【技术实现步骤摘要】
一种多通道低阻测试装置
本专利技术涉及低阻测试装置
，具体为一种多通道低阻测试装置。
技术介绍
在测试实验中，经常要对被测设备或者被测电路进行连通性检测，其中，有些连通性检测是针对低阻抗的连通设备或电路。低阻抗的连通设备或电路包括：开关和接点断路器阻抗，母线和电缆线接头，焊接接缝的完整，焊缝和保险丝阻抗，金属丝和电缆线阻抗等等。这种针对低阻抗的连通设备或电路的测试通常称为低电阻连通性测试。目前，通常由专门的多通道低电阻测量仪来完成测试。测试仪上存在插口和显示屏，测试仪放置在桌面上呈水平角度，不便于对测试仪进行操作和观察。
技术实现思路
（一）解决的技术问题针对现有技术的不足，本专利技术提供了一种多通道低阻测试装置，具备可以调整测试仪放置在桌面上插口和显示屏角度的优点，解决了目前测试仪放置在桌面上呈水平角度，不便于对测试仪进行操作和观察的问题。（二）技术方案为实现可以调整测试仪放置在桌面上插口和显示屏角度的目的，本专利技术提供如下技术方案：一种多通道低阻测试装置，包括测试装置主...
【技术保护点】
1.一种多通道低阻测试装置，包括测试装置主体（1），其特征在于：所述测试装置主体（1）的正面设有显示屏和插口，所述测试装置主体（1）的下方设有支撑座（2），所述支撑座（2）上端的一端固定连接有支撑架（3），所述测试装置主体（1）铰接在支撑架（3）上，所述支撑座（2）通过调节机构与测试装置主体（1）的下端相连接；/n所述调节机构包括调节槽（4），所述调节槽（4）沿水平横向开设在支撑座（2）的上端，所述调节槽（4）远离支撑架（3）一端的槽壁上开设有调节孔（5），所述调节孔（5）的孔壁上通过轴承（6）转动连接有螺纹杆（7），且螺纹杆（7）的两端穿过轴承（6）设置，所述螺纹杆（7）...
【技术特征摘要】
1.一种多通道低阻测试装置，包括测试装置主体（1），其特征在于：所述测试装置主体（1）的正面设有显示屏和插口，所述测试装置主体（1）的下方设有支撑座（2），所述支撑座（2）上端的一端固定连接有支撑架（3），所述测试装置主体（1）铰接在支撑架（3）上，所述支撑座（2）通过调节机构与测试装置主体（1）的下端相连接；
所述调节机构包括调节槽（4），所述调节槽（4）沿水平横向开设在支撑座（2）的上端，所述调节槽（4）远离支撑架（3）一端的槽壁上开设有调节孔（5），所述调节孔（5）的孔壁上通过轴承（6）转动连接有螺纹杆（7），且螺纹杆（7）的两端穿过轴承（6）设置，所述螺纹杆（7）靠近调节槽（4）的一端延伸至调节槽（4）内并通过转动件转动连接在调节槽（4）的对应槽壁上，位于所述调节槽（4）内螺纹杆（7）的杆壁上螺纹连接有螺母（8），所述螺母（8）的上端环形侧壁上铰接有传动杆（9），所述传动杆（9）的另一端穿过调节槽（4）的槽口并铰接在测试装置主体（1）远离支撑架（3）一端位置的下端，所述螺母（8）的下端环形侧壁上通过限位件连接在调节槽（4）的槽壁上。
2.根据权利要求1所述的一种多通道低阻测试装置，其特征在于：所述转动件包括剖面为T型的环形块（10）和剖面为T型的环形槽（11），所述环形块（10）固定连接在螺纹杆（7）的一端，所述环形槽（11）对应环形块（...
【专利技术属性】
技术研发人员：刘鑫，郑孝荣，
申请(专利权)人：安徽省中测电子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：安徽;34
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