一种解决双合料暗面条纹的预控检测方法技术

本发明专利技术公开了一种解决双合料暗面条纹的预控检测方法，属于铝加工领域，一种解决双合料暗面条纹的预控检测方法，检测方法为：采用常规检测手段检测该铸轧卷的晶粒度，晶粒细小均匀，在轧制铝箔坯料卷时，轧制至2.0mm以下时取样，试样大小为10*20cm；采用理化实验室的马弗炉进行高温退火，实验退火温度在该合金的再结晶温度以上；具体退火操作为：先将马弗炉升到实验温度，保温一小时，将所取试样放入，并保温两小时，结束后取出试样；按照铸轧卷晶粒度检测方法检测该试样晶粒度，将其与标准晶粒度试样对比，做出判定；车间根据判定结果使用合格的铸轧卷。本发明专利技术可以消除表面粗条纹质量缺陷，进一步提升铝箔的产品质量,减少因质量问题造成的浪费。

【技术实现步骤摘要】
一种解决双合料暗面条纹的预控检测方法
本专利技术涉及铝加工领域，更具体地说，涉及一种解决双合料暗面条纹的预控检测方法。
技术介绍
随着人口增长、人类生活需求的提高、新能源汽车和新兴电子行业的发展以及日益增长的医疗保健需求，在食品、饮料包装、电子箔、药箔、烟箔、装饰箔等方面，铝箔产品越来越受到终端消费市场的欢迎。尤其市场对食品和医药产品提出了更多小包装要求，再加上铝箔包装的可回收性、有助于产品保护以及其优异的轻量化特性更加剧了市场的消耗水平，中国是全球最大的铝箔生产国，也成为最大的铝箔消费市场。铝箔的生产一般从铸轧卷到双零箔，要经历几十道工序。其中铝箔对铸轧卷的内在质量要求极高，内部组织除气除渣、晶粒度控制、化学成分的调配都是影响铝箔最终质量的核心。控制不当就会产生晶粒度粗大、成分不均匀、氢含量超标，导致铝箔针孔数量不达标或断带，在上述影响中晶粒度的控制尤其关键。但在生产中轧制双合料时容易发生暗面粗条纹的情况，经多方面实验及分析，认为主要原因是铸轧卷的内在质量问题，熔炼加入的铝水温度高或熔炼温度过高或二次烧火等造成原始晶粒不均匀且长大，在后期经过铝钛硼丝的晶粒细化又掩盖了次缺陷。该问题具有隐蔽性，在铸轧卷取样检测时不能发现，组织良好，晶粒一级，但经退火后轧制一定厚度才能表现出来。为解决暗面条纹问题，尤其避免轧薄后才发现该缺陷，导致成品报废损失巨大。
技术实现思路
针对现有技术中存在的问题，本专利技术的目的在于提供一种解决双合料暗面条纹的预控检测方法，它可以消除表面粗条纹质量缺陷，进一步提升铝箔的产品质量,减少因质量问题造成的浪费。为解决上述问题，本专利技术采用如下的技术方案。一种解决双合料暗面条纹的预控检测方法，所述的检测方法为：步骤1：采用常规检测手段检测该铸轧卷的晶粒度，晶粒细小均匀，在轧制铝箔坯料卷时，轧制至2.0mm以下时取样，试样大小为10*20cm；步骤2：采用理化实验室的马弗炉进行高温退火，实验退火温度在该合金的再结晶温度以上；步骤3：具体退火操作为：先将马弗炉升到实验温度，保温一小时，将所取试样放入，并保温两小时，结束后取出试样；步骤4：按照铸轧卷晶粒度检测方法检测该试样晶粒度，将其与标准晶粒度试样对比，做出判定；步骤5：车间根据判定结果使用合格的铸轧卷。优选的，所述的步骤1的取样位置取整个宽度上的两侧和中间位置。、相比于现有技术，本专利技术的优点在于：能够识别铸轧卷初次检测不能发现的缺陷，保证铸轧卷使用的安全性；增加此检测方法，能够避免铸轧卷从原始厚度7.0mm轧制0.03mm以下的轧制、剪切、退火、分切各工序的累计生产成本损失，避免批量产品报废质量事故发生，可以消除表面粗条纹质量缺陷，进一步提升铝箔的产品质量。附图说明图1位本专利技术的流程图。具体实施方式下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述；显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例，基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。在本专利技术的描述中，需要说明的是，术语“上”、“下”、“内”、“外”、“顶/底端”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本专利技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本专利技术的限制。此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性。在本专利技术的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“设置有”、“套设/接”、“连接”等，应做广义理解，例如“连接”，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本专利技术中的具体含义。请参阅图1，一种解决双合料暗面条纹的预控检测方法，所述的检测方法为：步骤1：采用常规检测手段检测该铸轧卷的晶粒度，晶粒细小均匀，在轧制铝箔坯料卷时，轧制至2.0mm以下时取样，试样大小为10*20cm；步骤2：采用理化实验室的马弗炉进行高温退火，实验退火温度在该合金的再结晶温度以上；步骤3：具体退火操作为：先将马弗炉升到实验温度，保温一小时，将所取试样放入，并保温两小时，结束后取出试样；步骤4：按照铸轧卷晶粒度检测方法检测该试样晶粒度，将其与标准晶粒度试样对比，做出判定；步骤5：车间根据判定结果使用合格的铸轧卷。更优选的，所述的步骤1的取样位置取整个宽度上的两侧和中间位置。本专利技术够识别铸轧卷初次检测不能发现的缺陷，保证铸轧卷使用的安全性；增加此检测方法，能够避免铸轧卷从原始厚度7.0mm轧制0.03mm以下的轧制、剪切、退火、分切各工序的累计生产成本损失，避免批量产品报废质量事故发生，可以消除表面粗条纹质量缺陷，进一步提升铝箔的产品质量。以上所述，仅为本专利技术较佳的具体实施方式；但本专利技术的保护范围并不局限于此。任何熟悉本
的技术人员在本专利技术揭露的技术范围内，根据本专利技术的技术方案及其改进构思加以等同替换或改变，都应涵盖在本专利技术的保护范围内。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种解决双合料暗面条纹的预控检测方法，其特征在于，所述的检测方法为：/n步骤1：采用常规检测手段检测该铸轧卷的晶粒度，晶粒细小均匀，在轧制铝箔坯料卷时，轧制至2.0mm以下时取样，试样大小为10*20cm；/n步骤2：采用理化实验室的马弗炉进行高温退火，实验退火温度在该合金的再结晶温度以上；/n步骤3：具体退火操作为：先将马弗炉升到实验温度，保温一小时，将所取试样放入，并保温两小时，结束后取出试样；/n步骤4：按照铸轧卷晶粒度检测方法检测该试样晶粒度，将其与标准晶粒度试样对比，做出判定；/n步骤5：车间根据判定结果使用合格的铸轧卷。/n

【技术特征摘要】
1.一种解决双合料暗面条纹的预控检测方法，其特征在于，所述的检测方法为：
步骤1：采用常规检测手段检测该铸轧卷的晶粒度，晶粒细小均匀，在轧制铝箔坯料卷时，轧制至2.0mm以下时取样，试样大小为10*20cm；
步骤2：采用理化实验室的马弗炉进行高温退火，实验退火温度在该合金的再结晶温度以上；
步骤3：具体退火操作为：先将马弗炉升到实验温...

【专利技术属性】
技术研发人员：徐海英，陆峰，徐静霞，刘玲，
申请(专利权)人：上海大屯能源股份有限公司江苏分公司，
类型：发明
国别省市：江苏;32