一种倍增CCD倍增增益及读出噪声测量方法技术

本发明专利技术提供一种倍增CCD倍增增益及读出噪声测量方法，在平场光下对EMCCD进行线性段内曝光，计算曝光后所得图像灰度信号的方差与均值，通过多组数据进行直线拟合并计算斜率，同时读出噪声表达截距；并按照给出的函数方程：

【技术实现步骤摘要】
一种倍增CCD倍增增益及读出噪声测量方法
本专利技术涉及一种倍增CCD倍增增益及读出噪声测量方法，属于电子元器件测试

技术介绍
EMCCD即电子倍增CCD，是探测领域内灵敏度极高的一种高端的光电探测产品。随着EMCCD的快速发展，已经被广泛的运用到了军事、天文等领域中，并渐渐的渗透到了人们日常生活所需的方方面面。EMCCD的量子效率高，对微光图像的探测效率强，是全固态电子倍增器件。它制造成本低、寿命长、稳定性高，而倍增增益可调的特性也使得其可以满足全天候、大动态范围的应用需求。而在鉴定检验测试中，对EMCCD现有的增益测试方法存在测试结果偏差较大，稳定性欠佳等问题，需要针对相应问题对现有方法进行改进，设计出精度更高、稳定性更强的测试方法。
技术实现思路
本专利技术的目的是为了能够获得更精确的倍增增益而提供一种倍增CCD倍增增益及读出噪声测量方法。本专利技术的目的是这样实现的：一种倍增CCD倍增增益及读出噪声测量方法，包括以下步骤：S1：设置倍增增益控制寄存器为x，EMCCD在平场光的线性曝光本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种倍增CCD倍增增益及读出噪声测量方法，其特征在于，包括以下步骤：/nS1：设置倍增增益控制寄存器为x，EMCCD在平场光的线性曝光下，对曝光时间t

【技术特征摘要】
1.一种倍增CCD倍增增益及读出噪声测量方法，其特征在于，包括以下步骤：
S1：设置倍增增益控制寄存器为x，EMCCD在平场光的线性曝光下，对曝光时间texp，得到图像灰度信号的数据，μout(texp)、并进行多组数据采集；
S2：通过下式：



由此得到的多组数据进行数据拟合，可将该数据拟合为一条直线，并通过计算得出直线斜率A*Mx*F*F及截距
其中:
texp为EMCCD线性段内(曝光)积分时间；

为平场光...

【专利技术属性】
技术研发人员：温强，金敬文，朱垚鑫，李平，王锋，
申请(专利权)人：哈尔滨工程大学，
类型：发明
国别省市：黑龙江;23