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本发明提供了用于检测杂散磁场的方法、装置和系统。示例性装置可包括第一磁性传感器元件、第二磁性传感器元件和处理器元件，该第一磁性传感器元件位于相对于磁场源的第一位置处，以检测由该磁场源发射的目标磁场；该第二磁性传感器元件位于相对于该磁场源的第...
该专利属于霍尼韦尔国际公司所有，仅供学习研究参考，未经过霍尼韦尔国际公司授权不得商用。

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