电光调制激光测距方法及其装置制造方法及图纸

一种电光调制激光测距方法及其装置，该方法是利用激光的偏振特性作为信息载体来进行激光测距：利用单轴晶体的横向电光效应，配合偏振分光器和偏振检偏器，在单轴晶体上平行光轴方向施加半波电压时，利用其扭转线偏振光偏振方向９０角的特性，提取出一个以激光往返待测距离所需时间ｔ为脉宽的光脉冲。本发明专利技术克服了现有测距方法由光电转换过程和电路系统本身引入的误差。本发明专利技术结构简单易行，操作方便，不受环境影响，抗干扰能力强，测量距离范围广，最近可测几米的距离，在激光器能量较高的情况下，最远可测１０千米的距离。测量精度高，可达到厘米级的测量精度。（*该技术在2024年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及激光测距，特别是一种电光调制激光测距方法及其装置，可应用于工农业生产、军事、通信、遥感等诸多领域。
技术介绍
对距离的高精度测量是国家现代化建设诸多领域的关键技术之一。随着科技的发展，对距离测量的范围和精度要求越来越高。激光作为具有极高单色性、准直性、相干性的信息载体，成为了距离测量的首选工具。目前国内外先进的测距仪均利用激光作为信息载体来提高测距的精确度。在先技术(参见Kozo Ohtani，Misuru Baba，A rangefindingapproach by detecting the position and the incident angle of alight-stripe，IEEE Instru.and Mea.Techno.Conf.2002)是一种几何光学的测距方法。激光器发射激光束，经目标反射后被PSD或CCD接收，然后根据接收到的光斑位置和激光器与接收器之间的几何位置关系，来计算目标与探测器之间距离。这种方法主要用于工业上的面型轮廓测量、2D/3D面型重构以及定位等，测量相对精度为0.85％左右，只能测很短的距离。随着距离的增加，精度急剧本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种电光调制激光测距方法，其特征在于利用激光的偏振特性作为待测距离信息的载体，在单轴电光晶体上平行光轴方向加半波电压，配和使用补偿晶体、偏振分光器、偏振检偏器和偏振分光器，将往返于电光晶体和待测物体之间的光束截断为脉宽ｔ的矩形光脉冲，则电光晶体和待测物体之间的距离Ｌ：Ｌ＝ｃ＊ｔ／２其中ｃ为光在空气中的速度。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：赵栋，刘立人，王吉明，潘卫清，
申请(专利权)人：中国科学院上海光学精密机械研究所，
类型：发明
国别省市：31[中国|上海]