X射线检测器制造技术

本发明专利技术涉及一种用于检测单个量子的Ｘ射线检测器，具有多个检测器元件（２）和与检测器元件连接的分析单元（４），分析单元设计为对每个检测器元件分配一个第一能量阈值（ｅ１），其中由检测器元件记录的不同射线频谱（Ｓｐ１，Ｓｐ２）的一部分（ｓ１（ｋ））具有低于该能量阈值（ｅ１）的能量，而另一部分（ｓ２（ｋ））具有高于该能量阈值（ｅ１）的能量，不同检测器元件的能量阈值不同地设置，使得第一射线频谱（Ｓｐ１）中具有高于或低于能量阈值的射线频谱的部分（ｓ１（ｋ））与第二射线频谱（Ｓｐ２）中具有高于或低于能量阈值的射线频谱的部分（ｓ２（ｋ））之比对不同的检测器元件相互平衡。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种适用于检测单个量子的X射线检测器以及运行该X射线检测器的方法。
技术介绍
用于检测单个量子而设计的检测器例如由DE4018859A1公开。该检测器既用于无破坏性的材料检验又用在医疗技术中，例如用于剂量分布测量。在适合于采集单个事件的能量的射线检测器中，通常可以调节确定如何对事件分类的能量阈值，例如在测得的哪些能量之下不接受检测到的事件。这种能量阈值尤其用于将对应于特定辐射源的事件与不应当记录并只会干扰测量结果的其它事件区分开来。在位置分辨地记录单个事件的能量的成像方法中，可能根据各个能量阈值的不同设置而产生伪影，例如以规则图案的形式。这种干扰测量结果的出现与下列现象相关联射线检测器的不同区域只能按照不同的、用不足的结论描述的方式置于所到达的射线下。为了避免这种例如在二维图像中以环的形式可见的伪影，需要在射线检测器上进行费事的设置工作。
技术实现思路
本专利技术要解决的技术问题在于改善在检测X射线时对单个量子的检测。可以检测单个量子的X射线检测器具有多个检测器元件以及与这些检测器元件通过数据技术连接的分析单元，该分析单元可以捆绑在全面的数据处理网络中。该分析单元设计成本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于检测单个量子的Ｘ射线检测器，具有多个检测器元件（２）以及与这些检测器元件通过数据技术连接的分析单元（４），该分析单元设计成为：为每个检测器元件（２）分配一个第一能量阈值（ｅ１），其中可用该检测器元件（２）记录的不同射线频谱（Ｓｐ１，Ｓｐ２）的一部分具有低于该能量阈值（ｅ１）的能量，而该射线频谱（Ｓｐ１，Ｓｐ２）的另一部分（ｓ１（ｋ），ｓ２（ｋ））具有高于该能量阈值（ｅ１）的能量，以及其中不同检测器元件（２）的该能量阈值（ｅ１）这样不同地设置，使得在第一射线频谱（Ｓｐ１）中具有高于或低于所述能量阈值（ｅ１）的该射线频谱（Ｓｐ１）的部分（ｓ１（ｋ））与在第二射线频谱（Ｓｐ２）中具有高于或低...

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：西尔克詹森，卡尔施蒂尔斯托弗，
申请(专利权)人：西门子公司，
类型：发明
国别省市：DE[德国]