利用可聚焦X射线反向散射检测器的非破坏性检查方法、系统和装置制造方法及图纸

本发明专利技术的发明专利技术名称为利用可聚焦X射线反向散射检测器的非破坏性检查方法、系统和装置。公开了通过采用柔性、可变形且柔性X射线反向散射检测器来产生目标的X射线反向散射图像的方法、装置和系统，所述检测器包括包含闪烁喷射印刷墨的闪烁材料层。

【技术实现步骤摘要】
利用可聚焦X射线反向散射检测器的非破坏性检查方法、系统和装置
本公开总体上涉及检查系统和方法的领域，包括非破坏性检查系统和方法。更具体地，本公开的方面涉及用于利用X射线反向散射检测系统和方法来间接地检测来自对象(物体，object)的X射线的方法、装置和系统。
技术介绍
用于评估基底(substrates)的非破坏性检查系统已在工业中发现了实用性，例如，其中在不进行大量劳动或不进行部分或完全破坏部件或基底材料的情况下，进入(access)需要日常维护和检查的各种部件和基底材料可能难以实现。X射线是一种形式的电磁辐射，通常具有0.01到10纳米范围的波长，对应于30皮赫兹(petahertz)到30埃赫兹(exahertz)(3×1016Hz到3×1019Hz)范围的频率和100eV到100keV范围的能量。X射线反向散射系统是一种利用X射线的间接检测来检查目标对象的X射线成像系统。X射线反向散射系统通常包括X射线管、准直仪和检测器。X射线管产生并发射X射线。准直仪利用基本上平行于指定方向传播(行进，travel)的X射线的一部分本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于非破坏性地检查目标的方法(100)(200)，所述方法包括：/n将非破坏性X射线反向散射检测装置(10)(30)定位(102)到目标(18)(38)近侧，所述目标具有目标表面(18a)(38a)，所述目标表面具有目标表面几何形状，所述X射线反向散射装置包括：/n被配置以发射X射线束(13)(33)的X射线辐射源(12)(32)，所述X射线束(13)(33)被配置以至少部分地穿透所述目标表面；/n与所述X射线辐射源通信的准直仪(14)(34)，所述准直仪被配置以利用由所述X射线辐射源发射的X射线辐射的一部分来形成束；/n柔性X射线反向散射检测器(20)(40)，所述柔性X射线反向散射...

【技术特征摘要】
20190522 US 16/419,2931.一种用于非破坏性地检查目标的方法(100)(200)，所述方法包括：
将非破坏性X射线反向散射检测装置(10)(30)定位(102)到目标(18)(38)近侧，所述目标具有目标表面(18a)(38a)，所述目标表面具有目标表面几何形状，所述X射线反向散射装置包括：
被配置以发射X射线束(13)(33)的X射线辐射源(12)(32)，所述X射线束(13)(33)被配置以至少部分地穿透所述目标表面；
与所述X射线辐射源通信的准直仪(14)(34)，所述准直仪被配置以利用由所述X射线辐射源发射的X射线辐射的一部分来形成束；
柔性X射线反向散射检测器(20)(40)，所述柔性X射线反向散射检测器被配置以响应于所述束遇到所述目标来检测所形成的X射线反向散射，所述X射线反向散射检测器包括：
柔性X射线反向散射检测器基底(20a)(40a)；和
至少一层的X射线闪烁材料(22)(42)，所述X射线闪烁材料的层被配置以基本上覆盖所述柔性X射线反向散射检测器基底；
将所述X射线反向散射检测器定向(104)成预定的检测器几何形状，所述预定的几何形状基本上接近所述目标表面几何形状；
向所述目标发射(106)X射线束；和扫描(108)所述X射线束。


2.权利要求1所述的方法，其还包括：
间接检测(110)所述X射线闪烁材料上的X射线反向散射。


3.权利要求1或2所述的方法，其还包括：
响应于在所述X射线闪烁材料上检测到的X射线反向散射来产生图像(112)数据；
利用所述图像数据形成(116)目标图像；和...

【专利技术属性】
技术研发人员：M·萨法伊，
申请(专利权)人：波音公司，
类型：发明
国别省市：美国;US