对分析测试元件上的样本进行分析的分析系统技术方案

本发明专利技术涉及一种对在分析测试元件（１６）上的样本进行分析的分析系统。该分析系统包括对在分析测试元件（１６）上的样本进行测量的测量模块（１３）以及包括有可聚光的透镜（２，２６，２７）和光阑（３，２１）的光学模块（１，２５）。其中，该光学模块（１，２５）的透镜（２，２６，２７）以及光阑（３，２１）整体式地结合到多件式注塑件（２３）中。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】对分析测试元件上的样本进行分析的分析系统本专利技术涉及一种对分析测试元件上的样本进行分析的、具有包 括有透镜和光阑的光学才莫块的分析系统。为了分析例如血液或尿液等体液的样本，经常会〗吏用分析系统， 其中待分析的样本位于测试元件上，并且在分析之前，它们可能在 测试区里与 一种或多种试剂在该测试元件上发生反应。对测试元件 进行光学评估，特别是光度评估以及电化学评估，是快速确定样本 中分析物浓度最常用的方法。带有测试元件的用来进行样本分析的 分析系统普遍使用于分析学、环境分析学以及特别是医学的诊断学 领域。尤其是在使用毛细血管血血糖诊断领域，从光度或者电化学 上评估的测试元件具有很重要的意义。存在各种形状的测试元件。已知的有例如基本上是方形的小盘 子，也叫玻片。在小盘子的中间是多层测试区。制成条状的诊断测试元件称为测试条。在现有技术里，例如在DE-A 19753847、 EP-A 0821233、 EP-A 0821234或WO 97/02487等文献中，人们对测试元件 进行了详尽的描述。本专利技术涉及任一形状的(特别是条状的)测试元 件。为了对在测试元件上的样本进行分析研究，现有技术介绍了本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种对在分析测试元件（１６）上的样本进行分析的分析系统，所述分析系统包括：　　　　测量模块（１３），其用来对在所述分析测试元件（１６）上的样本进行测量，和　　　　光学模块（１，２５），其包括可聚光的透镜（２，２６，２７）及光阑（３，２１），　　　　其特征在于，所述光学模块（１，２５）的所述透镜（２，２６，２７）和所述光阑（３，２１）整体式地结合到多件式注塑件（２３）中。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员：J舒拉特，KD斯蒂格，
申请(专利权)人：霍夫曼一拉罗奇有限公司，
类型：发明
国别省市：CH[瑞士]