具有改进的输入光学器件和组件布置的样品分析设备制造技术

本发明专利技术总体上涉及科学分析设备的组件。更特别地，本发明专利技术涉及诸如质谱仪的仪器，该仪器依赖于离子检测器及其修改，用于延长操作寿命或以其他方式改善性能。本发明专利技术可以实施为一种样品分析设备，其包括：离子源，其被配置成从输入到粒子检测设备中的样品产生离子；和离子检测器，其具有配置成接收从离子源产生的离子的输入端，其中样品分析设备被配置成使得与由离子源产生的离子混合并在与离子相同的大致方向上流动的污染物被抑制或阻止进入检测器输入端。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】具有改进的输入光学器件和组件布置的样品分析设备
本专利技术总体上涉及科学分析设备的组件。更特别地，本专利技术涉及诸如质谱仪的仪器，该仪器依赖于离子检测器及其修改，用于延长操作寿命或以其他方式改善性能。
技术介绍
在质谱仪中，分析物被电离形成一系列带电粒子(离子)。所得到的离子然后典型地通过加速和暴露于电场或磁场根据它们的质荷比被分离。分离的信号离子撞击离子检测器表面，以产生一个或多个二次电子。结果显示为作为质荷比函数的被检测离子的相对丰度的光谱。在其他应用中，待检测的粒子可能不是离子，并且可能是中性原子、中性分子或电子。在任何情况下，仍然提供粒子撞击的检测器表面。由输入粒子对检测器的撞击表面的撞击产生的二次电子典型地被电子倍增器放大。电子倍增器通常通过二次电子发射来操作，由此单个或多个粒子对倍增器撞击表面的撞击导致与撞击表面的原子相关联的单个或(优选地)多个电子被释放。一种类型的电子倍增器被称为离散倍增极电子倍增器。这种倍增器包括一系列称为倍增极的表面，系列中的每个倍增极被设置为越来越多的正电压。每个倍增极能够在来自从先本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种样品分析设备，包括：/n离子源，其被配置成从输入到粒子检测设备中的样品产生离子；和/n离子检测器，其具有配置成接收从所述离子源产生的离子的输入端，/n其中，所述样品分析设备被配置成使得与由所述离子源产生的离子混合并在与所述离子相同的大致方向上流动的污染物被抑制或阻止进入所述检测器输入端。/n

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】20180413 AU 20189012401.一种样品分析设备，包括：
离子源，其被配置成从输入到粒子检测设备中的样品产生离子；和
离子检测器，其具有配置成接收从所述离子源产生的离子的输入端，
其中，所述样品分析设备被配置成使得与由所述离子源产生的离子混合并在与所述离子相同的大致方向上流动的污染物被抑制或阻止进入所述检测器输入端。


2.根据权利要求1所述的样品分析设备，包括离子方向改变部件，所述离子方向改变部件被配置成改变由所述离子源产生并在远离所述离子源的方向上传送的离子的方向，方向上的所述改变足以将所述离子从所述污染物分离或者至少降低所述离子周围的空间中所述污染物的浓度。


3.根据权利要求2所述的样品分析设备，其中，所述离子方向改变部件用于偏转由所述离子源产生并在远离所述离子源的方向上传送的离子的路径。


4.根据权利要求3所述的样品分析设备，其中，所述偏转是由所述离子检测改变部件周围的电磁场的建立引起的。


5.根据权利要求1至4中任一项所述的样品分析设备，包括污染物流动方向改变部件，所述污染物流动方向改变部件被配置成改变与由所述离子源产生的离子混合的污染物的方向，方向上的所述改变足以使所述离子从载气流分离。


6.根据权利要求5所述的样品分析设备，其中，所述污染物流动方向改变部件形成污染物通过的屏障或部分屏障。


7.根据权利要求6所述的样品分析设备，其中，所述屏障或部分屏障定位在所述离子源和所述检测器之间，并且所述屏障或部分屏障被配置成允许由所述离子源产生的离子通过但是阻止或抑制污染物通过。


8.根据权利要求6或7所述的样品分析设备，其中，所述屏障或部分屏障用于将污染物偏转远离所述离子检测器输入端。


9.根据权利要求6至8中任一项所述的样品分析设备，其中，所述屏障或部分屏障包括不连续部，所述不连续部被配置成允许由所述离子源产生的离子通过但是阻止或抑制污染物通过。


10.根据权利要求6至9中任一项所述的样品分析设备，其中，所述屏障或部分屏障基本上专用于允许由所述离子源产生的离子通过...

【专利技术属性】
技术研发人员：S·尤雷克，K·宏特，
申请(专利权)人：艾德特斯解决方案有限公司，
类型：发明
国别省市：澳大利亚;AU