一种厚度测量方法、装置、设备及存储介质制造方法及图纸

本发明专利技术实施例公开了一种厚度测量方法、装置、设备及存储介质。该方法包括获取第一激光位移传感器基于第一基准面反馈的第一基准测量值和第二激光位移传感器基于第二基准面反馈的第二基准测量值；同步控制第一激光位移传感器和第二激光位移传感器移动，实时获取第一激光位移传感器反馈的第一初始测量值和第二激光位移传感器反馈的第二初始测量值；根据第一初始测量值是否位于第一测量范围内确定第一移动距离以及第一测量值；根据第二初始测量值是否位于第二测量范围内确定第二移动距离以及第二测量值；计算被测物体的厚度。本发明专利技术实施例提供的技术方案可以非接触测量，并且可以直接获得被测物体测量点厚度。

【技术实现步骤摘要】
一种厚度测量方法、装置、设备及存储介质
本专利技术实施例涉及厚度测量
，尤其涉及一种厚度测量方法、装置设备及存储介质。
技术介绍
飞机蒙皮是指包围在飞机骨架结构外且用粘接剂或铆钉固定于骨架上，形成飞机气动力外形的维形构件。在现代飞机铆接装配过程中，飞机蒙皮的表面质量(例如，强度高、塑性好、表面光滑以及较高的抗腐蚀能力)和厚度是影响铆接质量的一项重要技术指标，而铆接质量的好坏则直接影响到飞机的气动性能，燃油经济性，疲劳寿命和安全性，因此，飞机蒙皮的表面质量和厚度在在飞机装配制造过程中极其重要。目前，现有技术中已经具有有效的解决方案使得飞机蒙皮的表面质量达到要求，但是对于飞机蒙皮的厚度，由于飞机蒙皮外形复杂，因此很难对飞机蒙皮厚度进行测量。现阶段，通常是利用接触式传感器进行测量，但是利用接触式传感器，只能获得测量点的坐标而不能够直接测量到飞机蒙皮的厚度，且容易划伤飞机蒙皮表面，影响飞机的气动性。
技术实现思路
本专利技术提供一种厚度测量方法、装置、设备及存储介质，以实现非接触测量以及直接获取被测物体测量点厚度。第一本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种厚度测量方法，其特征在于，包括：/n获取第一激光位移传感器基于第一基准面反馈的第一基准测量值和第二激光位移传感器基于第二基准面反馈的第二基准测量值；其中，所述第一基准测量值在所述第一激光位移传感器的第一测量范围内，所述第二基准测量值在所述第二激光位移传感器的第二测量范围内；/n同步控制所述第一激光位移传感器和所述第二激光位移传感器移动，实时获取所述第一激光位移传感器反馈的第一初始测量值和所述第二激光位移传感器反馈的第二初始测量值；/n根据所述第一初始测量值是否位于所述第一测量范围内确定所述第一激光位移传感器沿第一方向的第一移动距离以及所述第一激光位移传感器基于所述第一移动距离反馈的第一...

【技术特征摘要】
1.一种厚度测量方法，其特征在于，包括：
获取第一激光位移传感器基于第一基准面反馈的第一基准测量值和第二激光位移传感器基于第二基准面反馈的第二基准测量值；其中，所述第一基准测量值在所述第一激光位移传感器的第一测量范围内，所述第二基准测量值在所述第二激光位移传感器的第二测量范围内；
同步控制所述第一激光位移传感器和所述第二激光位移传感器移动，实时获取所述第一激光位移传感器反馈的第一初始测量值和所述第二激光位移传感器反馈的第二初始测量值；
根据所述第一初始测量值是否位于所述第一测量范围内确定所述第一激光位移传感器沿第一方向的第一移动距离以及所述第一激光位移传感器基于所述第一移动距离反馈的第一测量值；根据所述第二初始测量值是否位于所述第二测量范围内确定所述第二激光位移传感器沿所述第一方向的第二移动距离以及所述第二激光位于传感器基于所述第二移动距离反馈的第二测量值；
根据所述第一测量值、第二测量值、第一移动距离、第二移动距离、第一基准测量值、第二基准测量值以及沿第一方向所述第一基准面和第二基准面之间的距离计算被测物体的厚度；
其中，所述第一基准面和所述第二基准面平行；所述第一方向垂直于所述第一基准面。


2.根据权利要求1所述的厚度测量方法，其特征在于，
所述根据所述第一初始测量值是否位于所述第一测量范围内确定所述第一激光位移传感器沿所述第一方向的第一移动距离以及所述第一激光位移传感器基于所述第一移动距离反馈的第一测量值，包括：
当所述第一初始测量值超出所述第一测量范围时，沿所述第一方向，控制所述第一激光位移传感器移动，直至所述第一激光位移传感器反馈的第一初始测量值在所述第一测量范围内；确定所述第一激光位移传感器沿所述第一方向的移动距离为第一移动距离，并确定所述第一激光位移传感器基于所述第一移动距离反馈的第一初始测量值为第一测量值；
当所述第一初始测量值位于所述第一测量范围内时，确定所述第一移动距离为零，并确定所述第一初始测量值为第一测量值；
所述根据所述第二初始测量值是否位于所述第二测量范围内确定所述第二激光位移传感器沿所述第一方向的第二移动距离以及所述第二激光位于传感器基于所述第二移动距离反馈的第二测量值，包括：
当所述第二初始测量值超出所述第二测量范围时，沿所述第一方向，控制所述第二激光位移传感器移动，直至所述第二激光位移传感器反馈的第二初始测量值在所述第二测量范围内；确定所述第二激光位移传感器沿所述第一方向的移动距离为第二移动距离，并确定所述第二激光位移传感器基于所述第二移动距离反馈的第二初始测量值为第二测量值；
当所述第二初始测量值位于所述第二测量范围内时，确定第二移动距离为零，并确定所述第二初始测量值为第二测量值。


3.根据权利要求2所述的厚度测量方法，其特征在于，所述当所述第一初始测量值超出所述第一测量范围时，沿所述第一方向，控制所述第一激光位移传感器移动，直至所述第一激光位移传感器反馈的第一初始测量值在所述第一测量范围内包括：
当所述第一初始测量值超出所述第一测量范围时，沿所述第一方向，控制所述第一激光位移传感器以第一步进距离为单位移动，直至所述第一激光位移传感器反馈的第一初始测量值在所述第一测量范围内；
其中，所述第一测量范围包括第一边界值h1和第二边界值h2，h1<h2，所述第一步进距离为所述第一边界值h1和所述第二边界值h2之差。


4.根据权利要求2所述的厚度测量方法，其特征在于，所述当所述第二初始测量值超出所述第二测量范围时，沿所述第一方向，控制所述第二激光位移传感器移动，直至所述第二激光位移传感器反馈的第二初始测量值在所述第二测量范围内包括：
当所述第二初始测量值超出所述第二测量范围时，沿所述第一方向，控制所述第二激光位移传感器以第二步进距离为单位移动，直至所述第二激光位移传感器反馈的第二初始测量值在所述第二测量范围内；
其中，所述第二测量范围包括第三边界值h3和第四边界值h4，h3<h4，所述第二步进距离为所述第三边界值h3和所述第四边界值h4之差。


5.根据权利要求1所述的厚度测量方法，其特征在于，所述获取第一激光位移传感器基于第一基准面反馈的第一基准测量值和第二激光位移传感器基于第二基准面反馈的第二基准测量值之前，还包括：
控制所述第一激光位移传感器或所述第二激光位移传感移动，以使所述第一激光位移传感器发射的第一激光束的光斑和所述第二激光位移传感器发射的第二激光束的光斑重合；
将已知厚度的参照物体置于所述第一激光位移传感器和所述第二激光...

【专利技术属性】
技术研发人员：袁益楚，张烘州，黄志斌，何方舟，张习芳，
申请(专利权)人：上海飞机制造有限公司，
类型：发明
国别省市：上海;31