【技术实现步骤摘要】
一种电子模块抗高过载加固结构及方法
本专利技术涉及一种电子模块抗高过载加固结构及方法。
技术介绍
现有电子模块产品抗高过载性能较差,易受外力的冲击力影响,导致其中的电子元器件和线路板等可靠性差。
技术实现思路
本专利技术所要解决的技术问题是克服现有技术的缺陷,提供一种电子模块抗高过载加固结构及方法,提高了电子模块核心部件的抗高过载性能,降低了外力对核心电子部件的冲击力。为解决上述技术问题,本专利技术采用的技术方案如下:一种电子模块抗高过载加固结构,其特征是,包括灌封加固在电路板及其上的核心电子部件、导线外部的环氧树脂或发泡胶;灌封加固的核心电子部件设置在金属外壳内部,通过导线与金属外壳上的金属引出端焊接;灌封加固后的核心电子部件与金属外壳之间的空间中由硅胶灌封。进一步地,所述硅胶的硬度在10~50之间。进一步地,金属外壳的敞口由金属盖板盖合。进一步地,所述金属引出端烧结在金属外壳上。一种电子模块抗高过载加固方法,将电路板及其上的核心电子部件、导线使用环氧树脂 ...
【技术保护点】
1.一种电子模块抗高过载加固结构,其特征是,包括灌封加固在电路板及其上的核心电子部件、导线外部的环氧树脂或发泡胶;灌封加固的核心电子部件设置在金属外壳内部,通过导线与金属外壳上的金属引出端焊接;灌封加固后的核心电子部件与金属外壳之间的空间中由硅胶灌封。/n
【技术特征摘要】 【专利技术属性】
1.一种电子模块抗高过载加固结构,其特征是,包括灌封加固在电路板及其上的核心电子部件、导线外部的环氧树脂或发泡胶;灌封加固的核心电子部件设置在金属外壳内部,通过导线与金属外壳上的金属引出端焊接;灌封加固后的核心电子部件与金属外壳之间的空间中由硅胶灌封。
2.根据权利要求1所述的电子模块抗高过载加固结构,其特征是,所述硅胶的硬度在10~50之间。
3.根据权利要求1所述的电子模块抗高过载加固结构,其特征是,金属外壳的敞口由金属盖板盖合。
4.根据权利要求1所述的电子模块抗高过载加固结构,其特征是,所述金属引出端烧结在金属外壳上。
技术研发人员:吴力涛,杨翠侠,孙帮东,陈剑钧,孙凯,
申请(专利权)人:中国兵器工业集团第二一四研究所苏州研发中心,
类型:发明
国别省市:江苏;32
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