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一种用于分散相含率检测的扫频超声衰减测量方法技术

技术编号:26844092 阅读:23 留言:0更新日期:2020-12-25 13:04
本发明专利技术涉及一种用于分散相含率检测的扫频超声衰减测量方法,所述的扫频超声衰减为扫频超声在分散流中透射后的衰减,其特征在于:分散相对超声的散射影响位于MIE散射区,通过解调扫频超声得到多频超声衰减,基于超声衰减机理,反演计算分散流相含率。

【技术实现步骤摘要】
一种用于分散相含率检测的扫频超声衰减测量方法
本专利技术属于流体测量
,涉及一种扫频超声衰减测量方法,用于分散相粒径大的两相分散流中相含率的非侵入式测量。
技术介绍
分散流广泛存在于石油、化工等领域,是现代工业生产中的常见流动状态,实现其流动参数的准确测量是工业现代化发展的必然趋势。相含率作为分散流的重要过程参数,反映了分散流流动过程中分散相在总流体中所占比例,对相含率的准确、实时测量是监控生产过程、提高生产效率、保证生产安全的重要环节,具有重要的科学意义和工程价值。针对相含率的检测,测量方法主要有筛分法,沉降法、显微镜法、电感应法(库尔特法)、基于光学的衍射和散射测量方法以及超声法等。筛分法与沉降法受测量原理的限制,只能应用在液固分散流中;显微镜法受分辨距离的限制,只能应用于分散相含率低的流体中。但由于显微镜法不采用相关的“物理特性”来度量颗粒大小,而直接测量颗粒的绝对几何尺寸,故常用于粒径的检验与标定;电感应法区分于上述测量方法,无需取样测量,通过对单个流过孔口的颗粒进行测量,精确统计出所测颗粒的个数,实现真正意义上的计数统计本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于分散相含率检测的扫频超声衰减测量方法,所述的扫频超声衰减为扫频超声在分散流中透射后的衰减,其特征在于:分散相对超声的散射影响位于MIE散射区,通过解调扫频超声得到多频超声衰减,基于超声衰减机理,反演计算分散流相含率,包括以下步骤:/n(1)采集在分散流中透射后的超声信号r

【技术特征摘要】
1.一种用于分散相含率检测的扫频超声衰减测量方法,所述的扫频超声衰减为扫频超声在分散流中透射后的衰减,其特征在于:分散相对超声的散射影响位于MIE散射区,通过解调扫频超声得到多频超声衰减,基于超声衰减机理,反演计算分散流相含率,包括以下步骤:
(1)采集在分散流中透射后的超声信号rc(t),具体为:超声传感器在测量区域的两侧正对放置,一个超声传感器用于超声信号的激励,另一个超声传感器用于超声信号的接收。其中,超声传感器的激励信号ec(t)为线性调频信号,即



其中,t为时间,fb为激励信号的起始频率,B为扫频信号的带宽,T为扫频信号的持续时间;
(2)解调采集的透射超声信号rc(t),将透射超声信号rc(t)解调为多个单频接收调制信号rd(t),解调方法为:



其中,IFFT为反傅里叶变换的运算,ω为对应频率超声的角频率,Ec(ω)为激励信号ec(t)的傅里叶变换,Rc(ω)为接收信号rc(t)的傅里叶变换,Ed(ω)为激励调制信号ed(t)的傅里叶变换,ed(t)表示为:



式中,P0为超声的振幅,fi为第i个超声频率,n为正整数,取值范围为3~5;
(3),计算测量的超声衰减



其中,为第i个频率下测量的超声衰减,d为两个超声传感器之间的距离,Vm(fi)为接收调制信号rd(t)对应频率fi处的幅值,Ve(fi)为激励调制信号ed(t)对应频率fi处的幅值;
(4),利用测量的超声衰减基于混合最优化的方法,反演分散相含率,分散相含率的反演过程如下:
①.将分散相含率的反演计算转化为一个最优化问题,即:



其中,Obj为目标值,为第i个频率下理论的超声衰减;其中,理论的超声衰减的计算如下



其中,衰减系数矩阵Ai,j为对应的分散相半径与超声频率下的衰减系数矩阵;pj为第j个分散相半径Rj时的分散相含率,该参数为待求解量,其中,衰减系数矩阵Ai,j表示为,



其中,aij为对应第i个频率和第j个分散相半径时的衰减系数,M代表超声频率的总数,N代表划分的粒径总数;
衰减系数aij为多个衰减机理的融合计算得到的,由散射衰减系数asij、吸收衰减系数aaij、多重散射系数atij,衰减系数aij计算得到:



其中,为调节权重,取值范围为0~1,调节依据分散相的物理性质参数,三种衰减系数的计算如下:
散射衰减系数asij由BLBL理论计算得到;
吸收衰减系数aaij由McClements理论计算得到;
多重散射系数atij由Waterman&Truell...

【专利技术属性】
技术研发人员:谭超于晗董峰
申请(专利权)人:天津大学
类型:发明
国别省市:天津;12

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