一种铟管靶及其制备方法技术

技术编号:26586469 阅读:23 留言:0更新日期:2020-12-04 21:06
本发明专利技术公开了一种铟管靶及其制备方法,该铟管靶包括圆柱形或圆管形的衬管和设置在所述衬管外的铟料层,其晶粒尺寸小于等于500微米;所述铟管靶的氧含量不大于50ppm;铟管靶的金属杂质含量不大于100ppm。其制备方法包括以下步骤:1)固定衬管;2)浇注,形成铟料层;3)自然冷却;4)塑形加工;5)对所述铟料层进行车削加工;6)抛光处理,以使得所述铟管靶的粗糙度小于等于Ra1.6μm;7)用盐酸腐蚀所述铟管靶的表面,显现晶粒晶界,以检验晶粒平均大小。本发明专利技术的晶粒尺寸小于等于500微米、大小均匀,而且内部无缺陷;此铟管靶在溅射过程中,镀膜沉积厚度均匀,并减少打弧放电的次数,可广泛适用于手机外壳溅镀的非导电金属膜和CIGS薄膜太阳能电池。

【技术实现步骤摘要】
一种铟管靶及其制备方法
本专利技术涉及溅射靶材及其制备方法,具体涉及一种铟管靶及其制备方法。
技术介绍
铟靶目前主要应用于CIGS薄膜太阳能电池的光吸收层,以及手机背板表面镀膜的非金属导电膜。靶材表面的粗糙度对溅射过程的影响较大,靶材表面粗糙,成为溅射过程中异常放电的主要原因。经研究发现,靶材表面的粗糙度控制在Ra1.6μm以下,可以很好的抑制异常放电的产生;溅射镀膜的厚度控制在70纳米以下,才会形成不导电薄膜,因此对靶材的均匀性、晶粒大小要求较高。在以往,如专利CN103789929A中所揭示的铟靶制备方法中,通过快速冷却的方式来达到细化晶粒的目的。对于管状铟靶,快速冷却只能通过内表面或外表面冷却,通常会沿着冷却方向形成柱状晶,内外晶粒大小不均匀,而且,快速冷却在铟靶的内部会形成高的缺陷密度,影响镀膜的稳定性。在专利CN102782180A所公示的方法,通过轧制变形获得平面的铟瓦块,再通过拼接形成靶材。此种方法操作复杂,且只适用于平面的铟靶,不适用于管状的铟靶。
技术实现思路
为了克服上述问题,本专利技术提本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种铟管靶,其是一种圆柱形结构,其包括圆柱形或圆管形的衬管和设置在所述衬管外的铟料层,其特征在于:其晶粒尺寸小于等于500微米;所述铟管靶的氧含量不大于50ppm;所述铟管靶的金属杂质含量不大于100ppm。/n

【技术特征摘要】
1.一种铟管靶,其是一种圆柱形结构,其包括圆柱形或圆管形的衬管和设置在所述衬管外的铟料层,其特征在于:其晶粒尺寸小于等于500微米;所述铟管靶的氧含量不大于50ppm;所述铟管靶的金属杂质含量不大于100ppm。


2.一种铟管靶的制备方法,所述铟管靶是一种圆柱形结构,其包括圆柱形或圆管形的衬管和设置在所述衬管外的铟料层,其特征在于,其包括以下步骤:
1)所述衬管固定在外模具的管形的中心孔内,所述衬管外壁和所述外模具中心孔的内壁间具有设定的间隙;
2)将熔化的铟或铟锡合金浇注到外模具的中心孔和衬管之间的缝隙里,形成所述铟料层;
3)自然冷却至室温后,所述铟料层已固化附着在所述衬管上,形成所述铟管靶,打开所述外模具,取出所述铟管靶;
4)把所述铟管靶固定在车床上,通过旋压的方式进行塑形加工,将所述铟料层的厚度减少预设值;
5)对所述铟料层进行车削加工,车削加工去除的厚度大于等于1mm;
6)将所述铟管靶进行抛光处理,以使得所述铟管靶的粗糙度小于等于Ra1.6μm;
7)用盐酸腐蚀所述铟管靶的表面,显现晶粒晶界,以检验晶粒平均大小,获得晶粒尺寸小于等于500微米的合格品。


3.根据权利要求2所述的一种铟管靶的制备方法,其特征在于:所述步骤4)中,在车床上安装旋压刀具,轴向走刀,对所述铟管靶进行多次旋压加工,每次...

【专利技术属性】
技术研发人员:曹兴民
申请(专利权)人:苏州思菲科新材料科技有限公司
类型:发明
国别省市:江苏;32

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