【技术实现步骤摘要】
一种陶瓷基复合材料的细观结构表征方法
本专利技术属于陶瓷基纤维束复合材料细观结构表征领域,具体涉及一种陶瓷基复合材料的细观结构表征方法。
技术介绍
对于陶瓷基纤维束复合材料,材料的截面积以及纤维、孔隙体积含量等参数对于材料力学性能的表征具有重要的意义。它是编织陶瓷基复合材料中承载的基本单元,由一束SiC纤维束经过与编织陶瓷基复合材料相同的制造工艺获得的。当前,计算材料的截面积时,可以首先通过比重瓶法测量材料的密度,并通过单位长度的质量,从而得出材料的截面积。并再次通过相同方法,获得纤维的截面积,从而分别获得纤维、基体和孔隙的体积分数。然而排水法在实际操作过程中,由于材料本身较小且操作流程复杂,使得排水法的结果准确率不高。随着图像处理技术以及无损检测设备的进步,获得上述参数有了更加方便的计算方式。XCT(X-rayComputedTomography)扫描凭借其不破坏物体但可以观察到内部结构的特点,应用广泛。它可以扫描陶瓷基复合材料复杂预制体并产生一系列包含材料内部结构信息连续切片。然而,陶瓷基纤维束复合材料由 ...
【技术保护点】
1.一种陶瓷基复合材料的细观结构表征方法,其特征在于,包括如下步骤:/n步骤一:对陶瓷基复合材料进行XCT扫描,导出垂直于材料轴向的一系列含有距离标尺的原始切片;/n步骤二:根据标尺计算出切片中每个像素的面积Every_Pixel_Area;/n步骤三:确定并裁剪出材料所在的矩形区域,记录裁剪框的长宽,获得裁剪后的图像;/n步骤四:确定图像基体和纤维、孔隙的像素值分布范围,将孔隙像素值均设为0,基体和纤维像素值设为预设值Matrix_Fiber_Value,获得图像Crop_Image_1;/n步骤五:使用Canny边缘计算方法,获得仅包含材料边缘的二值图像,并获得材料最外 ...
【技术特征摘要】
1.一种陶瓷基复合材料的细观结构表征方法,其特征在于,包括如下步骤:
步骤一:对陶瓷基复合材料进行XCT扫描,导出垂直于材料轴向的一系列含有距离标尺的原始切片;
步骤二:根据标尺计算出切片中每个像素的面积Every_Pixel_Area;
步骤三:确定并裁剪出材料所在的矩形区域,记录裁剪框的长宽,获得裁剪后的图像;
步骤四:确定图像基体和纤维、孔隙的像素值分布范围,将孔隙像素值均设为0,基体和纤维像素值设为预设值Matrix_Fiber_Value,获得图像Crop_Image_1;
步骤五:使用Canny边缘计算方法,获得仅包含材料边缘的二值图像,并获得材料最外侧的边缘矩阵Edge,将边缘的像素值表示在裁剪后的图像上进行对比;
步骤六:使用8连通区域对图像区域进行标记,结合闭运算操作使得标记区域数量为1,并使用像素值Value对该区域进行填充,记录该区域所包含的像素总数All_Sectional_Pixel,获得图像BW3;
步骤七:使用每个像素的面积Every_Pixel_Area与像素总数All_Sectional_Pixel相乘得出材料的横截面积Area_Mini;
步骤八:循环检测满足图像Crop_Image_1内像素值为0与图像BW3内像素值为1的坐标,记录为Location_Hole矩阵;
步骤九:比较边缘矩阵Edge与Location_Hole矩阵重合的像素坐标,并将其从Location_Hole矩阵中剔除,记录孔隙的像素数量Count_Hole,获得孔隙的截面积Area_Hole;
步骤十:计算纤维的截面积Area_Fiber以及体积含量Ratio_Fiber,并结合材料的横截面积Area_Mini、孔隙的截面积Area_Hole,计算基体和界面的截面积Area_Matrix_Interface以及体积含量Ratio_Matrix_Interface;
步骤十一:对每一张切片进行步骤二到步骤十的处理后,获得各细观组分分别在切片上的位置并进行表征。
2.如权利要求1所述的一种陶瓷基复合材料的细观结构表征方法,其特征在于:所述步骤二中,确定标尺在切片中的行数,并计算标尺长度所占的像素数量,使用标尺的总长度Ruler_Length除以其所占的像素数量,得出每个像素的长度Unit...
【专利技术属性】
技术研发人员:宋迎东,贾蕴发,高希光,于国强,谢楚阳,杜金康,孟维康,
申请(专利权)人:南京航空航天大学,
类型:发明
国别省市:江苏;32
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