光束诊断装置和方法制造方法及图纸

一种光束诊断装置，包括一组或更多组相干光纤束，其中相干光纤束的一端被布置以接收来自动态移动或静态光束的光学信息，相干光纤束的另外一端被布置以将光学信息传输到传感器阵列。来自传感器阵列的数据然后可以同时被分析系统获取并被分析以确定光纤束的一个或更多个特征。（*该技术在2024年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及光束诊断，尤其涉及利用相干光纤束以描述动态移动或静止光束特征的。
技术介绍
光束分析仪(beam profiler)或光束诊断装置被用于例如描述入射到激光器或LED打印机的打印平面上的光束的空间、时间、焦距和能量特征。此外，光束分析仪可以被用于描述用于缺陷扫描、条形码扫描或其它物理测量的激光扫描仪的光束特征。商业上可以获得诸如Photon公司制造的动态或移动光束用BeamPro或Dynamic BeamProfiler的光束诊断装置，如激光打印机中的装置。在这些装置中，激光打印机的激光头的光束直接用位于光学系统的焦平面上的CCD或面积传感器进行测量。可以用于光束分析仪系统中的示例传统光束分析头64显示在图7中，其显示了光束分析头64的两个视图。如图7中所示，光束分析头64包括沿着一直线布置的多个单独电荷耦合装置(CCD)或其它面积阵列传感器60。每个单独传感器60安装在例如可以被定位以接收来自打印头扫描线的光的安装台62上。图8示出了在图像平面20中沿着扫描线21的光束30的光栅扫描。例如，这样的光栅扫描表示激光打印头的光学输出。典型地，在光束30沿着扫描线21被光本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种光束诊断装置，包括：一组或更多组单独相干光纤束，每组相干光纤束包括一个或更多个单独光纤束，其中每个单独光纤束的第一端被定位以接收来自成像平面周围的一个或更多个光束的光学信息；以及相干光纤束的第二端被定位以将光学信 息传输到光学传感器，所述光学传感器能够同时检测从每个单独光纤束的第二端传输的光。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：杰弗里L格特曼，约翰M弗莱舍，
申请(专利权)人：沃顿有限公司，
类型：发明
国别省市：US[美国]