一种鞋曲折位测量方法和装置制造方法及图纸

在本申请的实施例中，通过获取所述鞋的中轴线位置、所述鞋的内部长度值以及鞋后端的厚度值；根据所述鞋的中轴线位置和所述鞋后端的厚度值确定内部鞋后跟点位置，其中，所述鞋后端的厚度值为包裹脚后跟的保护材料的厚度数值；根据所述鞋的中轴线位置、所述内部鞋后跟点位置和所述鞋的内部长度值确定对应于所述鞋的曲折位置。通过确定鞋的外部鞋头、外部鞋后跟等关键点，使用测量仪测量出鞋的内部长度值，从而确定鞋的曲折位置，本申请适用不同尺寸和不同鞋型的鞋，使得鞋的曲折位置测量准确度提高，能够保证测试结果的有效性，并且具有普适性。

【技术实现步骤摘要】
一种鞋曲折位测量方法和装置
本专利技术涉及鞋曲折位测量
，特别是涉及一种鞋曲折位测量方法和装置。
技术介绍
鞋在长期的穿着过程中会受到不同程度的曲折，鞋在曲折过多时可能会出现外表面涂层脱落，起皱、开裂，鞋帮面和鞋底开胶，鞋底断裂等问题，从而影响产品质量及消费者的使用感受。为保证产品质量，对鞋子检测的时候都会用到成品鞋曲折的方法，即用夹具固定鞋前掌的曲折位置，再用活动夹具使后跟反复的以一定的角度做抬起再放下来的动作，即模仿人行走时脚的动作，以此来评估鞋的耐曲折性能，所以曲折位的位置评定就显得至关重要，如果曲折位判断有误，则会对评估产生一定的影响。目前对于鞋的曲折位置的测量多数是人工直接用直尺或卡尺测量出鞋底长度，对于一些内底无法直接测量的鞋型，则只能测量外底长度来确定鞋的曲折位置。但外底和内底长是不相同的，特别对于一些外底突出于帮面的鞋型，准确测量鞋的曲折位置具有一定的难度，并且存在一定的主观性，所以测试达不到统一标准，测试结果具有一定的偏差，准确度低。
技术实现思路
鉴于上述问题，提出了本专利技术实施例以便提供一种克服上述问题或者至少部分地解决上述问题的一种鞋曲折位测量方法和装置。为了解决上述问题，本专利技术实施例公开了一种鞋曲折位测量方法包括：获取所述鞋的中轴线位置、所述鞋的内部长度值以及鞋后端的厚度值；根据所述鞋的中轴线位置和所述鞋后端的厚度值确定内部鞋后跟点位置，其中，所述鞋后端的厚度值为包裹脚后跟的保护材料的厚度数值；根据所述鞋的中轴线位置、所述内部鞋后跟点位置和所述鞋的内部长度值确定对应于所述鞋的曲折位置。优选的，所述获取所述鞋的中轴线位置、所述鞋的内部长度值以及鞋后端的厚度值的步骤，包括：获取外部鞋后跟点位置和外部鞋头点位置，并根据所述外部鞋后跟点位置和所述外部鞋头点位置确定所述鞋的中轴线位置；将所述内部鞋后跟到内部鞋头的距离设置为所述鞋的内部长度值；获取所述内部鞋头到所述外部鞋后跟的距离，并将所述内部鞋头到所述外部鞋后跟的距离与所述鞋的内部长度值的差值设置为所述鞋后端的厚度值。优选的，所述根据所述鞋的中轴线位置和所述鞋后端的厚度值确定内部鞋后跟点位置的步骤，包括：将所述鞋后端的厚度值换算成内部鞋后跟点的坐标，并在所述中轴线位置上标记所述内部鞋后跟点位置。优选的，所述根据所述鞋的中轴线位置、所述内部鞋后跟点位置和所述鞋的内部长度值确定对应于所述鞋的曲折位置的步骤，包括：根据所述曲折位置确定所述鞋的曲折区域。为实现本申请还包括一种鞋曲折位测量装置，包括用于容置鞋的盒体、用于测量所述鞋的内部长度值和鞋后端的厚度值的测量仪；所述盒体包括用于标记所述鞋的中轴线位置的底板和用于限定所述鞋的位置的透明侧壁，所述透明侧壁垂直设置在所述底板四周；所述测量仪测量鞋后端的厚度值时通过所述鞋连接在所述盒体上方，所述测量仪包括筒状量尺和滑动安装于所述筒状量尺一端的滑动尺，所述滑动尺远离所述筒状量尺的一端垂直设有固定测量尺规，所述滑动尺上滑动连接有移动测量尺规。优选的，所述透明侧壁包括沿所述底板的长度方向相对设置的第一侧壁和第二侧壁、沿所述底板宽度方向相对设置的固定侧壁和用于使所述盒体适用不同尺寸鞋的移动侧壁，所述移动侧壁沿所述底板的长度方向可移动连接所述第一侧壁和所述第二侧壁。优选的，所述移动侧壁与所述第一侧壁的连接处和所述第二侧壁的连接处分别设有朝所述底板开口的凹槽，用于卡接所述第一侧壁和所述第二侧壁。优选的，所述移动侧壁和所述固定侧壁分别设有用于辅助标记的标记线，所述标记线靠近所述底板位置沿竖直方向设置。优选的，所述筒状量尺与所述滑动尺均蚀刻有相对应的刻度线。优选的，所述底板可替换设有标记纸。本申请具体包括以下优点：在本申请的实施例中，通过获取所述鞋的中轴线位置、所述鞋的内部长度值以及鞋后端的厚度值；根据所述鞋的中轴线位置和所述鞋后端的厚度值确定内部鞋后跟点位置，其中，所述鞋后端的厚度值为包裹脚后跟的保护材料的厚度数值；根据所述鞋的中轴线位置、所述内部鞋后跟点位置和所述鞋的内部长度值确定对应于所述鞋的曲折位置。通过确定鞋的外部鞋头、外部鞋后跟等关键点，使用测量仪测量出鞋的内部长度值，从而确定鞋的曲折位置，本申请适用不同尺寸和不同鞋型的鞋，使得鞋的曲折位置测量准确度提高，能够保证测试结果的有效性，并且具有普适性。附图说明图1是本专利技术的一种鞋曲折位测量方法实施例的步骤流程图；图2是本专利技术的一种鞋曲折位测量装置实施例的结构框图。具体实施方式为使本专利技术的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合附图和具体实施方式对本专利技术作进一步详细的说明。准确测量出鞋的曲折位置是为了评估鞋在不同环境中使用时鞋的前掌部位的耐曲折程度，鞋的曲折位置是人们走路时前掌弯曲的位置，即鞋的曲折位置。为保证产品质量，需要设有鞋的耐曲折测试，在进行所述鞋的耐曲折测试时采用待测试鞋曲折的方法，即采用夹具固定鞋的前掌部位的曲折位置，鞋后跟处采用活动夹具使后跟反复的以一定的角度做抬起再放下来的动作，即模仿使用者行走时对鞋的曲折，所述测试评估鞋的耐曲折性能，因此鞋的曲折位置的测量尤为重要，并对鞋的耐曲折测试产生一定的影响。参照图1，示出了本专利技术的一种鞋曲折位测量方法实施例的步骤流程图，具体可以包括如下步骤：步骤S100，获取所述鞋的中轴线位置、所述鞋的内部长度值以及鞋后端的厚度值。步骤S200，根据所述鞋的中轴线位置和所述鞋后端的厚度值确定内部鞋后跟点位置，其中，所述鞋后端的厚度值为包裹脚后跟的保护材料的厚度数值。步骤S300，根据所述鞋的中轴线位置、所述内部鞋后跟点位置和所述鞋的内部长度值确定对应于所述鞋的曲折位置。在本申请的实施例中，通过获取所述鞋的中轴线位置、所述鞋的内部长度值以及鞋后端的厚度值，并根据所述鞋的中轴线位置和所述鞋后端的厚度值确定内部鞋后跟点位置，其中，所述鞋后端的厚度值为包裹脚后跟的保护材料的厚度数值；根据所述鞋的中轴线位置、所述内部鞋后跟点位置和所述鞋的内部长度值确定对应于所述鞋的曲折位置。通过确定鞋的外部鞋头、外部鞋后跟等关键点，使用测量仪测量出鞋的内部长度值，从而确定鞋的曲折位置，本申请适用不同尺寸和不同鞋型的鞋，使得鞋的曲折位置测量准确度提高，能够保证测试结果的有效性，并且具有普适性。下面，将对本示例性实施例中一种鞋曲折测量方法作进一步的说明。如上述步骤S100所述，获取所述鞋的中轴线位置、所述鞋的内部长度值以及鞋后端的厚度值，具体地，获取所述鞋的中轴线位置为获取外部鞋后跟点位置和外部鞋头点位置，并根据所述外部鞋后跟点位置和所述外部鞋头点位置确定所述鞋的中轴线位置；获取所述鞋的内部长度值为获取所述内部鞋后跟到内部鞋头的距离设置为所述鞋的内部长度值；获取所述鞋后端的厚度值为获取所述内部鞋头到所述外部鞋后跟的距离，并将所述内部鞋头到所述外部鞋后跟的距离与所述鞋的本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种鞋曲折位测量方法，所述方法用于辅助鞋进行测试时确定鞋的前掌部位的曲折位置，其特征在于，包括：/n获取所述鞋的中轴线位置、所述鞋的内部长度值以及鞋后端的厚度值；/n根据所述鞋的中轴线位置和所述鞋后端的厚度值确定内部鞋后跟点位置，其中，所述鞋后端的厚度值为包裹脚后跟的保护材料的厚度数值；/n根据所述鞋的中轴线位置、所述内部鞋后跟点位置和所述鞋的内部长度值确定对应于所述鞋的曲折位置。/n

【技术特征摘要】
1.一种鞋曲折位测量方法，所述方法用于辅助鞋进行测试时确定鞋的前掌部位的曲折位置，其特征在于，包括：
获取所述鞋的中轴线位置、所述鞋的内部长度值以及鞋后端的厚度值；
根据所述鞋的中轴线位置和所述鞋后端的厚度值确定内部鞋后跟点位置，其中，所述鞋后端的厚度值为包裹脚后跟的保护材料的厚度数值；
根据所述鞋的中轴线位置、所述内部鞋后跟点位置和所述鞋的内部长度值确定对应于所述鞋的曲折位置。


2.根据权利要求1所述的鞋曲折位测量方法，其特征在于，所述获取所述鞋的中轴线位置、所述鞋的内部长度值以及鞋后端的厚度值的步骤，包括：
获取外部鞋后跟点位置和外部鞋头点位置，并根据所述外部鞋后跟点位置和所述外部鞋头点位置确定所述鞋的中轴线位置；
将内部鞋后跟到内部鞋头的距离设置为所述鞋的内部长度值；
获取所述内部鞋头到所述外部鞋后跟的距离，并将所述内部鞋头到所述外部鞋后跟的距离与所述鞋的内部长度值的差值设置为所述鞋后端的厚度值。


3.根据权利要求2所述的鞋曲折位测量方法，其特征在于，所述根据所述鞋的中轴线位置和所述鞋后端的厚度值确定内部鞋后跟点位置的步骤，包括：
将所述鞋后端的厚度值换算成内部鞋后跟点的坐标，并在所述中轴线位置上标记所述内部鞋后跟点位置。


4.根据权利要求1-3任一项所述的鞋曲折位测量方法，其特征在于，所述根据所述鞋的中轴线位置、所述内部鞋后跟点位置和所述鞋的内部长度值确定对应于所述鞋的曲折位置的步骤，包括：根据所述曲折位置确定所述鞋的曲折区域。


5.一种鞋曲折位...

【专利技术属性】
技术研发人员：徐彦鹏，
申请(专利权)人：深圳天祥质量技术服务有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44