一种电阻测试电路制造技术

技术编号：26688384 阅读：17 留言：0更新日期：2020-12-12 02:35

本发明专利技术涉及电子测试领域，特别是涉及一种电阻测试电路，包括单片机、第一电容、第二电容、晶振、第三电阻、第四电阻、自检按键、测试按键和电源、第一电阻、第二电阻、红色LED灯、绿色LED灯、第一采样点、第二采样点、第一电源点、第二电源点、第一接入点和第二接入点。本发明专利技术具有成本低、适应广、效率高、准确度高、耗能低、精度高等有益效果。

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【技术实现步骤摘要】
一种电阻测试电路
本专利技术涉及电子测试领域，特别是涉及一种电阻测试电路。
技术介绍
电阻测试的目的是检验电阻阻值是否符合应用要求，电阻测试的作用是剔除不良品。目前，现有技术对电阻阻值的测试主要依靠欧姆定律；专利号：CN201310054770X专利名称：一种电阻测试电路专利号：CN201210273406.8专利名称：一种电阻测试电路以上为与本专利技术最接近的现有技术，它们存在以下技术缺陷：技术缺陷1、测试步骤复杂，测试功能模块较多，各个测试功能模块的成本都很高。技术缺陷2、测试过程对测试电源信号要求较高，测试电源信号必须无偏差，如果测试电源信号产生偏移，则会导致测试结果有较大的偏差，利用比如5V的电源进行测试，如果电源输出电压漂移到4V时会导致测试不准确，比如利用蓄电池作为测试电源时，随着电池电量的降低，测试会变得越来越不准确。技术缺陷3、测试速度慢，测试效率较低。技术缺陷4、测试过程对环境的温度要求较高，当环境温度发生较大变化，容易导致电源信号偏移，导致测试结果错误。技术缺陷5、现有技术难以发现和避免测试机的老化问题，测试机的老化会导致测试结果错误。综上所述，现有技术存在成本高、效率低、误差大、环境要求高、依赖标准源等技术问题，存在改进空间。
技术实现思路
1.技术方案为解决上述问题，本专利技术采用如下的技术方案。一种电阻测试电路，包括单片机(U1)、第一电容(C11)、第二电容(C21)、晶振(...

【技术保护点】
1.一种电阻测试电路，其特征在于：包括单片机（U1）、第一电容（C11）、第二电容（C21）、晶振（CRYSTAL）、第三电阻（R3）、第四电阻（R4）、自检按键（CS1）、测试按键（CS2）和电源（BAT1）、第一电阻（R1）、第二电阻（R2）、红色LED灯（D11）、绿色LED灯（D21）、第一采样点（C1）、第二采样点（C2）、第一电源点（V1）、第二电源点（V2）、第一接入点（IN1）和第二接入点（IN2）；/n第一电容（C11）第一端与地点（GND）相连，第一电容（C11）第二端与单片机（U1）第13引脚相连；/n第二电容（C21）第一端与地点（GND）相连，第二电容（C21）第二端与单片机（U1）第14引脚相连；/n晶振（CRYSTAL）第一端与第一电容（C11）第二端相连，晶振（CRYSTAL）第二端与第二电容（C1）第二端相连；/n第三电阻（R3）第一端与电源点（VCC）相连，第三电阻（R3）第二端与单片机（U1）第19引脚相连；/n第四电阻（R4）第一端与电源点（VCC）相连，第四电阻（R4）第二端与单片机（U1）第20引脚相连；/n电源（BAT1）的第一端与电源点（...

【技术特征摘要】
1.一种电阻测试电路，其特征在于：包括单片机（U1）、第一电容（C11）、第二电容（C21）、晶振（CRYSTAL）、第三电阻（R3）、第四电阻（R4）、自检按键（CS1）、测试按键（CS2）和电源（BAT1）、第一电阻（R1）、第二电阻（R2）、红色LED灯（D11）、绿色LED灯（D21）、第一采样点（C1）、第二采样点（C2）、第一电源点（V1）、第二电源点（V2）、第一接入点（IN1）和第二接入点（IN2）；
第一电容（C11）第一端与地点（GND）相连，第一电容（C11）第二端与单片机（U1）第13引脚相连；
第二电容（C21）第一端与地点（GND）相连，第二电容（C21）第二端与单片机（U1）第14引脚相连；
晶振（CRYSTAL）第一端与第一电容（C11）第二端相连，晶振（CRYSTAL）第二端与第二电容（C1）第二端相连；
第三电阻（R3）第一端与电源点（VCC）相连，第三电阻（R3）第二端与单片机（U1）第19引脚相连；
第四电阻（R4）第一端与电源点（VCC）相连，第四电阻（R4）第二端与单片机（U1）第20引脚相连；
电源（BAT1）的第一端与电源点（VCC）相连，电源（BAT1）的第二端与地点（GND）相连；
自检按键（CS1）的第一端与单片机（U1）的第19引脚相连,自检按键（CS1）的第二端与地点（GND）相连；
测试按键（CS2）的第一端与单片机（U1）的第20引脚相连,测试按键（CS2）的第二端与地点（GND）相连；
绿色LED灯（D21）的正极与节点DP1相连，绿色LED灯（D21）的负极与地点（GND）相连，红色LED灯（D11）的正极与节点DP2相连，红色LED灯（D11）的负极与地点（GND）相连；
第一电阻（R1）的第一端与第一采样点（C1）相连，第一电阻（R1）的第二端与第二采样点（C2）相连，第二电阻（R2）的第一端与第二采样点（C2）相连，第二电阻（R2）的第一端与第二电源点（V2）相连，第一电阻（R1）的第一端与第一接入点（IN1）相连，第一电源点（V1）与第二接入点（IN2）相连；
第一接入点（IN1）、第二接入点（IN2）用于接入被测电阻（RV1）或标准样品。

2.根据权利要求1所述的一种电阻测试电路，其特征在于：
单片机（U1）具有如下测试流程：
步骤a1、将第一电源点（V1）置为高电平，第二电源点（V2）置为低电平；
步骤a2、利用AD采样技术采集第一采样点（C1）的电压值，并将第一采样点（C1）的电压值保存到变量H1；利用AD采样技术采集第二采样点（C2）的电压值，并将第二采样点（C2）的电压值保存到变量D1；
步骤a3、第一电源点（V1）置为低电平，第二电源点（V2）置为高电平；
步骤a4、利用AD采样技术采集第一采样点（C1）的电压值，并将第一采样点（C1）的电压值保存到变量D2；利用AD采样技术采集第二采样点（C2）的电压值，并将第二采样点（C2）的电压值保存到变量H2；
步骤a5、调用单片机（U1）数学计算电路，进行如下数学公式的运算：
Y=|H2-H1|+|D2-D1|；
步骤a6、调用单片机（U1）判断Y的值是否小于允许的误差阈值，若Y的值小于允许的误差阈值，则表明待测电阻（RV1）...

【专利技术属性】
技术研发人员：彭亚林，
申请(专利权)人：杭州王之新创信息技术研究有限公司，
类型：发明
国别省市：浙江;33

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