断路器电流过载特性检测装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术涉及一种断路器电流过载特性检测装置。它包括有试验台台面、电源变压器以及与电源变压器次级输出端相连接的两根测试导线，两根测试导线分别是两个由两块叠压固定成形的测试铜排；电源变压器为多磁路变压器，两个测试铜排的一端与多磁路变压器的次级输出端相连接；另一端的大小形状分别为：其中一个是与被测试断路器Ａ相电极大小的２－３倍，另一个是与被测试断路器Ｂ、Ｃ两相电极及其之间所占有的面积大小的２－３倍。本实用新型专利技术的测试铜排可接触的有效面积大，隔离接触板与测试铜排配合使用，可被应用于多种断路器进行两相串联实验，并且接触可靠，操作安全，降低了功耗，提高效率。符合最新的国家断路器实验检测规定。（*该技术在2018年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术属于一种断路器特性检测装置，特别是涉及一种断路器电流过载特性检测 装置。
技术介绍
目前公知的断路器TM30S、 H-800W、 TM30S-1250、 DZ20J-1250进行瞬时电流特性 检测只能进行单相检测，检测装置位置固定不变，无法实现AB、 BC、 AC双相串联检测。 并且在传统检测中由于电源线与被测试断路器电极连接处的接触面积偏小，长时间大电流 测试则导致接触电阻偏大，电流不稳定，电能浪费较大。
技术实现思路
本技术为解决公知技术中存在的技术问题而提供一种可实现断路器双相串连检 测的断路器电流过载特性检测装置。本技术为解决公知技术中存在的技术问题所采取的技术方案是它包括有试验台 台面、电源变压器以及与所述电源变压器次级输出端相连接的两根测试导线，所述的两根 测试导线是两个分别由两块叠压固定成形的与被测试断路器输入端相连的测试铜排，此外 还包括有一个可将被测试断路器输出端三相电极相互连接的并接铜排；所述的电源变压器为多磁路变压器，所述的两个测试铜排的一端直接分别与所述的多磁路变压器的次级输出端的两端相连接；所述的两个测试铜排固定在所述的试验台台面上与被测试断路器电极相 连接的另一端的大小形状分别为其中一个是为被测试断路器A相电极大小的2 — 3倍， 另一个是为被测试断路器B、 C两相电极及其之间所占有的面积大小的2_3倍；所述的 并接铜排的大小是与为被测试断路器输出端三相电极及其之间所占有的面积大小的2 — 3 倍。本技术为解决公知技术中存在的技术问题所采取的另一个技术方案是它包括有 试验台台面、电源变压器以及与所述电源变压器次级输出端相连接的两根测试导线，还包 括有一个隔离接触板，所述的隔离接触板是由一半是铜板或片，另一半是绝缘板或片彼此 连接而成一体的；所述连成一体的隔离接触板的铜板或片与绝缘板或片的两部分彼此厚度 一致；所述的两根测试导线是两个分别由两块叠压固定成形的与被测试断路器输入端相连 的测试铜排，此外还包括有一个可将被测试断路器输出端三相电极相互连接的并接铜排； 所述的电源变压器为多磁路变压器，所述的两个测试铜排的一端直接分别与所述的多磁路变压器的次级输出端的两端相连接；所述的两个测试铜排固定在所述的试验台台面上与被 测试断路器电极相连接的另一端的大小形状分别为其中一个是为被测试断路器A相电极 大小的2 — 3倍，另一个是为被测试断路器B、 C两相电极及其之间所占有的面积大小的2 _3倍；所述的并接铜排的大小是与为被测试断路器输出端三相电极及其之间所占有的面 积大小的2—3倍。本技术具有的优点和积极效果是测试铜排与被测试断路器连接端可接触的有效 面积大，当配合将被测试断路器移动时即可适用于联结板长度不同、相间距不同、电极厚 度不同的多种断路器。并且保证接触可靠，操作安全，降低了功率损耗，提高了使用效率。 进一步将隔离接触板与测试铜排配合使用，可被应用于TM30S、 H-800W、 TM30S-1250、 DZ20J-1250断路器进行两相串联实验时，起到非测试相与测试相的可靠隔离作用，测试 时将隔离接触板放置在测试铜排上隔离接触板可保证与测试铜排压接紧密可靠。隔离接触 板的铜片部分保证断路器测试相与测试铜排的可靠短接导通，绝缘板部分保证非测试相与 测试铜排的完全断路。隔离接触板体积小、分量轻，移动灵活、装卸方便，放置位置按照 需要灵活变换。 一个隔离接触板起到两种作用，既节约了人力、物力，又提高了工作效率， 并符合了最新的国家断路器实验检测规定。附图说明图1是本技术测试铜排的结构示意图； 图2是图1的右视图3是测试铜排和隔离接触板应用于试验台的示意图； 图4是隔离接触板结构示意图； 图5是图4的仰视图； 图6是测试铜排用于试验台的示意图。具体实施方式为能进一步了解本技术的
技术实现思路
、特点及功效，兹例举在三相断路器试验中应 用的实施例，并配合附图详细说明如下如图l、 2、 3所示，由两支紫铜板切割压制成型(成型形状根据实际需要)的测试铜 排1和2的L端与多磁路变压器的次级用螺栓直接连接。测试铜排2的D端与测试铜排1 的S端是固定在试验台台面上的，测试铜排2的D端与测试铜排1的S端它们之间是断 开的。D端的形状大小是被测试断路器A相电源输入端与实验台电源连接处形状大小的3 倍。S端的形状大小是被测试断路器B、 C两相电源输入端与实验台电源连接处合起来形 状大小的3倍。固定在实验台面上的可将被测试断路器输出端三相电极并接在一起的并接铜排Z的面积大小是为被测试断路器输出端三相电极以及这三相电极之间所占有面积大 小的3倍。如图4、5所示:隔离接触板3是由厚度一致的绝缘板8和铜板9交接固定连接在一起。 如图3、 6所示，在实验台面7上的测试铜排1的S端、测试铜排2的D端和在被测 试断路器4出线端一侧可将这出线端的A、 B、 C三相并接起来的并接铜排Z端分别为三 块独立测试铜排，图4中的隔离接触板3与测试铜排1的S端等长等宽。在测试铜排1的 S端上面放上隔离接触板3以后的高度与测试铜排2的D端和另一个并接铜排Z的高度保 持一致。如图3所示，测试铜排1的S端上放置隔离接触板3，在隔离接触板3上放置断路器 4进线端，测试过程中，由一侧气缸压接装置5将待测断路器4进线端压接在隔离接触板 3上，隔离接触板3压在测试铜排1的S端上，另一侧气缸压接装置6将断路器4出线端 直接压在并接铜排Z上。如图6所示，DIO， Dll为一对气缸压接断路器4的A相进出线端的位置，D20、 D21 为另一对气缸压接断路器4的B相进出线端的位置，D30、 D31为又一对气缸压接断路器 4的C相进出线端的位置。隔离接触板3在测试过程中将被放置在测试铜排1的S端上。 当断路器4需要进行AC两相的串联测试时，操作人员可将隔离接触板3的绝缘板8部分 置于断路器4的B相进线端位置D20上，此时隔离接触板3的铜板面9部分即在断路器4 的A相测试位置D10上。当压接装置5、 6两侧的三对气缸推动夹具将断路器4的A、 B、 C三相同时压接于三个测试铜排的S、 D和并接铜排Z端时，其中并接铜排Z是将断路器 4出线的A、 B、 C三相短接在一起，断路器4的A相进线端与测试铜排的S端接触，C 相进线与测试铜排的D端接触，隔离接触板3的绝缘板8将B相进线端与A相进线端隔 离，从而保证了A、 C相串联测试的可靠进行。同样，在测试B、 C相时，将图4隔离接 触板3的绝缘板8置于A相测试位置，然后进行BC相串联测试。权利要求1. 一种断路器电流过载特性检测装置，它包括有试验台台面、电源变压器以及与所述电源变压器次级输出端相连接的两根测试导线，其特征是所述的两根测试导线是两个分别由两块叠压固定成形的与被测试断路器输入端相连的测试铜排，此外还包括有一个可将被测试断路器输出端三相电极相互连接的并接铜排；所述的电源变压器为多磁路变压器，所述的两个测试铜排的一端直接分别与所述的多磁路变压器的次级输出端的两端相连接；所述的两个测试铜排固定在所述的试验台台面上与被测试断路器电极相连接的另一端的大小形状分别为其中一个是为被测试断路器A相电极大小的2—3倍，另一个是为被测试断路器B、C两相电极及其之间所占有的面积大小的2—本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种断路器电流过载特性检测装置，它包括有试验台台面、电源变压器以及与所述电源变压器次级输出端相连接的两根测试导线，其特征是：所述的两根测试导线是两个分别由两块叠压固定成形的与被测试断路器输入端相连的测试铜排，此外还包括有一个可将被测试断路器输出端三相电极相互连接的并接铜排；所述的电源变压器为多磁路变压器，所述的两个测试铜排的一端直接分别与所述的多磁路变压器的次级输出端的两端相连接；所述的两个测试铜排固定在所述的试验台台面上与被测试断路器电极相连接的另一端的大小形状分别为：其中一个是为被测试断路器Ａ相电极大小的２－３倍，另一个是为被测试断路器Ｂ、Ｃ两相电极及其之间所占有的面积大小的２－３倍；所述的并接铜排的大小是与为被测试断路器输出端三相电极及其之间所占有的面积大小的２－３倍。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：陈军，高艳，王铁镰，吴永亮，徐卫生，
申请(专利权)人：天津市百利电气有限公司，
类型：实用新型
国别省市：12[中国|天津]