【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种用于半导体光刻以及照相制版的投影光学系统,且特别涉 及一种全折射式投影物镜。
技术介绍
随着投影光刻技术的发展,光刻机的投影光学系统性能逐步提高,目前光 刻机已成功应用于亚微米和深亚微米分辨率的集成电路制造领域。用光刻机制 造集成电路芯片时要求投影物镜具有较高的分辨率,以实现高集成度芯片的制 备。为了满足对投影光物镜较高分辨率的要求,需要提高投影物镜的像方数值孔径(NA)。然而,采用大数值孔径的投影物镜必须使用更多的镜片数量或引入非球面 或引进多种材料来校正投影物镜的像差。例如在美国专利US6 560 031 (公开日2003年5月6日)中,描述了数值孔径NA二0.7,照明波长为193.3nm—的情况下 的30块镜片,包含7块氟化钙的两种材料的全折射系统的技术方案。在另一件 美国专利US6 954 316 (公开日2005年10月11日)中,描述了在数值孔径 NA-0.75,照明波长为193.3nm的情况下使用30块常规镜片加1块非球面镜片、 包含3块氟化钙、两种材料的全折射系统来满足成像质量的技术方案。在上述专利中,两种投影光学系统的镜片数量 ...
【技术保护点】
一种全折射式投影物镜,用于将物平面内的图案投射到像平面内,所述投影物镜从物面到像面依次排列有五个镜片组,其特征在于: 第一镜片组(G1)具有负光焦度,第二镜片组(G2)具有正光焦度,第三镜片组(G3)具有负光焦度,第四镜片组(G4)具有正光焦度,第五镜片组(G5)具有正光焦度,所述的全折射式投影物镜系统由25片光学镜片组成,且其中第一镜片组(G1)包含两片非球面镜片,第五镜片组(G5)至少包含连续三片月凸透镜片。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员:孙文凤,储兆祥,
申请(专利权)人:上海微电子装备有限公司,
类型:发明
国别省市:31[中国|上海]
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