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本申请适用于光学技术领域，提供了一种光学信息检测方法，包括：获取第一成像模组采集的第一图像，所述第一图像包括目标全场投影图案；对所述第一图像进行特征提取，得到第一特征信息；获取预设参考全场投影图案的第二特征信息、第一图形信息；计算所述第一特...
该专利属于深圳奥比中光科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳奥比中光科技有限公司授权不得商用。

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