一种光学信息检测方法、装置及设备制造方法及图纸

本申请适用于光学技术领域，提供了一种光学信息检测方法，包括：获取第一成像模组采集的第一图像，所述第一图像包括目标全场投影图案；对所述第一图像进行特征提取，得到第一特征信息；获取预设参考全场投影图案的第二特征信息、第一图形信息；计算所述第一特征信息和所述第二特征信息之间的第一映射关系；根据所述第一映射关系将所述第一图形信息映射至所述目标全场投影图案，得到所述目标全场投影图案对应的第二图形信息；根据所述第二图形信息，计算目标光学信息。上述方法，可兼容投影组件投影的投影图案为规则或非规则两种情况，即在投影组件投影的散斑图案中，无论零级散斑图案是否具有全局唯一性，都可以准确的对光学信息进行检测。

【技术实现步骤摘要】
一种光学信息检测方法、装置及设备
本申请属于光学
，尤其涉及一种光学信息检测方法、装置及设备。
技术介绍
基于结构光或飞行时间(Timeofflight,，TOF)技术的深度测量系统都包括发射端与接收端，在系统使用前需要对发射端与接收端的光学信息进行检测，例如，发射端中光学衍射元件与光源之间的相对旋转角度信息、发射端与接收端的光轴偏转角度信息等等。现有的光学信息的检测方法是利用灰度相似性进行图像特征计算，从而计算光学参数信息。在利用灰度相似性进行图像特征计算时，需要零级的投影图案具有全局唯一的特性。但是，当投影图案规则排列时，形成的零级的投影图案不具有唯一性，无法准确的在这种情况下计算光学信息。
技术实现思路
本申请实施例提供了一种光学信息检测方法、装置及设备，可以解决当投影图案规则排列时，无法准确计算光学信息的问题。第一方面，本申请实施例提供了一种光学信息检测方法，包括：获取第一成像模组采集的第一图像，所述第一图像包括目标全场投影图案；对所述第一图像进行特征提取，得到第一特征信息；...

【技术保护点】
1.一种光学信息检测方法，其特征在于，包括：/n获取第一成像模组采集的第一图像，所述第一图像包括目标全场投影图案；/n对所述第一图像进行特征提取，得到第一特征信息；/n获取预设参考全场投影图案的第二特征信息、第一图形信息，所述图形信息包括零级信息和/或次级信息；/n计算所述第一特征信息和所述第二特征信息之间的第一映射关系；/n根据所述第一映射关系将所述第一图形信息映射至所述目标全场投影图案，得到所述目标全场投影图案对应的第二图形信息；/n根据所述第二图形信息，计算目标光学信息。/n

【技术特征摘要】
1.一种光学信息检测方法，其特征在于，包括：
获取第一成像模组采集的第一图像，所述第一图像包括目标全场投影图案；
对所述第一图像进行特征提取，得到第一特征信息；
获取预设参考全场投影图案的第二特征信息、第一图形信息，所述图形信息包括零级信息和/或次级信息；
计算所述第一特征信息和所述第二特征信息之间的第一映射关系；
根据所述第一映射关系将所述第一图形信息映射至所述目标全场投影图案，得到所述目标全场投影图案对应的第二图形信息；
根据所述第二图形信息，计算目标光学信息。


2.如权利要求1所述的光学信息检测方法，其特征在于，所述第一特征信息为所述目标全场投影图案中的目标全场散斑点，所述第二特征信息为所述参考全场投影图案中的参考全场散斑点；
所述计算所述第一特征信息和所述第二特征信息之间的第一映射关系，包括：
计算所述目标全场散斑点和所述参考全场散斑点之间的初始映射关系；
根据预设散斑局部对应关系和所述初始映射关系，确定所述目标全场散斑点和所述参考全场散斑点之间的映射关系。


3.如权利要求1所述的光学信息检测方法，其特征在于，所述目标光学信息包括所述目标全场投影图案的亮暗分布信息和/或所述目标全场投影图案的视场角信息。


4.如权利要求1所述的光学信息检测方法，其特征在于，投影所述目标全场投影图案的投影组件包括光源和衍射光学元件，所述光源为多个垂直腔面发射激光器VCSEL组成的阵列；
所述目标光学信息包括所述衍射光学元件与所述光源的相对偏转信息和/或所述阵列的VCSEL缺失情况信息。


5.如权利要求1所述的光学信息检测方法，其特征在于，所述第一特征信息包括目标全场散斑点的内部特征、目标全场散斑的角点特征、目标全场散斑的边缘曲线特征中的一种或多种。


6.如权利要求1所述的光学信息检...

【专利技术属性】
技术研发人员：杨鹏，李文建，王兆民，
申请(专利权)人：深圳奥比中光科技有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44