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本发明公开一种基于背向散射互相关技术的纳米粒度仪及其检测方法，包括样品池、检测器、激光器、透镜组、第一～二数据采集卡以及控制单元，其中激光器发射的激光通过透镜组照射到样品池中的样品上，两个检测器同时接收样品的散射光，并分别通过第一～二数据采...
该专利属于丹东百特仪器有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过丹东百特仪器有限公司授权不得商用。

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