用于模板标签的处理方法和装置、电子设备和存储介质制造方法及图纸

本申请公开了一种用于模板标签的处理方法，涉及数据处理技术领域，可用于云计算和自然语言处理等领域。具体实现方案为：展示模板标签，其中模板标签包括第一特征元和至少一个第二特征元；获取针对至少一个第二特征元中的每个特征元输入的入口参数；以及基于获取的入口参数，获取并展示与第一特征元对应的标签参数分布图，其中标签参数分布图用于描述不同分位点与各标签参数之间的对应关系。

【技术实现步骤摘要】
用于模板标签的处理方法和装置、电子设备和存储介质
本申请涉及数据处理
，具体地，涉及一种用于模板标签的处理方法和装置、电子设备和存储介质。
技术介绍
使用传统的模板标签进行参数调研时，前端用户并不清楚各标签参数的分布情况，只能凭感觉和根据经验盲目地选择一些标签参数尝试着进行查询，因而得到的结果往往不尽如人意，并且难以快速、精准地查询到自己真正关心的参数。
技术实现思路
本申请提供了一种用于模板标签的处理方法和装置、电子设备以及存储介质。根据第一方面，提供了一种用于模板标签的处理方法，包括：展示模板标签，其中上述模板标签包括第一特征元和至少一个第二特征元；获取针对上述至少一个第二特征元中的每个特征元输入的入口参数；以及基于获取的入口参数，获取并展示与上述第一特征元对应的标签参数分布图，其中上述标签参数分布图用于描述不同分位点与各标签参数之间的对应关系。根据第二方面，提供了另一种用于模板标签的处理方法，包括：建立并存储不同分位点与各标签参数之间的对应关系；基于上述对应关系，生成标签参数分布图数据；以及在模板本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于模板标签的处理方法，其特征在于，包括：/n展示模板标签，其中所述模板标签包括第一特征元和至少一个第二特征元；/n获取针对所述至少一个第二特征元中的每个特征元输入的入口参数；以及/n基于获取的入口参数，获取并展示与所述第一特征元对应的标签参数分布图，其中所述标签参数分布图用于描述不同分位点与各标签参数之间的对应关系。/n

【技术特征摘要】
1.一种用于模板标签的处理方法，其特征在于，包括：
展示模板标签，其中所述模板标签包括第一特征元和至少一个第二特征元；
获取针对所述至少一个第二特征元中的每个特征元输入的入口参数；以及
基于获取的入口参数，获取并展示与所述第一特征元对应的标签参数分布图，其中所述标签参数分布图用于描述不同分位点与各标签参数之间的对应关系。


2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，还包括：响应于所述至少一个第二特征元中任意一个或者多个特征元的之前输入的入口参数被修改，
重新获取针对所述每个特征元输入的入口参数；以及
基于重新获取的入口参数，重新获取并展示与所述第一特征元对应的标签参数分布图。


3.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于：
所述标签参数分布图包括：折线图，其中在所述折线图中，第一坐标轴表示分位点，第二坐标轴表示标签参数；
所述方法还包括：
展示与所述第一坐标轴平行的滑道，其中所述滑道中设置有滑动块，所述滑动块在所述滑道中滑动的过程中，指向所述第一坐标轴上的不同分位点；以及
响应于所述滑动块在所述滑道中滑动，展示与所述滑动块当前指向的分位点对应的标签参数。


4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，还包括根据所述滑动块当前指向的分位点，执行以下操作：
展示所述折线图的第一部分；
隐藏或省略所述折线图的第二部分；以及
其中，所述第一部分包括与第一分位点关联的折线图部分，所述第二部分包括与除所述第一分位点之外的其他分位点关联的折线图部分，所述第一分位点与所述滑动块当前指向的分位点之间的距离小于等于预设值。


5.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于：
所述标签参数分布图包括：折线图，其中在所述折线图中，第一坐标轴表示分位点，第二坐标轴表示标签参数；
所述方法还包括：
响应于光标或触控点落在所述第一坐标轴上，展示与所述光标或触控点的位置处的分位点对应的标签参数；
或
响应于光标或触控点落在所述折线图的折线上，展示与所述光标或触控点的位置对应的分位点和标签参数。


6.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于：
所述标签参数分布图包括：折线图，其中在所述折线图中，第一坐标轴表示分位点，第二坐标轴表示标签参数；
所述模板标签还包括：第三特征元和第四特征元，其中与所述第三特征元对应的入口参数为标签参数，与所述第四特征元对应的入口参数为分位点百分比；
所述方法还...

【专利技术属性】
技术研发人员：崔轩，
申请(专利权)人：北京百度网讯科技有限公司，
类型：发明
国别省市：北京;11