一种用于辐射成像的Gamma计数探测器制造技术

一种用于辐射成像的Gamma计数探测器，属于辐射检测技术领 域。本发明专利技术包括由光敏器件和闪烁晶体组成的探测器部件，与探测器 部件连接的带放大回路、比较回路、数字脉冲输出回路的电路板和稳 压器以及端面上置有与电路板电路连接的输出插座及包容整体的金 属壳体。其结构特点是，所述闪烁晶体表面涂有反射层或者置有反光 材料层并与光敏器件通过光学胶耦合粘接。闪烁晶体与光敏器件的连 接整体置有避光材料层并由带减震垫的金属盒包容，金属盒表面亦置 有避光材料层。同现有技术相比，本发明专利技术不仅增强了抗干扰能力，同 时可使射线入射面的成像死区减小、调节高压和上下阈方便，与后 续电路的互连方便。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于辐射检测
，涉及辐射成像系统所用的Gamma计数探测器装置。
技术介绍
同位素发出的Gamma射线与Gamma计数探测器的闪烁晶体作用产生荧光，光敏器件将荧光转化为电信号，电信号经放大和比较电路后，输出数字脉冲信号，输出的脉冲数就表明探测器所接收的在所设阈值范围内的光子数。阵列Gamma计数探测器用于采用Gamma射线源并处于计数探测模式的辐射成像系统，现有技术的计数探测器存在以下缺点1、电路输出为模拟信号，容易受到干扰；2、射线入射面大多是圆形的，圆形探测器组成的阵列死区较大，直接影响到成像；3、高压与上下阈的调节不方便；4、与后续电路的连接常常需几个接插件，通常包括低压电源输入、高压输入和信号输出，连接较为复杂。
技术实现思路
为了解决上述现有技术中存在的问题，本专利技术的目的是提供一种用于辐射成像的Gamma计数探测器。它不仅增强了抗干扰能力，同时可使射线入射面的成像死区减小、调节高压和上下阈方便，与后续电路的互连方便。为了达到上述专利技术目的，本专利技术的技术方案以如下方式实现一种用于辐射成像的Gamma计数探测器，它包括由光敏器件和闪烁晶体组成的探测器部本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：李元景，张清军，赵书清，李建华，李树伟，
申请(专利权)人：清华同方威视技术股份有限公司，清华大学，
类型：发明
国别省市：