用于检测杂散磁场的方法、装置和系统制造方法及图纸

本发明专利技术提供了用于检测杂散磁场的方法、装置和系统。示例性装置可包括第一磁性传感器元件、第二磁性传感器元件和处理器元件，该第一磁性传感器元件位于相对于磁场源的第一位置处，以检测由该磁场源发射的目标磁场；该第二磁性传感器元件位于相对于该磁场源的第二位置处，以检测由该磁场源发射的该目标磁场；该处理器元件电耦接到第一磁性传感器元件和第二磁性传感器元件。在一些示例中，该处理器元件可被配置为：接收来自第一磁性传感器元件的第一输出，接收来自第二磁性传感器元件的第二输出，并且至少部分地基于该第一输出和该第二输出来检测干扰目标磁场的杂散磁场。

【技术实现步骤摘要】
用于检测杂散磁场的方法、装置和系统
本公开整体涉及与提供磁场感测相关联的方法、装置和系统，并且更具体地涉及用于检测杂散磁场干扰的方法、装置和系统。
技术介绍
磁场可由磁性颗粒或物体(诸如，磁体)和/或电流产生。例如，载流线(诸如，电力传输线)可在该线周围产生磁场。某些传感器配置可产生一个或多个磁场，并且/或者可监测一个或多个磁场以检测和/或测量一个或多个期望的物理和/或电参数。然而，现有设备和系统并未克服与磁场感测相关联的许多技术挑战和困难。例如，磁性传感器可暴露于目标磁场和作为磁场干扰源操作的一个或多个杂散磁场两者。“目标磁场”是期望由传感器监测的磁场。例如，目标磁场可由设备内的磁体生成。“杂散磁场”是引起与目标磁场的干扰的磁场并且可由传感器检测。例如，杂散磁场可由结合传感器的设备外部但附近的磁体或电力传输线产生。现有设备无法将杂散磁场与目标磁场区分开。因此，需要用于区分目标磁场和杂散磁场的系统和方法。
技术实现思路
本文所述的各种实施方案涉及用于提供磁场感测的方法、装置和系统。具体地，各种实施方案涉及检测本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于检测杂散磁场的装置，包括：/n第一磁性传感器元件，所述第一磁性传感器元件位于相对于磁场源的第一位置处，以检测由所述磁场源发射的目标磁场；/n第二磁性传感器元件，所述第二磁性传感器元件位于相对于所述磁场源的第二位置处，以检测由所述磁场源发射的所述目标磁场；和/n处理器元件，所述处理器元件电耦接到所述第一磁性传感器元件和所述第二磁性传感器元件，其中所述处理器元件被配置为：/n接收来自所述第一磁性传感器元件的第一输出；/n接收来自所述第二磁性传感器元件的第二输出；以及/n通过以下方式来检测干扰所述目标磁场的所述杂散磁场：/n计算所述第一输出和所述第二输出之间的输出偏差；以及/n确定所述输...

【技术特征摘要】
20190603 US 16/429,5241.一种用于检测杂散磁场的装置，包括：
第一磁性传感器元件，所述第一磁性传感器元件位于相对于磁场源的第一位置处，以检测由所述磁场源发射的目标磁场；
第二磁性传感器元件，所述第二磁性传感器元件位于相对于所述磁场源的第二位置处，以检测由所述磁场源发射的所述目标磁场；和
处理器元件，所述处理器元件电耦接到所述第一磁性传感器元件和所述第二磁性传感器元件，其中所述处理器元件被配置为：
接收来自所述第一磁性传感器元件的第一输出；
接收来自所述第二磁性传感器元件的第二输出；以及
通过以下方式来检测干扰所述目标磁场的所述杂散磁场：
计算所述第一输出和所述第二输出之间的输出偏差；以及
确定所述输出偏差是否满足偏差标准。


2.根据权利要求1所述的装置，其中所述第一磁性传感器元件包括第一各向异性磁阻感测构件，其中所述第二磁性传感器元件包括第二各向异性磁阻感测构件。


3.根据权利要求1所述的装置，其中所述磁场源包括磁性元件。


4.根据权利要求3所述的装置，其中所述磁性元件为环形磁体，所述环形磁体包括至少第一极和第二极。


5....

【专利技术属性】
技术研发人员：弗雷德·欣茨，詹森·奇尔科特，
申请(专利权)人：霍尼韦尔国际公司，
类型：发明
国别省市：美国;US