一种基于背向散射互相关技术的纳米粒度仪及其检测方法技术

本发明专利技术公开一种基于背向散射互相关技术的纳米粒度仪及其检测方法，包括样品池、检测器、激光器、透镜组、第一～二数据采集卡以及控制单元，其中激光器发射的激光通过透镜组照射到样品池中的样品上，两个检测器同时接收样品的散射光，并分别通过第一～二数据采集卡将信号传输至控制单元；方法为：控制单元控制透镜组聚焦点位置在样品池中间位置处；检测器收集原始散射光信号；计算互相关曲线；找出最高曲线效率对应的位置点；控制单元移动透镜到最高曲线效率对应的位置点；进行互相关计算得到样品颗粒的扩散系数，通过斯托克斯爱因斯坦方程得到颗粒的粒径。本发明专利技术真正实现了对于高浓度高浊度样品的准确检测，并进一步增进了快相关计算能力。

【技术实现步骤摘要】
一种基于背向散射互相关技术的纳米粒度仪及其检测方法
本专利技术涉及一种纳米粒度仪，具体为一种基于背向散射互相关技术的纳米粒度仪及其检测方法。
技术介绍
纳米粒度仪基于动态光散射技术，使用一束激光照亮样品，通过光电检测器检测悬浮在液体中颗粒的布朗运动造成的散射光的波动。原始的散射光光强随时间的波动信号通过相关性计算得到体系的相关曲线，进而通过不同的数学模型，如累积法或者多指数法得到颗粒的粒径和粒径分布。通常来说，纳米粒度仪可以有效检测约1纳米至1000纳米粒径范围内的颗粒体系，具有测试速度快、范围宽、重复性及准确性好等特点，因此得到广泛应用。目前的纳米粒度仪广泛采用自相关技术，无法有效消除高浓度高浊度样品的多重光散射效应。多重光散射效应会造成检测到的粒径结果与真实值相比偏小，粒径分布与真实值相比变宽，这在大量使用的90度角纳米粒度仪中尤其严重。虽然近些年发展起来的非侵入式背散射技术NIBS可以一定程度上避免多重光散射技术，从而具备了检测高浓度高浊度样品的基本能力，但是这种被动的避免方式仍然不能从本质上消除多重光散射影响。<本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种基于背向散射互相关技术的纳米粒度仪，其特征在于：包括包括样品池、检测器、激光器、透镜组、第一～二数据采集卡以及控制单元，其中激光器发射的激光通过透镜组照射到样品池中的样品上，两个检测器同时接收样品的散射光，并分别通过第一～二数据采集卡将信号传输至控制单元。/n

【技术特征摘要】
1.一种基于背向散射互相关技术的纳米粒度仪，其特征在于：包括包括样品池、检测器、激光器、透镜组、第一～二数据采集卡以及控制单元，其中激光器发射的激光通过透镜组照射到样品池中的样品上，两个检测器同时接收样品的散射光，并分别通过第一～二数据采集卡将信号传输至控制单元。


2.根据权利要求1所述的基于背向散射互相关技术的纳米粒度仪，其特征在于：还具有微处理器，其信号输入端接收控制单元的指令，输出端输出控制信号接至马达控制回路中。


3.根据权利要求1所述的基于背向散射互相关技术的纳米粒度仪，其特征在于：两个检测器对称设置于激光器的入射激光光束两侧，分别通过光纤接收由透镜组捕捉到的样品散射光。


4.根据权利要求1所述的基于背向散射互相关技术的纳米粒度仪，其特征在于：所述透镜组通过透镜组支架安装于马达上。


5.根据权利要求1所述的基于背向散射互相关技术的纳米粒度仪，其特征在于：还具有切换挡片，安装于光纤支架和透镜组之间，切换挡片一端与电机输出轴连接。


6.根据权利要求1所述的基于背向散射互相关技术的纳米粒度仪的检测方法，其特征在于包括以下步骤：
1)控制单元控制马达移动，使透镜组聚焦点位置在样品池中间位置处；
2)通过检测器收集原始散射光信号；
3)计算互相关曲线，得到曲线效率并记录；
4)判断聚焦点位置是否距样品池壁为规定距离；
5)如果为规定...

【专利技术属性】
技术研发人员：李晓光，李晓旭，宁辉，刘岳强，陈权威，郑浩，孙健，
申请(专利权)人：丹东百特仪器有限公司，
类型：发明
国别省市：辽宁;21