SC检测电路制造技术

本实用新型专利技术公开了SC检测电路，包括第一电平信号输入端，第一驱动模块，第一开关模块，第二电平信号输入端，第二驱动模块，第二开关模块，检测模块，第一输出端，及第二输出端。本实用新型专利技术使得随着绝缘栅双极型晶体管Q2输出电流的增大，逆变输出信号的电压也会增大，当电压增大到使可控精密稳压源U4的参考极电压为2.5V时，可控精密稳压源U4的阴极输出低电平，光电耦合器U3导通，

【技术实现步骤摘要】
SC检测电路
本技术涉及SC检测
，更具体地说是指SC检测电路。
技术介绍
目前行业在逆变电路驱动下桥电路中，广泛采用带检测的光耦(如:ACPL-330J)，相对单一的驱动光耦，其成本偏高，特别当只是部分损坏时，维修成本更大，无法满足需求。
技术实现思路
本技术的目的在于克服现有技术的缺陷，提供SC检测电路。为实现上述目的，本技术采用以下技术方案：SC检测电路，包括第一电平信号输入端，第一驱动模块，第一开关模块，第二电平信号输入端，第二驱动模块，第二开关模块，检测模块，第一输出端，及第二输出端；所述第一电平信号输入端和第二电平信号输入端均与第一驱动模块，及第二驱动模块连接，所述第一开关模块与第一驱动模块，检测模块，及第一输出端连接，所述第二开关模块与第二驱动模块，检测模块，及第一输出端连接，所述第二驱动模块还与检测模块连接，所述第一输出端还与检测模块连接，所述第二输出端与检测模块连接。其进一步技术方案为：所述第一驱动模块包括电源输入端，驱动光电耦合器U1，电阻R1，电阻R2，电阻R3，电容C1，及瞬态抑制二极管DZ1；所述第一电平信号输入端与驱动光电耦合器U1的2脚连接，第二电平信号输入端与电阻R2的1脚连接，电阻R2的2脚与驱动光电耦合器U1的3脚连接，驱动光电耦合器U1的8脚与电源输入端的正极连接，驱动光电耦合器U1的5脚与电源输入端的负极连接，驱动光电耦合器U1的6脚和7脚与电阻R1的1脚连接，电阻R1的2脚与电阻R3的1脚，电容C1的1脚，瞬态抑制二极管DZ1的阴极，及第一开关模块连接，电阻R3的2脚，电容C1的2脚，及瞬态抑制二极管DZ1的阳极接地。其进一步技术方案为：所述第一开关模块为绝缘栅双极型晶体管Q1，所述绝缘栅双极型晶体管Q1的栅极与电阻R1的2脚连接，绝缘栅双极型晶体管Q1的发射极与电池的正极连接，绝缘栅双极型晶体管Q1的集电极与所述检测模块，及第一输出端连接。其进一步技术方案为：所述第二驱动模块包括电压输入端，驱动光电耦合器U2，电阻R4，电阻R5，电阻R6，电容C2，及瞬态抑制二极管DZ2；所述第一电平信号输入端与电阻R6的2脚连接，电阻R6的1脚与驱动光电耦合器U1的3脚连接，第二电平信号输入端与驱动光电耦合器U2的2脚连接，驱动光电耦合器U2的8脚与电源输入端的正极连接，驱动光电耦合器U2的5脚与电源输入端的负极连接，驱动光电耦合器U2的6脚和7脚与电阻R4的1脚，及检测模块连接，电阻R4的2脚与电阻R5的1脚，电容C2的1脚，瞬态抑制二极管DZ2的阴极，及第二开关模块连接，电阻R5的2脚，电容C2的2脚，及瞬态抑制二极管DZ2的阳极接地。其进一步技术方案为：所述驱动光电耦合器U1和驱动光电耦合器U2的型号相同，均为TLP350H。其进一步技术方案为：所述第二开关模块为绝缘栅双极型晶体管Q2，所述绝缘栅双极型晶体管Q2的栅极与电阻R4的2脚连接，绝缘栅双极型晶体管Q2的集电极与电池的负极连接，绝缘栅双极型晶体管Q2的发射极与所述检测模块，及第一输出端连接。其进一步技术方案为：所述绝缘栅双极型晶体管Q1和绝缘栅双极型晶体管Q2的型号相同，均为KWBW40N120S3E1。其进一步技术方案为：所述检测模块包括电源，电阻R7，电阻R8，电阻R9，电阻R10，电阻R11，电阻R12，电阻R13，二极管D1，二极管D2，电容C3，电容C4，可控精密稳压源U4，及光电耦合器U3；所述电阻R7的2脚与驱动光电耦合器U2的6脚和7脚连接，电阻R7的1脚与二极管的阴极连接，二极管的阳极与电阻R8的1脚，电阻R12的1脚，及二极管D1的阳极连接；电阻R8的2脚与电源的正极连接，二极管D1的阴极与绝缘栅双极型晶体管Q1的集电极，绝缘栅双极型晶体管Q2的发射极，及第一输出端连接；电阻R12的2脚与电阻R13的1脚，电容C4的1脚，及可控精密稳压源U4的参考极连接，电阻R13的2脚，电容C4的2脚，及可控精密稳压源U4的阳极接地，可控精密稳压源U4的阴极与电阻R9的1脚，及光电耦合器U3的2脚连接，电阻R9的2脚与电源的正极，及电阻R10的2脚连接，电阻R10的1脚与光电耦合器U3的1脚连接，光电耦合器U3的3脚接地，光电耦合器U3的4脚与电阻R11的1脚，电容C3的1脚，及第二输出端连接，电阻R11的2脚与电源连接，电容C3的2脚接地。其进一步技术方案为：所述光电耦合器U3的型号为LTV-356T。其进一步技术方案为：所述第一电平信号输入端为PWM-信号；第二电平信号输入端为PWM+信号；第一输出端为逆变输出信号，用于接电机马达；第二输出端为检测输出信号；当PWM-信号和PWM+信为高电平时，驱动光电耦合器U1的6脚和7脚输出低电压，绝缘栅双极型晶体管Q1截止，驱动光电耦合器U2的6脚和7脚输出负压，绝缘栅双极型晶体管Q2截止，可控精密稳压源U4的参考极为负压，可控精密稳压源U4的阴极无电流通过，光电耦合器U3截止，此时检测输出信号为+5V高电平；当PWM-信号为高电平，PWM+信号为低电平时，驱动光电耦合器U1的6脚和7脚输出高电压，绝缘栅双极型晶体管Q1导通，驱动光电耦合器U2的6脚和7脚输出负压，绝缘栅双极型晶体管Q2截止，可控精密稳压源U4的参考极为负压，可控精密稳压源U4的阴极无电流通过，光电耦合器U3截止，此时检测输出信号为+5V高电平；当PWM-信号为低电平，PWM+信号为高电平时，驱动光电耦合器U1的6脚和7脚输出低电压，绝缘栅双极型晶体管Q1截止，驱动光电耦合器U1的6脚和7脚输出高电压，绝缘栅双极型晶体管Q2导通，随着绝缘栅双极型晶体管Q2输出电流的增大，逆变输出信号的电压也会增大，当电压增大到使可控精密稳压源U4的参考极电压为2.5V时，可控精密稳压源U4的阴极输出低电平，光电耦合器U3导通，检测输出信号为低电平，此时，输出故障信号。本技术与现有技术相比的有益效果是：使得随着绝缘栅双极型晶体管Q2输出电流的增大，逆变输出信号的电压也会增大，当电压增大到使可控精密稳压源U4的参考极电压为2.5V时，可控精密稳压源U4的阴极输出低电平，光电耦合器U3导通，检测输出信号为低电平，此时，输出故障信号，从而封锁屏蔽PWM的输出，保护绝缘栅双极型晶体管Q1和绝缘栅双极型晶体管Q2，降低了成本，且便于维护。上述说明仅是本技术技术方案的概述，为了能够更清楚了解本技术技术手段，而可依照说明书的内容予以实施，并且为了让本技术的上述和其他目的、特征及优点能够更明显易懂，以下特举较佳实施例，并配合附图，详细说明如下。附图说明图1为本技术SC检测电路的方框示意图；图2为本技术SC检测电路的具体电路图。具体实施方式为阐述本技术的思想及目的，下面将结合附图和具体实施例对本技术做进一步的说明。下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.SC检测电路，其特征在于，包括第一电平信号输入端，第一驱动模块，第一开关模块，第二电平信号输入端，第二驱动模块，第二开关模块，检测模块，第一输出端，及第二输出端；所述第一电平信号输入端和第二电平信号输入端均与第一驱动模块，及第二驱动模块连接，所述第一开关模块与第一驱动模块，检测模块，及第一输出端连接，所述第二开关模块与第二驱动模块，检测模块，及第一输出端连接，所述第二驱动模块还与检测模块连接，所述第一输出端还与检测模块连接，所述第二输出端与检测模块连接。/n

【技术特征摘要】
1.SC检测电路，其特征在于，包括第一电平信号输入端，第一驱动模块，第一开关模块，第二电平信号输入端，第二驱动模块，第二开关模块，检测模块，第一输出端，及第二输出端；所述第一电平信号输入端和第二电平信号输入端均与第一驱动模块，及第二驱动模块连接，所述第一开关模块与第一驱动模块，检测模块，及第一输出端连接，所述第二开关模块与第二驱动模块，检测模块，及第一输出端连接，所述第二驱动模块还与检测模块连接，所述第一输出端还与检测模块连接，所述第二输出端与检测模块连接。


2.根据权利要求1所述的SC检测电路，其特征在于，所述第一驱动模块包括电源输入端，驱动光电耦合器U1，电阻R1，电阻R2，电阻R3，电容C1，及瞬态抑制二极管DZ1；所述第一电平信号输入端与驱动光电耦合器U1的2脚连接，第二电平信号输入端与电阻R2的1脚连接，电阻R2的2脚与驱动光电耦合器U1的3脚连接，驱动光电耦合器U1的8脚与电源输入端的正极连接，驱动光电耦合器U1的5脚与电源输入端的负极连接，驱动光电耦合器U1的6脚和7脚与电阻R1的1脚连接，电阻R1的2脚与电阻R3的1脚，电容C1的1脚，瞬态抑制二极管DZ1的阴极，及第一开关模块连接，电阻R3的2脚，电容C1的2脚，及瞬态抑制二极管DZ1的阳极接地。


3.根据权利要求2所述的SC检测电路，其特征在于，所述第一开关模块为绝缘栅双极型晶体管Q1，所述绝缘栅双极型晶体管Q1的栅极与电阻R1的2脚连接，绝缘栅双极型晶体管Q1的发射极与电池的正极连接，绝缘栅双极型晶体管Q1的集电极与所述检测模块，及第一输出端连接。


4.根据权利要求3所述的SC检测电路，其特征在于，所述第二驱动模块包括电压输入端，驱动光电耦合器U2，电阻R4，电阻R5，电阻R6，电容C2，及瞬态抑制二极管DZ2；所述第一电平信号输入端与电阻R6的2脚连接，电阻R6的1脚与驱动光电耦合器U1的3脚连接，第二电平信号输入端与驱动光电耦合器U2的2脚连接，驱动光电耦合器U2的8脚与电源输入端的正极连接，驱动光电耦合器U2的5脚与电源输入端的负极连接，驱动光电耦合器U2的6脚和7脚与电阻R4的1脚，及检测模块连接，电阻R4的2脚与电阻R5的1脚，电容C2的1脚，瞬态抑制二极管DZ2的阴极，及第二开关模块连接，电阻R5的2脚，电容C2的2脚，及瞬态抑制二极管DZ2的阳极接地。


5.根据权利要求4所述的SC检测电路，其特征在于，所述驱动光电耦合器U1和驱动光电耦合器U2的型号相同，均为TLP350H。


6.根据权利要求4所述的SC检测电路，其特征在于，所述第二开关模块为绝缘栅双极型晶体管Q2，所述绝缘栅双极型晶体管Q2的栅极与电阻R4的2脚连接，绝缘栅双极型晶体管Q2的集电极与电池的负极连接，绝缘栅双极型晶体管Q2的发射极与所述检测模块，及第一输出端连接。


7.根据权利...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈鹏程，李勇，
申请(专利权)人：深圳市安邦信电子有限公司，
类型：新型
国别省市：广东;44