了测试效率，并且无法保证数据的正确性。
技术实现思路
为解决
技术介绍
中所提出的技术问题中的至少一个，本专利技术提供了一种元器件测试方法、装置及系统。本专利技术第一方面提供一种元器件测试方法，该方法包括：显示单元显示应用界面，所述应用界面包括第一区域、第二区域和第三区域，其中，所述第一区域包括设备选择控件和测试参数控件，所述第二区域包括当前测试结果显示控件和测试启动控件，所述第三区域包括历史测试结果显示控件、测试重测控件和测试停止控件；处理单元响应于用户对所述设备选择控件的第一操作进行测试仪器的选择；处理单元响应于用户对所述测试参数控件的第二操作进行测试预设参数录入；处理单元响应于用户对所述测试启动控件的第三操作启动对待测元器件的测试，并将当前测试结果在所述当前测试结果显示控件进行显示；处理单元响应于用户对所述测试重测控件的第四操作启动对所述待测元器件的重新测试；处理单元响应于用户对所述停止控件的第五操作停止对所述待测元器件的测试；通过所述历史测试结果显示控件显示包括当前测试结果在内的历史测试数据；报警单元基于所述当前测试结果选择是否合格进行选择性报警。在一个具体实施例中，上述方法还包括：处理单元响应于用户对历史测试结果显示控件的第六操作将所述历史数据存储到存储单元；处理单元响应于用户对历史测试结果显示控件的第七操作对所述历史数据进行删除。在一个具体实施例中，在处理单元响应于用户对所述停止控件的第五操作结束对所述待测元器件的测试之后，所述处理单元将所述历史数据存储到存储单元。在一个具体实施例中，所述测试参数控件包括：测试项目录入控件、测试项目标称值录入控件、测试项目最大值录入控件、测试项目最小值录入控件、测试时间录入控件。在一个具体实施例中，所述当前测试显示控件包括：测试项目最大值显示控件、测试项目最小值显示控件、测试结果数值显示控件、测试结果摆针显示控件。在一个具体实施例中，所述测试结果摆针显示控件基于当前测试结果是否合格呈现不同颜色状态。在一个具体实施例中，所述历史测试数据包括：测试仪器信息、测试数据信息、测试时间信息、测试项目最大值、测试项目最小值、测试人员和单位信息。在一个具体实施例中，所述报警单元为蜂鸣器，所述蜂鸣器在所述当前测试结果合格时进行蜂鸣提示。第二方面，本申请还提供了一种元器件测试装置，该装置包括：处理单元、显示单元、报警单元、存储单元和外接设备；所述显示单元用于显示应用界面，所述应用界面包括第一区域、第二区域和第三区域；所述第一区域包括设备选择控件和测试参数控件；所述第二区域包括当前测试结果显示控件和测试启动控件；所述第三区域包括历史测试结果显示控件、测试重测控件和测试停止控件；所述处理单元用于响应于用户对所述设备选择控件的第一操作进行测试仪器的选择、响应于用户对所述测试参数控件的第二操作进行测试预设参数录入、响应于用户对所述测试启动控件的第三操作对所述元器件进行测试，并将当前测试结果在所述当前测试结果显示控件进行显示、响应于用户对所述测试重测控件的第四操作对所述元器件进行重新测试、响应于用户对所述停止控件的第五操作结束对所述元器件的测试；其中，所述历史测试结果显示控件显示包括当前测试结果在内的历史测试数据；所述报警单元基于所述当前测试结果选择是否合格进行选择性报警；所述存储单元用于对测试数据进行存储；所述外接设备用于进行所述第一操作、第二操作、第三操作、第四操作和第五操作。第三方面，本申请还提供了一种元器件测试系统，该系统包括上述的一种元器件测试装置和多台测试仪器；其中，所述元器件测试装置与所述多台测试仪分别通过GPIB接口、串口接口和USB线缆的一种或多种方式连接。本专利技术的有益效果如下：本专利技术提供一种元器件测试方法、装置及系统，通过编程完成仪表的设置操作，降低人员设置过程中的失误，快速形成生产能力，通过自动比较测试结果，降低人工测试过程中误判现象，自动生成测试数据，并完成存档，方便工作过程中的查询和统计，有效提高各类元器件测试工作效率。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1示出本专利技术实施例提出的元器件测试方法流程图。图2示出本专利技术实施例提出的显示单元显示的应用界面构成图。图3示出本专利技术实施例提出的显示单元显示的应用界面实际效果图。图4示出本专利技术实施例提出的历史测试数据实物图。图5示出本专利技术实施例提出的元器件测试装置结构图。图6示出本专利技术实施例提出的元器件测试系统结构图。图7示出本专利技术实施例提出的元器件测试系统实物图。附图标记，100、应用界面；110、第一区域；111、设备选择控件；112、测试参数控件；120、第二区域；121、当前测试结果显示控件；122、测试启动控件；130、第三区域；131、测试结果显示控件；132、测试重测控件；133、测试停止控件。具体实施方式为使本专利技术的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对本专利技术实施方式作进一步地详细描述。如图1所示，本申请一个实施例提供一种元器件测试方法，该方法包括：步骤S10、显示单元显示应用界面，如图2所示，所述应用界面100包括第一区域110、第二区域120和第三区域130，其中，所述第一区域110包括设备选择控件111和测试参数控件112，所述第二区域120包括当前测试结果显示控件121和测试启动控件122，所述第三区域130包括历史测试结果显示控件131、测试重测控件132和测试停止控件133；需要说明的是，应用本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种元器件测试方法，其特征在于，包括：/n显示单元显示应用界面，所述应用界面包括第一区域、第二区域和第三区域，其中，所述第一区域包括设备选择控件和测试参数控件，所述第二区域包括当前测试结果显示控件和测试启动控件，所述第三区域包括历史测试结果显示控件、测试重测控件和测试停止控件；/n处理单元响应于用户对所述设备选择控件的第一操作进行测试仪器的选择；/n处理单元响应于用户对所述测试参数控件的第二操作进行测试预设参数录入；/n处理单元响应于用户对所述测试启动控件的第三操作启动对待测元器件的测试，并将当前测试结果在所述当前测试结果显示控件进行显示；/n处理单元响应于用户对所述测试重测控件的第四操作启动对所述待测元器件的重新测试；/n处理单元响应于用户对所述停止控件的第五操作停止对所述待测元器件的测试；/n通过所述历史测试结果显示控件显示包括当前测试结果在内的历史测试数据；/n报警单元基于所述当前测试结果选择是否合格进行选择性报警。/n

【技术特征摘要】
1.一种元器件测试方法，其特征在于，包括：
显示单元显示应用界面，所述应用界面包括第一区域、第二区域和第三区域，其中，所述第一区域包括设备选择控件和测试参数控件，所述第二区域包括当前测试结果显示控件和测试启动控件，所述第三区域包括历史测试结果显示控件、测试重测控件和测试停止控件；
处理单元响应于用户对所述设备选择控件的第一操作进行测试仪器的选择；
处理单元响应于用户对所述测试参数控件的第二操作进行测试预设参数录入；
处理单元响应于用户对所述测试启动控件的第三操作启动对待测元器件的测试，并将当前测试结果在所述当前测试结果显示控件进行显示；
处理单元响应于用户对所述测试重测控件的第四操作启动对所述待测元器件的重新测试；
处理单元响应于用户对所述停止控件的第五操作停止对所述待测元器件的测试；
通过所述历史测试结果显示控件显示包括当前测试结果在内的历史测试数据；
报警单元基于所述当前测试结果选择是否合格进行选择性报警。


2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，还包括：
处理单元响应于用户对历史测试结果显示控件的第六操作将所述历史数据存储到存储单元；
处理单元响应于用户对历史测试结果显示控件的第七操作对所述历史数据进行删除。


3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在处理单元响应于用户对所述停止控件的第五操作结束对所述待测元器件的测试之后，所述处理单元将所述历史数据存储到存储单元。


4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述测试参数控件包括：
测试项目录入控件、测试项目标称值录入控件、测试项目最大值录入控件、测试项目最小值录入控件、测试时间录入控件。


5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述当前测试显示控件包括：
测试项目最大值显示控件、测试项目最小值显示控件、测试结果数值显示控件、测试结果摆针显示控件。

【专利技术属性】
技术研发人员：戴莹，桑作钧，李迎昕，申丽丽，尚玉凤，
申请(专利权)人：中国人民解放军海军七零一工厂，
类型：发明
国别省市：北京;11