一种数字图像相关变形测量数据处理时长预测方法技术

本发明专利技术是一种数字图像相关变形测量数据处理时长预测方法，对数字图像相关法数据进行子集划分后，根据划分得到的单个子集的大小不同进而对数据处理时长进行预测，具体步骤如下：步骤1，确定DIC图像在横向上的划分数目；步骤2，确定DIC图像在纵向上的划分数目；步骤3，建立单帧图像计算子集数量的计算模型；步骤4，建立单帧图像处理时长的计算模型；步骤5，建立DIC图像相关变形测量的数据处理总时长预测模型。该种方法能够对不同工况下的数字图像相关变形测量数据处理所耗费的时长进行估计，得到精准的计算时耗。

【技术实现步骤摘要】
一种数字图像相关变形测量数据处理时长预测方法
本专利技术是涉及数字图像相关变形测量
，具体的说是一种数字图像相关变形测量数据处理时长预测方法。
技术介绍
数字图像相关法(DigitalImageCorrelation，简称DIC)是一种利用图像进行变形测量的光学方法。该方法融合计算机视觉技术、光电技术以及图像处理技术，实现了高精度变形的非接触测量。该技术的环境适应能力较强，基本上达到了能看清即可测量的水平，已经在复合材料力学试验等领域中得到了广泛应用并取得了良好的效果DIC技术的基本原理是对被测对象变形前后的图像数据进行分析。首先通过一台或多台工业相机获取被测对象变形过程的图像数据，然后通过数字图像相关算法将被测对象的变形图分成若干子区域并计算子区域的灰度信息的相关性。将相关性最大的区域确定为变形后的子区域，进而算得该子区域的位移信息。使用DIC技术进行变形场测量时高的图像匹配度，高的图像分辨率以及密集的数据点是获得高质量试验结果的必要条件，但这将显著增加DIC数据处理时间。为了在保证试验结果质量的同时让DIC试验数据处理本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种数字图像相关变形测量数据处理时长预测方法，其特征在于：对数字图像相关法数据进行子集划分后，根据划分得到的单个子集的大小不同进而对数据处理时长进行预测，具体步骤如下：/n步骤1，确定DIC图像在横向上的划分数目N

【技术特征摘要】
1.一种数字图像相关变形测量数据处理时长预测方法，其特征在于：对数字图像相关法数据进行子集划分后，根据划分得到的单个子集的大小不同进而对数据处理时长进行预测，具体步骤如下：
步骤1，确定DIC图像在横向上的划分数目NL；
步骤2，确定DIC图像在纵向上的划分数目NT；
步骤3，建立单帧图像计算子集数量的计算模型；
步骤4，建立单帧图像处理时长的计算模型；
步骤5，建立DIC图像相关变形测量的数据处理总时长预测模型。


2.如权利要求1所述的一种数字图像相关变形测量数据处理时长预测方法，其特征在于：所述的对数字图像相关法数据进行子集划分采用由数字图像中心进行划分的方法。


3.如权利要求1所述的一种数字图像相关变形测量数据处理时长预测方法，其特征在于：所述的步骤1中DIC图像在横向上的划分数目NL的计算方式如下：



其中，HROI表示DIC图像的长度，单位：pixels；Lsubset表示计算子集长度，单位：pixels；Lstep表示计算步长长度，单位：pixels；表示取整函数；所述的子集为正方形结构。


4.如权利要求3所述的一种数字图像相关变形测量数据处理时长预测方法，其特征在于：所述的步骤2中DIC图像在纵向上的划分数目NT的...

【专利技术属性】
技术研发人员：宋迎东，于国强，高希光，杜金康，梁小强，张世榕，谢楚阳，
申请(专利权)人：南京航空航天大学，
类型：发明
国别省市：江苏;32