静电放电路径检测方法及系统技术方案

本发明专利技术公开一种静电放电路径检测方法，用于对电子产品的待检测器件进行静电测试，包括以下步骤：对所述待检测器件表面均匀喷涂温变漆；在所述待检测器件的待测点打出静电电弧；确认所述温变漆的变色路径，所述变色路径即为所述待检测器件在待测点的静电放电路径。本发明专利技术通过在电子产品的待检测器件表面喷涂温变漆，利用静电电弧在放电过程中会产生大量热以及温变漆在特定温度下会发生颜色转变的原理，通过在待检测器件的待测点上打出静电电弧，静电电弧经过的路径会产生热量，进而观察温变漆的变色路径来确认静电在待测点的放电路径，相较于传统的测试方法成本低，效率高，且可精确的检测出静电在待检测器件的所有放电路径。

【技术实现步骤摘要】
静电放电路径检测方法及系统
本专利技术涉及产品测试
，尤其涉及一种静电放电路径检测方法及系统。
技术介绍
目前，正规的电子产品在上市前都需要进行严格的静电测试。在测试中，电子产品常常出现一些功能异常的情况，例如器件被静电损坏。因此，静电问题一直是困扰电子工程师的一个难题。其难度在于每一款电子产品的静电问题都不相同。这和具体的结构设计、电路设计、电路器件分布、电路的处理等等很多因素相关，具体到每一款产品又会出现千差万别的情况。而要解决静电问题，首要分析的就是静电的放电路径。只有弄清楚了静电在产品内部的放电路径，就可以针对性的进行防护处理。而放电路径的确定是十分困难的。电子产品的结构设计一般比较复杂，壳体材料也多种多样。不同的材质如塑料和金属壳体的放电路径就不同，静电进入壳体后的路径也难以确定。壳体内部无法直接看到静电放电的路径走向。因此，现有技术中只能通过被损坏的电子器件位置的方法来推测大致的放电路径。而该方法的缺点较多：一是速度慢，需要大量的静电实验，耗时长；二是效率低，静电放电有时并不只有一条路径，在出现多条路径放电情况本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种静电放电路径检测方法，用于对电子产品的待检测器件进行静电测试，其特征在于，包括以下步骤：/n对所述待检测器件表面均匀喷涂温变漆；/n在所述待检测器件的待测点打出静电电弧；/n确认所述温变漆的变色路径，所述变色路径即为所述待检测器件在所述待测点的静电放电路径。/n

【技术特征摘要】
1.一种静电放电路径检测方法，用于对电子产品的待检测器件进行静电测试，其特征在于，包括以下步骤：
对所述待检测器件表面均匀喷涂温变漆；
在所述待检测器件的待测点打出静电电弧；
确认所述温变漆的变色路径，所述变色路径即为所述待检测器件在所述待测点的静电放电路径。


2.如权利要求1所述的静电放电路径检测方法，其特征在于，所述在所述待检测器件的待测点打出静电电弧步骤中包括：
在多个所述待检测器件的同一所述待测点打出不同电量的静电电弧。


3.如权利要求1所述的静电放电路径检测方法，其特征在于，所述在所述待检测器件的待测点打出静电电弧步骤中包括步骤中包括：
在多个所述待检测器件的同一所述待测点打出相同电量的静电电弧。


4.如权利要求1所述的静电放电路径检测方法，其特征在于，所述在所...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈乐华，
申请(专利权)人：上海闻泰电子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：上海;31