一种自动测试装置，用以测试一电子装置的多个按键，所述多个按键为一键盘矩阵的电路形式，所述自动测试装置包括： 一微控制芯片；以及 一按键连接电路，所述按键连接电路与所述微控制芯片及所述电子装置电性连接，所述按键连接电路包括： 一第一缓冲器，所述第一缓冲器与所述多个按键电性连接；以及 一第二缓冲器，所述第二缓冲器与所述多个按键电性连接，所述微控制芯片用以控制所述按键连接电路以达成以下机制： 传送一控制信号以导通所述第一缓冲器与所述第二缓冲器； 藉 由所述第一缓冲器传送一第一测试信号到所述电子装置； 藉由所述第二缓冲器传送一第二测试信号到所述电子装置； 藉由所述电子装置输出一正常的信号以代表所述多个按键作用正常；以及 使所述第一缓冲器与所述第二缓冲器断路。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种自动测试装置与方法，特别是涉及一种利用按键排列方式来进行测试 的测试装置与方法。
技术介绍
随着科技的进步，现在电子装置的生产与使用的需求量也日益增加。由于电子装置的 功能渐渐繁杂，使得在电子装置上按键数量也日趋繁多。 一般而言，生产线上都要先对半 成品的电子装置的按键进行测试以确定每个按键都能操作正常。但在现有技术当中，若在 测试流程中要测试电子装置的按键是否都能够正常操作，通常是利用人工或是机器的方 式， 一个一个按键地去测试，接着再去观察其是否有正常的信号产生。如此一来，平均大 约一秒钟才能测试一个按键。如果该项电子装置有16个按键，测试的时间就大约要花16 秒左右。对于在一般生产线上的测试流程来说，会很耗费人力与时间。因此需要专利技术一种新的测试装置与方法以解决现有技术所产生的问题。
技术实现思路
本专利技术的主要目的在于提供一种自动测试装置，以达到快速测试电子装置的按键的效果。本专利技术的另一主要目的在于提供一种自动测试装置测试电子装置的多个按键的自动 测试方法。为达到上述的目的，本专利技术的自动测试装置包括微控制芯片与按键连接电路。微控制 芯片具有编码的功能，可以编辑不同的测试流程。按键连接电路包括多个缓冲器。微控制 芯片与按键连接电路电性连接，用来控制按键连接电路内多个缓冲器。多个缓冲器再与电 子装置中的多个按键电性连接。本专利技术的自动测试方法为传送一控制信号以导通第一纵向缓冲器与第一横向缓冲 器；藉由第一纵向缓冲器传送一第一测试信号到该电子装置；藉由该第二缓冲器传送一第 二测试信号到该电子装置；藉由该电子装置输出一正常的信号以代表该多个按键作用正常 (functionallynormal);以及使该第一缓冲器与该第二缓冲器断路。附图说明图l是本专利技术的自动测试装置与一电子装置的连接示意图。 图2是本专利技术的自动测试方法的流程图。主要组件符号说明: 自动测试装置IO微控制芯片20按键连接电路30第一纵向缓冲器31a 第三纵向缓冲器31c 第一横向缓冲器32a 第三横向缓冲器32c 电子装置90第二纵向缓冲器31b 第四纵向缓冲器31d 第二横向缓冲器32b 第四横向缓冲器32d 多个按键B1 B16行导线C1 C4列导线R1 R具体实施例方式为了让本专利技术的上述和其他目的、特征和优点能更明显易懂，下文特举出本专利技术的具 体实施例，并配合所附附图，作详细说明如下。请先参考图1，图1是本专利技术的自动测试装置与一电子装置的连接示意图。如图1所示，本专利技术的自动测试装置10与电子装置90电性连接，该自动测试装置10 设有一微控制芯片20与一按键连接电路30，用来测试电子装置90中多个按键作用是否正 常。而待测的电子装置90具有多个按键，例如智能型手机，但本专利技术并不以此为限。其中电子装置90的多个的按键为键盘矩阵(Keyboard Matrix)的电路形式。键盘矩 阵是由按键设置在行导线与列导线交错排列而成，每一行导线与列导线交错之处对应一按 键。例如在本实施例中，电子装置90为具有16个按键B1 B16的电子装置，也就是由键 盘矩阵的行导线C1 C4及列导线R1 R4交错排列成多个按键B1 B16。需注意的是，本 专利技术的自动测试装置10所能测试的电子装置90并不以上述的按键数量及排列方式为限。该微控制芯片20与该按键连接电路30电性连接。微控制芯片20可为一 8051芯片， 但本专利技术并不以此为限。微控制芯片20具有编码的功能，可以依照不同的测试流程进行 不同的流程编码，并且可以进行优化处理，让测试流程有最短的执行时间。按键连接电路 30包括了多个缓冲器，在本实施例中，按键连接电路30可以包括第一纵向缓冲器31a到 第四纵向缓冲器31d及第一横向缓冲器32a到第四横向缓冲器32d。多个纵向缓冲器与多 个横向缓冲器彼此之间互相电性连接。缓冲器的数量可以依照按键的数量及排列方式作改 变。微控制芯片20与按键连接电路30电性连接，用来控制按键连接电路30内的多个缓冲器。多个缓冲器再与电子装置90中的多个按键电性连接。每一纵向缓冲器与横向缓冲器都分别与行导线与列导线连接。例如在本实施例中，第 —纵向缓冲器31a与键盘矩阵的行导线Cl的B13、 B9、 B5及B1连接，第一横向缓冲器 32a与键盘矩阵的列导线Rl的B1、 B2、 B3及B4连接。再者，第二纵向缓冲器31b与行导线C2上的B14、 BIO、 B6及B2导接；第二横向 缓冲器32b与列导线R2上的B5、 B6、 B7及B8导接；再者，第三纵向缓冲器31C与行 导线C3上的B15、 Bl 1、 B7及B3导接；第三横向缓冲器32C与列导线R3上的B9、 BIO、 B11及B12导接；又，第四纵向缓冲器31d与行导线C4上的B16、 B12、 B8及B4导接； 而第四横向缓冲器32d与列导线R4上的B13、 B14、 B15及B16导接。再者，微控制芯片20就能藉由控制多个缓冲器以测试多个按键作用是否正常。接下来请参考图2，关于本专利技术的自动测试方法的流程图。需注意的是，以下为了便 于说明，是以图1所示的自动测试装置10与电子装置90为例说明本专利技术的自动测试方法 的，但本专利技术并不以此为限。本专利技术首先进行步骤201:对微控制芯片进行编码以执行后续的测试流程。首先，要先对微控制芯片20进行编码。使用者先针对所要测试的电子装置90来编写 测试流程。并且为了要有最短的处理时间，还需要配合按键的数量与其键盘矩阵的排列方 式来对测试流程进行优化处理。当测试流程确定之后就开始执行此测试流程，即进行步骤 202。步骤202:藉由微控制芯片传送控制信号以导通纵向缓冲器与横向缓冲器。在步骤202中，本专利技术可藉由微控制芯片20先对按键连接电路30传送一控制信号， 该控制信号用以让其中一个纵向缓冲器与一个横向缓冲器导通，使得该纵向缓冲器与该横 向缓冲器得以传送信号。在本实施例中是以先测试按键B1及交错成按键B1的行导线C1 与列导线Rl为例进行说明。微控制芯片20先使第一纵向缓冲器31a与第一横向缓冲器 32a导通。需注意的是，本专利技术并不以上述的方式为限。在步骤202中也可以让第一纵向缓冲器 31a与第三横向缓冲器32c导通以测试按键B9及交错成按键B9的行导线Cl与列导线R3。接着进行步骤203:藉由该纵向缓冲器传送一第一测试信号到电子装置。当第一纵向缓冲器31a导通时，微控制芯片20会经由第一纵向缓冲器31a传送一第一测试信号到电子装置90的行导线Cl。并且同时进行步骤204:藉由该横向缓冲器传送一第二测试信号到电子装置。当第一横向缓冲器32a导通时，微控制芯片20也会经由第一横向缓冲器32a同时传 送一第二测试信号到电子装置90的列导线Rl。在该按键Bl作用正常的情况下，当电子装置90的行导线Cl在步骤203中被输入第 一测试信号，并且列导线R1在步骤204中被输入第二测试信号时，就相当于按下按键B1。 接着再去判断按键B1是否有输出一正常的信号在一屏幕或是其他的显示装置(图未示) 上。若电子装置90有输出所述正常的信号，就代表按键B1与其相关的键盘矩阵的电路的 作用都是正常的。换句话说，藉由第一纵向缓冲器31a对行导线Cl输入第一测试信号， 并由第一横向缓冲器32a对列本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种自动测试装置，用以测试一电子装置的多个按键，所述多个按键为一键盘矩阵的电路形式，所述自动测试装置包括： 一微控制芯片；以及 一按键连接电路，所述按键连接电路与所述微控制芯片及所述电子装置电性连接，所述按键连接电路包括：一第一缓冲器，所述第一缓冲器与所述多个按键电性连接；以及 一第二缓冲器，所述第二缓冲器与所述多个按键电性连接，所述微控制芯片用以控制所述按键连接电路以达成以下机制： 传送一控制信号以导通所述第一缓冲器与所述第二缓冲器； 藉由所述第一缓冲器传送一第一测试信号到所述电子装置； 藉由所述第二缓冲器传送一第二测试信号到所述电子装置； 藉由所述电子装置输出一正常的信号以代表所述多个按键作用正常；以及 使所述第一缓冲器与所述第二缓冲器断路。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：廖彦维，
申请(专利权)人：纬创资通股份有限公司，
类型：发明
国别省市：71
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