试样解析系统、试样解析装置以及试样解析方法制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种试样解析系统、试样解析装置以及试样解析方法。物质信息DB(50)存储预先被制作成数据库的多个物质的信息。关联物质名称DB(60)存储规定的类型(石棉、粘土矿物等)中包括的多个关联物质的名称。处理装置(30)构成为：从物质信息DB(50)中存储的多个物质的信息中提取具有关联物质名称DB(60)中存储的关联物质的名称的物质的信息，通过将X射线衍射装置(10)的测定结果与被提取的该物质信息进行对照，来进行试样的定性分析。

【技术实现步骤摘要】
试样解析系统、试样解析装置以及试样解析方法
本公开涉及一种试样解析系统、试样解析装置以及试样解析方法。
技术介绍
在对试样照射X射线并利用X射线的衍射现象对试样的构成元素进行分析的X射线衍射(XRD：X-RayDiffraction)法中，已知一种将多晶体作为试样进行处理的粉末X射线衍射法。在粉末X射线衍射的定性分析中，通过将对试样照射X射线而实际测量出的衍射图案与预先被制作成数据库的已知物质的衍射图案进行比较，来进行试样中含有的物质的鉴定。具体而言，在将横轴设为衍射角2θ、将纵轴设为衍射强度I的试样的衍射图案中，使用布拉格式(2d×sinθ＝nλ，d：光栅面间隔，λ：入射X射线的波长，n：整数)，将衍射强度I的峰位置2θ换算为d值，由此能够与已知物质的d值进行比较。在物质的鉴定中，经常使用所谓的哈那瓦特法(三强线法)。哈那瓦特法(三强线法)是如下一种方法：选择三个与相对于具有最大强度的峰来说强度为前三名的相对强度对应的d值(三强线)，将所选择出的d值以及相对强度的比率等的一致率高的物质作为要被鉴定的物质的候选。已知物质本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种试样解析系统，具备：/nX射线衍射装置；以及/n解析装置，其构成为基于由所述X射线衍射装置测定出的衍射X射线来进行试样的定性分析，/n其中，所述解析装置包括：/n第一存储部，其存储预先被制作成数据库的多个物质的信息；/n第二存储部，其存储规定的类型中包括的多个关联物质的名称；以及/n处理装置，其构成为：从存储在所述第一存储部中的多个物质的信息中提取具有存储在所述第二存储部中的关联物质的名称的物质的信息，通过将所述X射线衍射装置的测定结果与被提取的该物质的信息进行对照，来进行所述试样的定性分析。/n

【技术特征摘要】
20190605 JP 2019-1056521.一种试样解析系统，具备：
X射线衍射装置；以及
解析装置，其构成为基于由所述X射线衍射装置测定出的衍射X射线来进行试样的定性分析，
其中，所述解析装置包括：
第一存储部，其存储预先被制作成数据库的多个物质的信息；
第二存储部，其存储规定的类型中包括的多个关联物质的名称；以及
处理装置，其构成为：从存储在所述第一存储部中的多个物质的信息中提取具有存储在所述第二存储部中的关联物质的名称的物质的信息，通过将所述X射线衍射装置的测定结果与被提取的该物质的信息进行对照，来进行所述试样的定性分析。


2.根据权利要求1所述的试样解析系统，其特征在于，
所述类型是石棉关联物质；
所述第二存储部存储被分类为石棉的物质的名称。


3.根据权利要求1所述的试样解析系统，其特征在于，
所述类型是粘土矿物，
所述第二存储部存储被分类为粘土矿物的物质的名称。


4.根据权利要求1至3中的任一项所述的试样解析系统，其特征在于，
所述处理装置构成为：向利用者通知所述第二存储部中存储的多个关联物质的名称，...

【专利技术属性】
技术研发人员：铃木桂次郎，冈本康之，
申请(专利权)人：株式会社岛津制作所，
类型：发明
国别省市：日本;JP