【技术实现步骤摘要】
一种孔径尺寸测量装置及测量方法
本专利技术属于机械加工领域，尤其涉及机械加工测量
技术介绍
孔径测量是长度计量技术的主要内容，对于孔的直径的测量，有直接测量、间接测量和综合测量等测量方法。直接测量是利用两点或三点定位，直接测量出孔径的方法，也是最常用的孔径测量方法，根据被测孔的精度等级尺寸和数量大小，可以采用能测孔径的通用长度测量工具，例如游标卡尺、万能比长仪等；也可采用专用孔径测量测量工具，例如内径千分尺、内径百分表、千分表等孔径测量仪。间接测量是先测量与孔径有关的函数，再换算出孔径尺寸的方法。综合测量是利用光滑塞规以通止法检验工件是否合格。针对孔径特别多的大批量测量要求，采用常规的测量方法存在操作过程比较复杂，测量容易出现误差等问题，难以满足测量需要。因此，设计一种能够简单、方便、快捷、精确的测量孔径尺寸大小的测量方法成为本领域需要解决的技术问题。
技术实现思路
本专利技术针对孔径特别多的大批量测量技术不足，设计并开发出了一种能够简单、方便、快捷、高精确的测量孔径尺寸大小的测量方法，...
【技术保护点】
1.一种孔径尺寸测量装置，其特征在于，包括测量块和测量杆，测量杆后部为手柄，测量杆中部设置有螺纹，至少三个测量块通过螺纹固定于测量杆上；所述测量块外径按被测量孔径的公差阶梯分布，且从前端向后依次增大。/n
【技术特征摘要】
1.一种孔径尺寸测量装置，其特征在于，包括测量块和测量杆，测量杆后部为手柄，测量杆中部设置有螺纹，至少三个测量块通过螺纹固定于测量杆上；所述测量块外径按被测量孔径的公差阶梯分布，且从前端向后依次增大。
2.根据权利要求1所述一种孔径尺寸测量装置，其特征在于，所述测量块外径按被测量孔径的公差等差分布。
3.根据权利要求1所述一种孔径尺寸测量装置，其特征在于，所述测量块外侧圆弧设有缺口。
4.一种孔径尺寸测量方法，步...
【专利技术属性】
技术研发人员：欧映鸿，孛正军，彭彩霞，王波，文琴，夏文涵，王元军，夏士伟，李天栋，雷光林，
申请(专利权)人：成都飞机工业集团有限责任公司，
类型：发明
国别省市：四川;51
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