虚检判断方法及装置、存储介质、终端制造方法及图纸

技术编号:26693640 阅读:58 留言:0更新日期:2020-12-12 02:49
一种虚检判断方法及装置、存储介质、终端,虚检判断方法包括:计算输入至LDPC译码器的各个LLR软信息的平均互信息;计算所有LLR软信息中系统信息的长度;获取所述LDPC译码器的输出结果;至少在所述输出结果为全0比特时,根据所述平均互信息和/或所述系统信息的长度确定所述输出结果是否译码错误。本发明专利技术技术方案能够判断LDPC在译码过程中的虚检,保证码块的传输效率。

【技术实现步骤摘要】
虚检判断方法及装置、存储介质、终端
本专利技术涉及通信
,尤其涉及一种虚检判断方法及装置、存储介质、终端。
技术介绍
在新无线(NewRadio,NR)系统中,当低密度奇偶校验码(LowDensityParityCheckCode,LDPC)译码结果为全0比特时,该译码结果是可以通过LDPC校验和(ParityCheckSum,PCS)检测和码块(CodeBlock,CB)的循环冗余校验(CyclicRedundancyCheck,CRC)校验的。在基站端,一个传输块(TransmissionBlock,TB)内,在第一个CB会添加头(header)信息,第一个CB不会是全0比特,但是其余CB有可能是全0比特。若发端在某个CB发送的比特实际是全0比特,则LDPC译码输出全0就是正确的解码;否则发端在某个CB发送的比特不是全0比特,则LDPC译码输出全0就是虚检。但是,在虚检时,全0比特判断为译码正确,而且此时不存储对数似然比(LikelihoodRate,LLR)信息到混合自动重传请求(HybridAutomaticRepeatr本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种虚检判断方法,其特征在于,包括:/n计算输入至LDPC译码器的各个LLR软信息的平均互信息;/n计算所有LLR软信息中系统信息的长度;/n获取所述LDPC译码器的输出结果;/n至少在所述输出结果为全0比特时,根据所述平均互信息和/或所述系统信息的长度确定所述输出结果是否译码错误。/n

【技术特征摘要】
1.一种虚检判断方法,其特征在于,包括:
计算输入至LDPC译码器的各个LLR软信息的平均互信息;
计算所有LLR软信息中系统信息的长度;
获取所述LDPC译码器的输出结果;
至少在所述输出结果为全0比特时,根据所述平均互信息和/或所述系统信息的长度确定所述输出结果是否译码错误。


2.根据权利要求1所述的虚检判断方法,其特征在于,还包括:
如果确定输出结果是译码错误,则存储各个LLR软信息,以供下一次HARQ合并调用。


3.根据权利要求1所述的虚检判断方法,其特征在于,所述至少根据所述平均互信息确定所述输出结果是否译码错误包括:
如果所述平均互信息低于第一预设门限,则确定所述输出结果译码错误。


4.根据权利要求1所述的虚检判断方法,其特征在于,所述至少根据所述系统信息的长度确定所述输出结果是否译码错误包括:
如果所述系统信息的长度低于第二预设门限,则确定所述输出结果译码错误。


5.根据权利要求1所述的虚检判断方法,其特征在于,所述至少根据所述平均互信息和/或所述系统信息的长度确定所述输出结果是否译码错误包括:如果所述平均互信息低于第一预设门限,且所述系统信息的长度低于第二预设门限,则确定所述输出结果译码错误。


6.根据权利要求1所述的虚检判断方法,其特征在于,所述至少在所述输出结果为全0比特时,根据所述平均互信息和/或所述系统信息的长度确定所述输出结果是否译码错误包括:
判断所述输出结果是否为全0比特,以及判断码块的CRC校验是否通过;如果所述输出结果是全0比特且码块的CRC校验通过,则至少根据所述平均互信息和/或所述系统信息的长度确定所述输出结果是否译码错误。


7.根据权利要求1所述的虚检判断方法,其特征在于,所述计算输入至LDPC译...

【专利技术属性】
技术研发人员:蔡晓仲崇祥曾锦曾建富郭序峰苑红梨李俊强
申请(专利权)人:展讯通信上海有限公司
类型:发明
国别省市:上海;31

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