具有改善的性能和使用寿命的粒子检测器制造技术

本发明专利技术总体上涉及科学分析设备的组件。更特别地，本发明专利技术涉及一种离子检测器，其结合有电子倍增器及其修改，用于延长操作寿命或以其他方式改善性能。本发明专利技术可以实施为其中具有一个或多个电子发射表面和/或电子收集器表面的粒子检测器的形式，该粒子检测器被配置成使得在操作中(多个)电子发射表面和/或电子收集器表面周围的环境与紧邻检测器外部的环境不同。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】具有改善的性能和使用寿命的粒子检测器
本专利技术总体上涉及科学分析设备的组件。更特别地，本专利技术涉及一种离子检测器，其结合有电子倍增器及其修改，用于延长操作寿命或以其他方式改善性能。
技术介绍
在质谱仪中，分析物被电离形成一系列带电粒子(离子)。所得到的离子然后典型地通过加速和暴露于电场或磁场根据它们的质荷比被分离。分离的信号离子撞击离子检测器表面，以产生一个或多个二次电子。结果显示为作为质荷比函数的被检测离子的相对丰度的光谱。在其他应用中，待检测的粒子可能不是离子，并且可能是中性原子、中性分子或电子。在任何情况下，仍然提供粒子撞击的检测器表面。由输入粒子对检测器的撞击表面的撞击产生的二次电子典型地被电子倍增器放大。电子倍增器通常通过二次电子发射来操作，由此单个或多个粒子对倍增器撞击表面的撞击导致与撞击表面的原子相关联的单个或(优选地)多个电子被释放。一种类型的电子倍增器被称为离散倍增极电子倍增器。这种倍增器包括一系列称为倍增极的表面，系列中的每个倍增极被设置为越来越多的正电压。每个倍增极能够在来自从先前倍增极发射的二本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种其中具有一个或多个电子发射表面和/或电子收集器表面的粒子检测器，所述粒子检测器被配置成使得在操作中所述电子发射表面和/或所述电子收集器表面周围的环境与紧邻所述检测器外部的环境不同。/n

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】20180323 AU 20189009781.一种其中具有一个或多个电子发射表面和/或电子收集器表面的粒子检测器，所述粒子检测器被配置成使得在操作中所述电子发射表面和/或所述电子收集器表面周围的环境与紧邻所述检测器外部的环境不同。


2.根据权利要求1所述的粒子检测器，包括外壳，所述外壳被配置成有利于建立和/或保持(i)所述电子发射表面和/或所述电子收集器表面周围的所述环境和(ii)紧邻所述检测器外部的所述环境的差异。


3.根据权利要求2所述的粒子检测器，所述粒子检测器被配置成允许用户控制所述电子发射表面和/或所述电子收集器表面周围的所述环境，使得所述电子发射表面周围的所述环境不同于紧邻所述外壳外部的所述环境。


4.根据权利要求1至3中任一项所述的粒子检测器，其中，所述电子发射表面和/或所述电子收集器表面周围的环境在以下方面不同于紧邻所述外壳外部的所述环境：所述相应的环境中气体物类的存在、不存在或分压；和/或所述相应的环境中污染物物类的存在、不存在或浓度。


5.根据权利要求1至4中任一项所述的粒子检测器，所述粒子检测器被配置成与没有如此配置的现有技术的相似或其他方面相同的粒子检测器相比减少所述粒子检测器的真空传导率。


6.根据权利要求1至5中任一项所述的粒子检测器，所述粒子检测器被配置成操作使得从所述粒子检测器外部到内部和/或从所述粒子检测器内部到外部流动的气体不具有常规流体的流动特性。


7.根据权利要求1至6中任一项所述的粒子检测器，所述粒子检测器被配置成或包括用于降低所述粒子检测器内部的压力的部件。


8.根据权利要求7所述的粒子检测器，所述粒子检测器被配置成或包括用于降低所述粒子检测器内部的气体压力的部件，所述气体压力足以改变从所述粒子检测器外部到内部和/或从所述粒子检测器内部到外部流动的所述气体的流动特性。


9.根据权利要求2至8中任一项所述的粒子检测器，其中，所述外壳由单件材料形成。


10.根据权利要求2至9中任一项所述的粒子检测器，其中，所述外壳包括一个或多个不连续部，并且所述粒子检测器包括用于中断所述粒子检测器外部的气体流进入所述一个或多个不连续部中的一个或全部的部件。


11.根据权利要求10所述的粒子检测器，其中，所述一个或多个不连续部中的至少一个或者所述一个或多个不连续部中的全部其尺寸设计成限制或防止所述粒子检测器外部的气体进入所述粒子检测器。


12.根据权利要求10或权利要求11所述的粒子检测器，其中，所述一个或多个不连续部中的至少一个或者所述一个或多个不连续部中的全部定位在所述外壳上和/或相对于所述粒子检测器定向，以便限制或防止所述粒子检测器外部的气体进入所述粒子检测器。


13.根据权利要求10至12中任一项所述的粒子检测器，其中，所述一个或多个不连续部中的至少一个或者所述一个或多个不连续部中的全部具有与其相关联的气流屏障，所述气流屏障被配置成限制或防止所述粒子检测器外部的气体线性地进入所述粒子检测器。


14.根据权利要求13所述的粒子检测器，其中，所述气流屏障包括从所述不连续部的周边向外延伸的一个或多个壁。


15.根据权利要求13或权利要求14所述的粒子检测器，其中，所述气流屏障中的至少一个或所有所述气流屏障形成为具有在所述不连续部的远侧的开口的管，其中，在所述不连续部的远侧的所述开口定位在所述管上和/或相对于所述粒子检测器定向，以便限制或防止所述粒子检测器外部的气体进入所述粒子检测器。


16.根据权利要求1至15中任一项所述的粒子检测器，包括内部挡板。


17.根据权利要求16所述的粒子检测器，其中，所述内部挡板中断通过所述粒子检测器的视线。


18.根据权利要求1至17中任一项所述的粒子检测器，所述粒子检测器与离轴输入粒子光学设备功能关联，其中，所述离轴输入粒子光学设备被配置成抑制或防止气体在所述粒子检测器周围的停滞。


19.根据权利要求18所述的粒子检测器，其中，所述离轴粒子输入光学设备被配置成允许气...

【专利技术属性】
技术研发人员：R·尤雷克，K·宏特，
申请(专利权)人：艾德特斯解决方案有限公司，
类型：发明
国别省市：澳大利亚;AU