同步辐射压弯准直镜姿态的检测方法技术

本发明专利技术同步辐射压弯准直镜姿态的检测方法，是利用透镜和针孔产生一与同步辐射发散度相同的激光束，通过测量经压弯准直镜输出激光束的平行度，可将准直镜的位置、俯仰角度和镜面曲率皆调整到最佳。本发明专利技术的剪切干涉仪结构简单，可根据条纹图样判断光束的平行度，每一幅干涉条纹图样与准直镜的一种姿态对应，因而这种方法能确定准直镜表面各点反射Ｘ射线的整体效果。根据准直镜曲率半径大和输出光束口径小的特点，运用傅里叶光学中的空间频率合成原理，利用微小楔角剪切干涉条纹，对竖直口径为５ｍｍ光束，可以连续监测准直镜压弯的全过程。本发明专利技术提出的方法适用于测量波前曲率半径大竖直口径小的光束，不但精度高，而且具有实用价值。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及光学设备
，特别是一种。
技术介绍
图1为同步辐射硬X射线光束线的标准设计光路，其中准直镜、单色器和聚焦镜是三个主要光学元件。准直镜位于光源和单色器之间，其作用是将发散的同步辐射光尽可能地会聚成平行光，然后输送给单色器。从准直镜输入的光束的平行度越高，单色器输出光束的单色性就越好。因此，准直镜的姿态正确与否直接关系到光束线输出光束的质量。在同步辐射光束线安装调试中，准直镜姿态的检测是光束线调整中难度最大的一环。由于X射线不可见，准直镜在线调试时，往往花了相当长时间的摸索，还不能确定准直镜的最佳姿态。为了避免调光的盲目性，在线调试之前，先做离线检测和调试。目前国内外采用的准直镜调整方法都是局部测量，不能给出准直镜的某一姿态与输出光束平行度的整体关系，特别是选取的测量点不同，测量结果有较大误差。因此，需要一种方法确定准直镜姿态和输出光束平行度的关系，据此将准直镜调整到最佳姿态。其中，判断压弯镜最佳姿态的问题也就转化为在压弯方向上波前曲率半径的判定，当曲率半径达到无穷大时，压弯镜调整到了最佳姿态，输出光束的平行度最高。同时，通过对实验装置的简单调整，还可以用来判定准本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种同步辐射压弯准直镜姿态的检测方法，使用双棱镜剪切干涉仪进行，其特征在于：是利用透镜和针孔产生一与同步辐射发散度相同的激光束，通过测量经压弯准直镜输出激光束的平行度，可将准直镜的位置、俯仰角度和镜面曲率皆调整到最佳状态。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：郑欣，朱佩平，王寯越，国秀珍，冯晓冬，孙立娟，
申请(专利权)人：中国科学院高能物理研究所，
类型：发明
国别省市：11[中国|北京]