【技术实现步骤摘要】
用于检测细长织物主体中的异物的光学传感器装置
本专利技术涉及一种光学传感器装置，该光学传感器装置用于检测细长主体(特别是细长织物主体，诸如纱线)中的异物。这种类型的传感器例如用于质量控制和监视以检测细长主体中的污染物，诸如异种纤维或植物性物质。
技术介绍
US5414520和EP1508797描述了用于测量异物的光学传感器装置。他们建议使用布置在织物主体周围的两个光源和三个光检测器以便检测纱线中的异物。检测器中的至少一个用于测量透射光以便估计纱线的厚度，而另外的至少一个检测器用于检测从纱线反射的光。由于反射的光依赖于厚度以及污染物的存在，因此适当的处理可以减小信号的厚度依赖性。
技术实现思路
本专利技术要解决的问题是提供一种具有改进的可靠性的这种传感器装置。该问题通过权利要求1的传感器装置来解决。因此，用于检测细长主体(特别是细长织物主体)中的异物的光学传感器装置包括用于容纳细长主体的测量室。该传感器装置还包括多个光源以及多个光检测器。根据本专利技术，它们是：-布置在测量室的第一侧上的至少...
【技术保护点】
1.一种用于检测细长主体，特别是细长织物主体中的异物的光学传感器装置，包括：/n用于细长织物主体的测量室(10)，/n多个光源(30a-30c)，以及/n多个光检测器(32a-32c)，/n其中，存在：/n-布置在所述测量室(10)的第一侧上的至少两个光源(30a，30b)之间的至少一个光检测器(32a)，以及/n-布置在所述测量室(10)的第二侧上的至少两个光检测器(32b，32c)之间的至少一个光源(30c)，/n其中所述测量室(10)的所述第二侧与所述测量室(10)的所述第一侧相对。/n
【技术特征摘要】
20190606 EP 19178694.61.一种用于检测细长主体，特别是细长织物主体中的异物的光学传感器装置，包括：
用于细长织物主体的测量室(10)，
多个光源(30a-30c)，以及
多个光检测器(32a-32c)，
其中，存在：
-布置在所述测量室(10)的第一侧上的至少两个光源(30a，30b)之间的至少一个光检测器(32a)，以及
-布置在所述测量室(10)的第二侧上的至少两个光检测器(32b，32c)之间的至少一个光源(30c)，
其中所述测量室(10)的所述第二侧与所述测量室(10)的所述第一侧相对。
2.如权利要求1所述的光学传感器装置，其中所述光源(30a-30c)的数量等于所述光检测器(32a-32c)的数量。
3.如权利要求2所述的光学传感器装置，其中所述数量是奇数。
4.如前述权利要求中的任一项所述的光学传感器装置，其中光检测器(32a-32c)中的至少一个光检测器布置为与光源(30a-30c)中的一个光源相对，反之亦然，
并且特别地，其中每个光检测器与光源(30a-30c)中的一个光源相对布置，反之亦然。
5.如前述权利要求中的任一项所述的光学传感器装置，还包括支撑主体(14)，所述支撑主体(14)具有：
相对的第一侧和第二侧(18a，18b)以及横向延伸到所述第一侧和第二侧(18a，18b)的外围侧(20a-20d)，
形成所述测量室(10)并且在第一侧和第二侧(18a，18b)处开口的缝隙，以及
在所述测量室(10)和所述外围侧(20a-20d)之间延伸的光通道(26a-26f)，
其中所述光源(30a-30c)和所述光检测器(32a-32c)在所述外围侧(20a-20d)处交替布置在所述光通道(26a-26f)处。
6.如权利要求5所述的光学传感器装置，具有在所述支撑主体(14)的第一外围侧(20a)上的第一承载板(34a)和在所述支撑主体(14)的第二外围侧(20b)上的第二承载板(34b)，其中所述第二外围侧(20b)与所述第一外围侧(20a)相对，
其中在所述第一外围侧(20a)上的一个或多个光源和一个或多个光检测器(30a，30b，32a)安装到所述第一承载板(34a)，并且在所述第二外围侧(20b)上的一个或多个光源和一个或多个光检测器(30c，32b，32c)安装到所述第二承载板(34b)。
7.如权利要求6所述的光学传感器装置，其中所述承载板(34a，34b)
是印刷电路板，和/或
安装到支撑主体(14)，和/或
彼此平行。
8.如权利要求6或7中的任一项所述的光学传感器装置，其中在所述第一外围侧(20a)上所述光源(30a-30c)的数量更多，并且在所述第二外围侧(20b)上光检测器(32a-32c)的数量更多，其中所述光检测器(32a-32c)具有比所述光源(30a-30c)大的有...
【专利技术属性】
技术研发人员：S·耐奇提，A·凯尔，
申请(专利权)人：乐富兄弟股份公司，
类型：发明
国别省市：瑞士;CH
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