确定传感器元件位置的方法技术

本发明专利技术涉及一种确定传感器元件（３００）位置的方法，借助此方法测量由至少一个磁场发生器单元（２００）发射的交变磁场（２１０），通过传感器元件（３００）接收到的信号确定传感器元件（３００）的位置。按照本发明专利技术，首先近似计算出在导电物体（４００）中感应的涡流（４２０）而产生的干扰场（４１０）。然后通过计算出的干扰场（４１０）修正由传感器元件（３００）接收到的信号而确定的位置。（*该技术在2021年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种，借助此方法测量由磁场发生器单元发射出的交变磁场；本专利技术还涉及此方法的应用以及执行此方法的装置。
技术介绍
在许多技术和医学上准确地确定一样东西的位置具有极其重要的意义。在医学上确定细胞组织的位置，比如确定肿瘤位置，通过照射破坏或限制其生长，并将其位置输入计算机系统，比如“电脑空间(Cyber Space)”，是一种经常性的工作。在这种应用中，这种探测位置或输入位置的设备也称为三维鼠标。 确定位置的已知的装置或已知的方法描述在国际专利申请公开号WO97/36192文件中。按照这篇现有文献，借助于磁场发生器单元产生一个交变的磁场，按照每一个传感器元件的自由度的数量确定传感器元件的位置，多个交变磁场相互叠加在一起。借助一个处理和控制单元，它一方面控制磁场发生器单元，另一方面处理从传感器元件接受进来的信号，确定传感器元件的方位，并尽可能确定其方向。 在磁场定位系统中，如在已知的WO 97/36192这篇现有文献中所描述的应用中，会在邻近的导电物体上产生涡流，这将导致原始的交变磁场的畸变而引起系统的误差。这意味着，如果在这样畸变的交变磁场中确定传感器元件的方位本文档来自技高网...

【技术保护点】
确定传感器元件（３００）位置的方法，借助此方法测量由至少一个磁场发生器单元（２００）产生的交变磁场（２１０），通过传感器元件（３００）接收到的信号确定传感器元件（３００）的位置，其特征在于，在此之前，首先近似计算出在导电物体（４００）中感应的涡流（４２０）而产生的干扰场（４１０），通过计算出的干扰场（４１０）修正由传感器元件（３００）接收到的信号而确定的位置。

【技术特征摘要】
CH 2000-7-26 1475/001.确定传感器元件(300)位置的方法，借助此方法测量由至少一个磁场发生器单元(200)发射出的交变磁场(210)，该方法包括在传感器元件(300)中接收信号，其特征在于，以第一近似计算干扰场(410)，所述干扰场由在导电物体(400)中感应的涡流(420)而产生；基于交变磁场(210)计算物体(400)中的涡流(420)；基于计算出的涡流(420)计算干扰场(410)；以及修正由传感器元件(300)中接收到的信号而确定的位置。2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，执行至少再一次的迭代计算用于更准确地确定位置，包括基于计算出的干扰场(410)计算物体(400)中进一步的涡流；以及基于进一步的涡流计算进一步的干扰场。3.如权利要求1所述的方法，其特征在于，确定物体(400)的位置和形状，按照公式R=lρ(h2)2π]]>和L=2Wi2]]>分别计算物体(400)中的电阻和电感；其中R为欧姆电阻，1为导电带的长度，h为电流深入的深度，ρ为材料的电阻率，L为导体带的电感，W为导...

【专利技术属性】
技术研发人员：保罗G塞勒，拉尔夫K明兴，斯特凡基尔希，
申请(专利权)人：北方数字化技术公司，
类型：发明
国别省市：CA[加拿大]