【技术实现步骤摘要】
光源以及用于其制造的方法和具有光源的位置测量机构
本专利技术涉及根据权利要求1的用于位置测量机构的传感器单元的光源。此外，本专利技术涉及根据权利要求8的用于制造这种光源的方法以及根据权利要求12的具有光源的位置测量机构。
技术介绍
位置测量机构例如应用为用于确定两个能够相对于彼此转动的机器部件的角度位置的角度测量机构或旋转编码器（Drehgeber）。此外已知如下长度测量机构，在所述长度测量机构中，两个能够相对于彼此移位的机器部件的线性的移位被测量。角度测量机构如还有长度测量机构通常具有传感器单元，所述传感器单元对能够相对于传感器单元运动的结构部件、例如角度刻度或长度刻度或比例尺进行扫描并且产生取决于位置的信号。在光学的测量机构的情况下，光源和光探测器经常装配在光学的传感器单元的导体板上。光学的刻度以一空隙处于与导体板对置。然后，根据已知的原理能够产生取决于位置的信号。用于电驱动器的这种测量机构或测量仪器经常被用于确定相应的机器部件的相对运动或相对位置。在这种情况下，跟踪电子设备的所产生的位置值通过相应的接口...
【技术保护点】
1.用于位置测量机构的传感器单元的光源（L），包括/n- 能够导电的基层（1），所述基层具有第一面（1.1）和另外的面（1.2至1.6），其中，所述另外的面（1.2至1.6）中的至少一个相对于所述第一面（1.1）倾斜地或错位地布置，/n- 半导体层结构（2），所述半导体层结构被施覆在所述第一面（1.1）上，/n- 导电的层（3；30），所述导电的层在所述另外的面（1.2至1.6）中的至少一个处与所述基层（1）接触，/n- 第一电联接部（4）和第二电联接部（5），其中，所述第一电联接部（4）与所述导电的层（3；30）连接并且所述第二电联接部（5）与所述半导体层结构（2）连接，...
【技术特征摘要】
20190527 EP 19176650.01.用于位置测量机构的传感器单元的光源（L），包括
-能够导电的基层（1），所述基层具有第一面（1.1）和另外的面（1.2至1.6），其中，所述另外的面（1.2至1.6）中的至少一个相对于所述第一面（1.1）倾斜地或错位地布置，
-半导体层结构（2），所述半导体层结构被施覆在所述第一面（1.1）上，
-导电的层（3；30），所述导电的层在所述另外的面（1.2至1.6）中的至少一个处与所述基层（1）接触，
-第一电联接部（4）和第二电联接部（5），其中，所述第一电联接部（4）与所述导电的层（3；30）连接并且所述第二电联接部（5）与所述半导体层结构（2）连接，从而在所述联接部（4、5）处施加电压差时，能够通过所述半导体层结构（2）在所述光源（L）的第一侧（S）处发出具有相对于所述第一面（1.1）正交的方向分量的光，其中，两个联接部（4、5）布置在所述光源（L）的第一侧（S）处。
2.根据权利要求1所述的光源（L），其中，所述导电的层（3；30）在所述另外的面（1.2至1.6）中的两个处与所述基层（1）接触。
3.根据权利要求1所述的光源（L），其中，所述导电的层（3；30）在所述另外的面（1.2至1.6）中的四个处与所述基层（1）接触。
4.根据权利要求3所述的光源（L），其中，所述另外的面（1.2至1.6）中的四个相对于所述第一面（1.1）正交地布置。
5.根据权利要求1所述的光源（L），其中，所述导电的层（3；30）在所述另外的面（1.2至1.6）的五个处与所述基层（1）接触。
6.根据前述权利要求中任一项所述的光源（L），其中，所述基层（1）具有方形的形状。
7.根据前述权利要求中任一项所述的光源（L），其中，所述基层（1）以所述导电的层（3；30）嵌入在第一浇铸料（11）中。
8.用于制造用于位置测量机构的传感器单元的光源（L）的方法，具有如下步骤：
-提供基层（1），所述基层具有第一面（1.1）和另外的...
【专利技术属性】
技术研发人员：JM格雷，K霍尔斯坦，
申请(专利权)人：约翰内斯·海德汉博士有限公司，
类型：发明
国别省市：德国;DE
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