带有使用JTAG接口的测试访问控制电路的IC电路制造技术

一种集成电路，包括具有ＪＴＡＧ接口（１０８）和测试访问端口（１１０）的第一电路部分（１０６）。第二电路部分（１１４）具有串行总线接口（１１２）；并且测试访问控制电路（１０４）经该测试访问端口（１１０）连接到ＪＴＡＧ接口（１０８）。第一电路部分（１０６）经所述测试访问控制电路（１０４）连接到串行总线接口（１１２），并且该测试访问控制电路（１０４）是可编程的，响应于来自ＪＴＡＧ接口（１０８）的测试模式选择（ＴＭＳ）信号而处于透明模式或测试模式。因此，提供了对隐藏的串行总线接口的通用访问，同时还保持了速度性能，从而在测试中的电路部分／设备仍然可以在设备规范下工作。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及集成电路领域，并且特别地涉及具有内部电路的系统 级封装(SIP)集成电路，期望通过串行总线接口与该内部电路通信。
技术介绍
在现代系统级封装(SIP)集成电路(IC)中，在一个封装中提供 不同的芯片组合以建立完整的系统。使用常见的串行总线接口 (SPI， 3-WIRE， uWIRE)可以方便地实现包含在这种SIP中的数字芯片与混 合信号/射频(RF )芯片之间的通信。为控制和调试特定的混合信号/RF 芯片，在芯片级上使用这个串行总线也是已知的。然而，当这种串行总线净皮嵌入到SIP内时， 一旦该SIP ^L制造， 则该串行总线接口变得不可访问。因此，系统测试，调试和所述混合 信号/RF部分的特性都被严重阻碍。为获得对SIP中不同芯片的访问和控制，所述访问必须重新建立。已知的方法是复用不可访问串行总线到其他引脚，但是对于不同 的结构，可能仍旧是不能实现所述访问，因为这些引脚没有连接到外 部封装引脚。已知可替代的方法是为所述IC提供专用的诊断电路接口 ，例如根 据IEEE标准1149.1提供的JTAG接口 。该JTAG接口标准规定JTAG 引脚在所述IC的封装上是可用的，因本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种集成电路，包括：　第一电路部分（１０６），其具有ＪＴＡＧ接口（１０８）和测试访问端口（１１０）；　第二电路部分（１１４），其具有串行总线接口（１１２）；和　测试访问控制电路（１０４），其经过测试访问端口（１１０）连接到ＪＴＡＧ接口（１０８），其中　第一电路部分（１０６）经过测试访问控制电路（１０４）连接到串行总线接口（１１２），并且测试访问控制电路（１０４）是可编程的，其响应于来自ＪＴＡＧ接口（１０８）的测试模式选择（ＴＭＳ）信号而处于透明模式或测试模式。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员：L范德洛格特，
申请(专利权)人：皇家飞利浦电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：NL[荷兰]