一种再入轨飞行器在竖直状态下的联合标定方法技术

技术编号:26593152 阅读:29 留言:0更新日期:2020-12-04 21:14
一种再入轨飞行器在竖直状态下的联合标定方法,包括以下步骤:在飞行器竖直状态下,架设测量设备;使用激光跟踪仪测量飞行器机体测量基准点,建立飞行器机体坐标系;在测量设备上设置激光跟踪仪及电子经纬仪共用的测量点位,并记录所有测量点位中心的实测坐标值;将所述测量点位在机体坐标下的坐标值导入已组好网的电子经纬仪系统内,使用最小二乘转换将经纬仪测量坐标系与机体坐标系下对齐;对齐机体坐标系与标定测量坐标系后,进行准直测量,直至标定结束;能够测量再入轨飞行器上的复杂的电子经纬仪光路不可达的区域的点位坐标值。

【技术实现步骤摘要】
一种再入轨飞行器在竖直状态下的联合标定方法
本专利技术涉及飞机装配领域,特别涉及一种再入轨飞行器在竖直状态下的联合标定方法。
技术介绍
目前,基于立方镜准直测量的位姿测量技术广泛应用于航空航天等领域,该技术将星敏的光学、力学、电学等特性归算到立方镜坐标下,通过立方镜实现坐标系的快速恢复和重建。立方镜准直测量主要是采用电子经纬仪自准直测量,常规准直测量方法,包括步骤如下:1、设置测量场,并并使得经纬仪准直光路与立方镜镜面垂直;2、使用多台仪器进行空间角度交会,确定各个仪器站点间的相互位置关系,解算出测量坐标系;3、后续测量出飞行器外形基准点,将测量坐标系与飞行器坐标系匹配对齐。上述现有标定方法中有如下局限性:1、飞行器测量基准点位于机翼上的隔热瓦外形孔内或其他电子经纬仪仪器光路不可达区域时,常用经纬仪测量时,需移动仪器使得光路能达测量点位,移动仪器对准测量点位时,使得测量过程的协调性不高,影响标定精度;2、电子经纬仪进行点位测量精度较低,以常用测量精度为±0.5″的电子经纬仪为例,大量工程测试表明,本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种再入轨飞行器在竖直状态下的联合标定方法,其特征在于:包括以下步骤:/n步骤S1:在飞行器竖直状态下,架设测量设备;/n步骤S2:使用激光跟踪仪测量飞行器机体测量基准点,建立飞行器机体坐标系;/n步骤S3:在测量设备上设置激光跟踪仪及电子经纬仪共用的测量点位,并记录所有测量点位中心的实测坐标值;/n步骤S4:将所述测量点位在机体坐标下的坐标值导入已组好网的电子经纬仪系统内,使用最小二乘转换将经纬仪测量坐标系与机体坐标系下对齐;/n步骤S5:对齐机体坐标系与标定测量坐标系后,进行准直测量,直至标定结束。/n

【技术特征摘要】
1.一种再入轨飞行器在竖直状态下的联合标定方法,其特征在于:包括以下步骤:
步骤S1:在飞行器竖直状态下,架设测量设备;
步骤S2:使用激光跟踪仪测量飞行器机体测量基准点,建立飞行器机体坐标系;
步骤S3:在测量设备上设置激光跟踪仪及电子经纬仪共用的测量点位,并记录所有测量点位中心的实测坐标值;
步骤S4:将所述测量点位在机体坐标下的坐标值导入已组好网的电子经纬仪系统内,使用最小二乘转换将经纬仪测量坐标系与机体坐标系下对齐;
步骤S5:对齐机体坐标系与标定测量坐标系后,进行准直测量,直至标定结束。


2.根据权利要求1所述的一种再入轨飞行器在竖直状态下的联合标定方法,其特征在于:所述激光跟踪仪测量时配合T_CAM、T_PROBE一起测量隔热瓦或光路不可直达区域内的机体测量基准点。


3.根据权利要求1所述的一种再入轨飞行器在竖直状态下的联合标定方法,其特征在于:所述标定过程中采用四台经纬仪,以其中...

【专利技术属性】
技术研发人员:向海军景世才秦龙刚谢云张宏杨扬
申请(专利权)人:成都飞机工业集团有限责任公司
类型:发明
国别省市:四川;51

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