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本发明公开一种静电放电路径检测方法，用于对电子产品的待检测器件进行静电测试，包括以下步骤：对所述待检测器件表面均匀喷涂温变漆；在所述待检测器件的待测点打出静电电弧；确认所述温变漆的变色路径，所述变色路径即为所述待检测器件在待测点的静电放电路...
该专利属于上海闻泰电子科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海闻泰电子科技有限公司授权不得商用。

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