【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】图像传感器以及获取像素信息的方法和装置版权申明本专利文件披露的内容包含受版权保护的材料。该版权为版权所有人所有。版权所有人不反对任何人复制专利与商标局的官方记录和档案中所存在的该专利文件或者该专利披露。
本说明书涉及图像信号处理领域，并且更为具体地，涉及一种图像传感器、以及一种获取像素信息的方法和装置。
技术介绍
互补金属氧化物半导体图像传感器(complementarymetaloxidesemiconductorimagesensor，CIS)广泛用于消费电子、安防监控、工业自动化、人工智能、物联网等领域，用于图像数据的采集和整理，为后续应用提供信息源。但是，CIS在强光照射情况下会出现应该被显示为明亮的部分被显示为黑暗的情况。这种现象被称为太阳黑子(sunspot)现象。因此，如何消除或抑制太阳黑子现象成为值得研究的课题。
技术实现思路
本说明书提供一种图像传感器、以及一种获取像素信息的方法和装置，可以抑制太阳黑子。并且，能够基于参考电压的值对该参考电压进行钳位处理，动态调整...
【技术保护点】
1.一种图像传感器，其特征在于，包括：/n第一像素电路，用于输出第一参考电压和信号电压；/n读出电路，用于根据所述第一参考电压和所述信号电压确定像素信息；/n第一钳位电路，用于根据所述第一参考电压的值对所述第一参考电压进行钳位处理。/n
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种图像传感器，其特征在于，包括：
第一像素电路，用于输出第一参考电压和信号电压；
读出电路，用于根据所述第一参考电压和所述信号电压确定像素信息；
第一钳位电路，用于根据所述第一参考电压的值对所述第一参考电压进行钳位处理。
2.根据权利要求1所述的图像传感器，其特征在于，所述第一钳位电路具体用于：
在所述第一参考电压能够导致太阳黑子时，对所述第一参考电压进行钳位处理，使所述第一参考电压大于或等于预设电压；或者，
在所述第一参考电压不能导致太阳黑子时，去使能对所述第一参考电压的钳位功能。
3.根据权利要求1或2所述的图像传感器，其特征在于，所述图像传感器还包括：
第二钳位电路，用于对第二像素电路输出的第二参考电压进行钳位处理；其中，所述第二参考电压等于所述第一参考电压，所述第一钳位电路的输出电压与所述第二钳位电路的输出电压不同。
4.根据权利要求3所述的图像传感器，其特征在于，所述第二像素电路与所述第一像素电路为相邻的两个像素电路。
5.根据权利要求2至4中任一项所述的图像传感器，其特征在于，当所述第一钳位电路的输出电压高于所述第一参考电压时，所述第一钳位电路具体用于：
在所述第一参考电压不能导致太阳黑子时，减小所述第一钳位电路的输出电压。
6.根据权利要求5所述的图像传感器，其特征在于，所述第一钳位电路的输出电压小于或等于所述第一参考电压。
7.根据权利要求2至4中任一项所述的图像传感器，其特征在于，所述第一钳位电路包括开关，当所述第一钳位电路的输出电压高于所述第一参考电压时，所述第一钳位电路具体用于：
在所述第一参考电压不能导致太阳黑子时，关闭所述开关。
8.根据权利要求2至4中任一项所述的图像传感器，其特征在于，当所述第一钳位电路的输出电压低于所述第一参考电压时，所述第一钳位电路具体用于：
在所述第一参考电压能够导致太阳黑子时，增大所述第一钳位电路的输出电压。
9.根据权利要求8所述的图像传感器，其特征在于，所述第一钳位电路的输出电压大于或等于所述第一参考电压。
10.一种获取像素信息的方法，其特征在于，包括：
获取第一像素电路输出的第一参考电压和信号电压；
根据所述第一参考电压的值对所述第一参考电压进行钳位处理；
根据所述第一参考电压和所述信号电压确定像素信息。
11.根据权利要求10所述的方法，其特征在于，所述根据所述第一参考电压的值对所述第一参考电压进行钳位处理，包括：
当所述第一参考电压能够导致太阳黑子时，控制第一钳位电路对所述第一参考电压进行钳位处理，使所述第一参考电压大于或等于预设电压；或者，
当所述第一参考电压不能导致太阳黑子时，去使能第一钳位电路对所述第一参考电压的钳位功能。
12.根据权利要求10或11所述的方法，其特征在于，所述根据所述第一参考电压的值对所述第一参考电压进行钳位处理之前，所述方法还包括：
控制第二钳位电路对第二像素电路输出的第二参考电压进行钳位处理，其中，所述第二参考电压等于所述第一参考电压，所述第一钳位电路的输出电压与所述第二钳位电路的输出电压不同；
根据所述第一参考电压对应的光照强度和所述第二参考电压对应的光照强度确定所述第一参考电压能否导致太阳黑子。
13.根据权利要求12所述的方法，其特征在于，所述根据所述第一参考电压对应的光照强度和所述第二参考电压对应的光照强度确定所述第一参考电压能否导致太阳黑子，包括：
当所述第一参考电压对应的光照强度与所述第二参考电压对应的光照强度的差值大于或等于光照强度阈值时，确定所述第一参考电压能够导致太阳黑子；或者，
当所述第一参考电压对应的光照强度与所述第二参考电压对应的光照强度的差值小于光照强度阈值时，确定所述第一参考电压不能导致太阳黑子。
14.根据权利要求11至13中任一项所述的方法，其特征在于，所述第二像素电路与所述第一像素电路为相邻的两个像素电路。
15.根据权利要求11至14中任一项所述的方法，其特征在于，当所述第一钳位电路的输出电压高于所述第一参考电压时，所述去使能第一钳位电路对所述第一参考电压的钳位功能，包括：
减小所述第一钳位电路的输出电压。
16.根据权利要求15所述的方法，其特征在于，所述第一钳位电路的输出电压小于或等于所述第一参考电压。
17.根据权利要求11至14中任一项所述的方法，其特征在于，当所述第一钳位电路的输出电压高于所述第一参考电压时，所述去使能第一钳位电路对所述第一参考电压的钳位功能，包括：
关闭所述第一钳位电路的开关。
18.根据权利要求11至14中任一项所述的方法，其特征在于，当所述第一钳位电路的输出电压低于所述第一参考电压时，所述控制第一钳位电路对所述第一参考电压进行钳位处理，包括：
增大所述第一钳位电路的输出电压。
19.根据权利要求18所述的方法，其特征在于，所述第一钳位电路的输出电压大于或等于所述第一参考电压。
20.一种获取像素信息的装置，其特征在于，包括通信单元和处理单元，
所述通信单元用于：获取第一像素电路输出的第一参考电压和信号电压；
所述处理单元用于：根据所述第一参考电压的值对所述第一参考电压进行钳位处理；
根据所述第一参考电压和所述信号电压确定像素信息。
21.根据权利要求20所述的装置，其特征在于，所述处理单元具体用于：
在所述第一参考电压能够导致太阳黑子时，控制第一钳位电路对所述第一参考电压进行钳位处理，使所述第一参考电压大于或等于预设电压；或者，
在所述第一参考电压不能导致太阳黑子时，去使能第一钳位电路对所述第一参考电压的钳位功能。
22.根据权利要求20或21所述的装置，其特征在于，所述处理单元还用于：
控制第二钳位电路对第二像素电路输出的第二参考电压进行钳位处理，其中，所述第二参考电压等于所述第一参考电压，所述第一钳位电路的输出电压与所述第二钳位电路的输出电压不同；
根据所述第一参考电压对应的光照强度和所述第二参考电压对应的光照强度确定所述第一参考电压能否导致太阳黑子。
23.根据权利要求22所述的装置，其特征在于，所述处理单元具体用于：
当所述第一参考电压对应的光照强度与所述第二参考电压对应的光照强度的差值大于或等于光照强度阈值时，确定所述第一参考电压能够导致太阳黑子；或者，
当所述第一参考电压对应的光照强度与所述第二参考电压对应的光照强度的差值小于光照强度阈值时，确定所述第一参考电压不能导致太阳黑子。
24.根据权利要求21至23中任一项所述的装置，其特征在于，所述第二像素电路与所述第一像素电路为相邻的两个像素电路。
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【专利技术属性】
技术研发人员：徐泽，占世武，
申请(专利权)人：深圳市大疆创新科技有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44
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