基于粗定位和协同表示的高光谱异常点快速检测方法技术

本发明专利技术公开了一种基于粗定位和协同表示的高光谱异常点快速检测方法，首先对输入的高光谱遥感影像进行空间维降质；然后对降质后的图像和原始图像进行对比，粗定位异常点；将粗定位的异常点用于指导空间维像素间的协同表示，通过设置合适的内外窗大小，将内外窗之间当前的所有背景点像元用于协同表示，重构中心点像元，并通过衡量重构中心点像元与实际像元之间的差异，获取最终的空间异常响应图；最后设定阈值，根据空间异常响应图进行异常点的检测，得到最终的异常与背景检测图。本发明专利技术在减少计算复杂度的同时解决了现有技术中存在的高光谱遥感影像异常检测方法检测精度不高的问题。

【技术实现步骤摘要】
基于粗定位和协同表示的高光谱异常点快速检测方法
本专利技术属于遥感影像
，具体涉及一种基于粗定位和协同表示的高光谱异常点快速检测方法。
技术介绍
20世纪80年代，随着遥感技术的迅速发展，高光谱图像技术得到了广泛的关注，并逐渐成为遥感科学领域的一个重要研究方向。高光谱图像往往被定义为光谱分辨率在10纳米范围内的光谱图像，其波段可达数百条甚至数千条。搭载在不同空间平台上的光谱成像仪以成百上千的连续光谱记录目标区域，使得高光谱影像不但能获取到成像物体的空间信息，还能获得该物体的光谱信息，得到的是一个三维的立方体数据，其中两维是空间维，一维是光谱维。高光谱遥感影像丰富的光谱信息，可以用于反演空间上任意一点的物质属性。通过分析高光谱影像中光谱信息和空间信息，用于区分图像中的背景地物和异常信息，使得高光谱遥感影像被广泛应用于军事侦察，矿产探测，以及环境监测等领域。然而，由于高光谱影像的高维性，使得现有的异常检测算法计算代价较高。同时由于地表地物分布的复杂性，异常物体的尺寸小，导致异常目标往往以少数几个像元的形式存在，难以区分背景与异常目标。如何实现背景与异常快速且有效的检测，是高光谱遥感影像异常检测方法要解决的问题。
技术实现思路
本专利技术的目的是提供一种基于粗定位和协同表示的高光谱异常点快速检测方法，解决了现有技术中存在的高光谱遥感影像异常检测方法效率低且检测精度不高的问题。本专利技术所采用的技术方案是，一种基于粗定位和协同表示的高光谱异常点快速检测方法，具体按照以下步骤实施：r>步骤1、对输入的高光谱遥感影像进行空间维降质；步骤2：对步骤1中降质后的图像和原始图像进行对比，粗定位异常点；步骤3：将步骤2粗定位的异常点用于指导空间上像素间的协同表示，通过设置合适的内外窗大小，将内外窗之间的所有粗定位为背景点的像元进行协同表示，重构中心点像元，并通过衡量重构中心点像元与实际像元之间的差异，获取最终的空间异常响应图；步骤4：设定阈值，根据步骤3中的空间异常响应图进行异常点的检测，得到最终的异常与背景检测图。本专利技术的特点还在于，步骤1具体按照以下步骤实施：步骤1.1、设置下采样率位0.5，相应的上采样率为2，相应的上下采样方式均为双三次插值方式；步骤1.2、对输入的原始高光谱遥感影像X按照步骤1.1中设置的下采样率和方式进行下采样；步骤1.3、将步骤1.2中下采样后的影像按照上步骤1.1中设置的上采样率和方式进行上采样，得到空间降质的高光谱遥感影像其大小与原始高光谱遥感影像X一致。步骤2具体按照以下步骤实施：步骤2.1、将步骤1.3中得到的空间降质的高光谱遥感影像和原始高光谱遥感影像X相减，得到三维差影像D；步骤2.2、计算步骤2.1中三维差影像D空间上任一点所对应光谱曲线的一阶范数，得到二维的一阶范数分布图M；步骤2.3、设定阈值k用于步骤2.2中二维的一阶范数分布图M中异常的粗定位，将步骤2.2中得到的一阶范数分布图M中排名前k的像素点标记为1，粗略地定为异常点，其余像素点标记为0，即暂认为是背景点，得到标记图p；此处设置k为12％。步骤3具体按照以下步骤实施：步骤3.1、设置内窗大小win为11，外窗大小wout为19；步骤3.2、记录原始高光谱遥感影像X空间维的宽与高分别为w和h；步骤3.3、将原始高光谱遥感影像X沿着空间维的四条边分别进行镜面复制，得到空间维宽和高分别为3*w和3*h的高光谱遥感影像Y；步骤3.4、将步骤2得到的标记图p采用步骤3.3中相同方式进行镜面复制，得到空间维宽和高分别为3*w和3*h的标记图Q；步骤3.5、将标记图Q用于指导高光谱遥感影像Y中像元之间的系统表示，最终得到空间异常响应图。步骤3.5具体按照以下步骤实施：步骤3.5.1、在高光谱遥感影像Y中，内外窗中心点同时以先行后列顺序进行遍历，其中每次遍历间隔为1个像素，宽的遍历范围为w+1到2*w，高的遍历范围为h+1到2*h，记录当前中心点的光谱曲线l；步骤3.5.2、找到当前中心点内外窗之间的所有光谱曲线，构成光谱集合S，共包含条光谱曲线，并记录相应坐标；步骤3.5.3、找到步骤3.5.2中条光谱曲线相应坐标在步骤3.4所得标记图中的标记，如果标记为1则从光谱集合S中排除该条光谱曲线，若标记为0则保留该条光谱曲线，所有被保留的光谱曲线构成光谱集合SS，共包含n条光谱曲线；步骤3.5.4、通过主成分分析找到光谱集合SS中的前50个主成分；步骤3.5.5、以步骤3.5.4中前50个主成分的协方差矩阵代替光谱集合SS中全部光谱曲线的协方差矩阵，计算光谱集合SS中所有光谱曲线的马氏距离；步骤3.5.6、将步骤3.5.5中所得的马氏距离分别除以所有光谱曲线的马氏距离总和，得到光谱集合SS中每条光谱曲线的权重，以保证所有权重累加和为1；步骤3.5.7、将步骤3.5.6中所得的权重与对应的光谱曲线相乘后累加，得到当前中心点的重构光谱曲线步骤3.5.8、将3.5.7中的重构光谱曲线与步骤3.5.1中记录的光谱曲线l相减，得到光谱差曲线ld；步骤3.5.9、计算并记录光谱差曲线ld的一阶范数，作为当前中心点的重构误差，即当前中心点处的异常响应值；步骤3.5.10、遍历步骤3.5.1～步骤3.5.9，直至高光谱遥感影像Y完成了宽从w+1到2*w的遍历，且高完成了从h+1到2*h的遍历，得到最终的异常响应图H。步骤4具体按照以下步骤实施：针对步骤3中得到的异常响应图H，设定响应阈值t，其中异常响应图H中大于阈值t的坐标判定为异常点，反之则判定为背景像元点，即得到最终的异常与背景检测图。本专利技术的有益效果是，一种基于粗定位和协同表示的高光谱异常点快速检测方法，将原始高光谱图像首先按照一定比例进行下采样，并将下采样后的影像按照对应比例上采样，进行原始高光谱遥感影像的降质。降质后的高光谱遥感影像与原始高光谱遥感影像进行对比，通过计算空间上每一像素点的一阶范数，根据一阶范数值找到部分高信度的异常点。然后，通过内外滑窗遍历空间上的像素，在排除高信度的异常点的前提下，将内外窗之间的像素当成背景像素协同表示中心点，并将表示的中心点与实际中心点进行对比，由一阶范数进行衡量，差距较大的则认为是异常点。利用图像中大量的背景信息均表现为低频分量，而异常这类区别于背景的细节信息则以高频的形式存在于图像之中，且图像降质过程中损失的也都是一些高频细节信息，从而通过衡量降质图像与原始图像之间的差异，快速且粗略的定位异常点，并指导背景像素的协同表示过程，从而有效且快速的进行高光谱遥感影像中异常点的检测。通过简单的降质操作，快速定位一些高信度的异常点，并在协同表示的过程中排除这些高信度异常点，一方面避免异常点对于表示过程的干扰，保证了检测精度；另一方面减少了表示光谱的个数，提高了方法效率。附图说明图1是本专利技术的具体实施本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种基于粗定位和协同表示的高光谱异常点快速检测方法，其特征在于，具体按照以下步骤实施：/n步骤1、对输入的高光谱遥感影像进行空间维降质；/n步骤2：对步骤1中降质后的图像和原始图像进行对比，粗定位异常点；/n步骤3：将步骤2粗定位的异常点用于指导空间上像素间的协同表示，通过设置合适的内外窗大小，将内外窗之间的所有粗定位为背景点的像元进行协同表示，重构中心点像元，并通过衡量重构中心点像元与实际像元之间的差异，获取最终的空间异常响应图；/n步骤4：设定阈值，根据步骤3中的空间异常响应图进行异常点的检测，得到最终的异常与背景检测图。/n

【技术特征摘要】
1.一种基于粗定位和协同表示的高光谱异常点快速检测方法，其特征在于，具体按照以下步骤实施：
步骤1、对输入的高光谱遥感影像进行空间维降质；
步骤2：对步骤1中降质后的图像和原始图像进行对比，粗定位异常点；
步骤3：将步骤2粗定位的异常点用于指导空间上像素间的协同表示，通过设置合适的内外窗大小，将内外窗之间的所有粗定位为背景点的像元进行协同表示，重构中心点像元，并通过衡量重构中心点像元与实际像元之间的差异，获取最终的空间异常响应图；
步骤4：设定阈值，根据步骤3中的空间异常响应图进行异常点的检测，得到最终的异常与背景检测图。


2.根据权利要求1所述的一种基于粗定位和协同表示的高光谱异常点快速检测方法，其特征在于，所述步骤1具体按照以下步骤实施：
步骤1.1、设置下采样率位0.5，相应的上采样率为2，相应的上下采样方式均为双三次插值方式；
步骤1.2、对输入的原始高光谱遥感影像X按照步骤1.1中设置的下采样率和方式进行下采样；
步骤1.3、将步骤1.2中下采样后的影像按照上步骤1.1中设置的上采样率和方式进行上采样，得到空间降质的高光谱遥感影像其大小与原始高光谱遥感影像X一致。


3.根据权利要求2所述的一种基于粗定位和协同表示的高光谱异常点快速检测方法，其特征在于，所述步骤2具体按照以下步骤实施：
步骤2.1、将步骤1.3中得到的空间降质的高光谱遥感影像和原始高光谱遥感影像X相减，得到三维差影像D；
步骤2.2、计算步骤2.1中三维差影像D空间上任一点所对应光谱曲线的一阶范数，得到二维的一阶范数分布图M；
步骤2.3、设定阈值k用于步骤2.2中二维的一阶范数分布图M中异常的粗定位，将步骤2.2中得到的一阶范数分布图M中排名前k的像素点标记为1，粗略地定为异常点，其余像素点标记为0，即暂认为是背景点，得到标记图p；此处设置k为12％。


4.根据权利要求3所述的一种基于粗定位和协同表示的高光谱异常点快速检测方法，其特征在于，所述步骤3具体按照以下步骤实施：
步骤3.1、设置内窗大小win为11，外窗大小wout为19；
步骤3.2、记录原始高光谱遥感影像X空间维的宽与高分别为w和h；
步骤3.3、将原始高光谱遥感影像X沿着空间维的四条边分别进行镜面复制，得到空间维宽和高分别为3*w和3*h的高光谱遥感影像Y；
步骤3....

【专利技术属性】
技术研发人员：胡静，陈绘琳，赵明华，
申请(专利权)人：西安理工大学，
类型：发明
国别省市：陕西;61