一种阻止差分密码分析攻击的方法技术

一种阻止差分密码分析攻击的方法，通过自适应扫描链、控制模块和明文分析模块实现；明文分析模块控制自适应扫描链，使得仅其中一个字节的最后一个比特位不同的两个明文经过不同结构的扫描链输入，而造成原本可以利用差分密码分析攻击技术破解密钥的两个输入明文无法产生能够被差分密码分析攻击技术利用的输出；相较于复杂扫描链，设计的电路结构可以在一定程度上迷惑使用差分密码分析攻击的攻击者，导致攻击者恢复出错误的密钥信息。通过实验分析，证明了自适应扫描链结构的明文分析技术安全性得到很大提升。

【技术实现步骤摘要】
一种阻止差分密码分析攻击的方法
本专利技术属于硬件安全领域，尤其针对AES电路的测试，提出一种阻止差分密码分析攻击的方法。
技术介绍
信息网络以其广阔的互联特性给人们的生活生产带来了巨大的便利，推动着现代社会迅猛发展的同时，信息安全问题随之而来。正是基于以上考虑，学者们提出了“安全芯片”的概念，其原理就是在普通芯片的外围加上加密电路，这种加密电路可以采用的加密算法有DES、AES、RSA等算法实现。说到测试问题，就不得不提到DFT技术，DFT技术的目的是检测出芯片在生产制造的过程中引入的故障，其实现原理是通过插入扫描链技术，将时序与组合逻辑混合的芯片转变成纯组合逻辑电路，从而对扫描链进行shift和capture操作得到芯片内部组合逻辑的响应，将这个响应与ATPG产生的响应向量作比较从而判断芯片在制造中是否出现了故障。随着工艺的提升，生产中出现故障的概率越来越大，因此DFT技术也已经得到广泛应用。正是由于DFT技术的引进，使得攻击者可以利用扫描链来获取到存储于芯片中尚未被完全加密的信息。通过对这些尚未完全加密的信息的分析，极大的威胁了加密芯片的本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种阻止差分密码分析攻击的方法，其特征在于：/n所述方法通过自适应扫描链、控制模块和明文分析模块实现；/n所述自适应扫描链，根据明文分析模块的输出信号改变结构，当明文分析模块的输出值是0时，扫描链为普通扫描链，当明文分析模块的输出值是1时，扫描链为复杂扫描链；/n所述控制模块控制明文分析模块仅在测试模式下工作；/n所述明文分析模块由控制模块决定是否工作，在明文分析模块的每轮明文分析过程中，一旦检测到输入明文之间仅其中一个字节的最后一个比特位发生变化，则改变输出值使自适应扫描链改变结构；/n所述方法包括如下步骤：/n步骤1，控制模块检测到芯片是否在复位之后转换到了测试模式，并记录该转换动作，...

【技术特征摘要】
1.一种阻止差分密码分析攻击的方法，其特征在于：
所述方法通过自适应扫描链、控制模块和明文分析模块实现；
所述自适应扫描链，根据明文分析模块的输出信号改变结构，当明文分析模块的输出值是0时，扫描链为普通扫描链，当明文分析模块的输出值是1时，扫描链为复杂扫描链；
所述控制模块控制明文分析模块仅在测试模式下工作；
所述明文分析模块由控制模块决定是否工作，在明文分析模块的每轮明文分析过程中，一旦检测到输入明文之间仅其中一个字节的最后一个比特位发生变化，则改变输出值使自适应扫描链改变结构；
所述方法包括如下步骤：
步骤1，控制模块检测到芯片是否在复位之后转换到了测试模式，并记录该转换动作，决定明文分析模块是否启动；
步骤2，明文分析模块启动，对芯片的输入明文进行分析，如果当前输入明文与之前输入明文之间满足进行差分密码分析的明文规律，那么就改变当前输入明文将要通过的扫描链结构；
步骤3，自适应扫描链可以变换...

【专利技术属性】
技术研发人员：蔡志匡，王明，王子轩，刘璐，胡善文，张翼，郭宇锋，
申请(专利权)人：南京邮电大学，
类型：发明
国别省市：江苏;32