芯片验证系统、芯片验证方法、终端及存储介质技术方案

本申请实施例提供了一种芯片验证系统、芯片验证方法、终端及存储介质，涉及芯片验证技术领域。该系统包括：激励生成模块，用于根据预设的功能场景生成相应的激励；待测模块，用于响应于激励生成输出结果，输出结果用于表示待测模块在预设的功能场景下的测试结果；比较模块，用于对输出结果和预测结果进行比较，并且响应于输出结果与预测结果不相符，生成错误信息集合，其中，错误信息集合包括至少一个错误信息，错误信息用于指示输出结果存在的错误；分类模块，用于基于错误信息集合中的各个错误信息的类别，生成与各个错误信息相对应的问题描述信息。申请实施例提升了芯片验证的效率。

【技术实现步骤摘要】
芯片验证系统、芯片验证方法、终端及存储介质
本申请实施例涉及芯片验证
，特别涉及一种芯片验证系统、芯片验证方法、终端及存储介质。
技术介绍
随着集成电路的发展，芯片设计对验证的要求越来越高。在相关技术中，通常基于UVM(UniversalVertificationMethodology，通用验证方法学)来搭建验证平台。验证平台搭建完成之后，需要向被测模块发送各种场景的激励，被测模块对上述各种场景的激励进行处理之后，通常会暴露出被测模块的很多问题，例如，代码不正确、VIP(VerificationIP，验证模型)使用错误等等。
技术实现思路
本申请实施例提供一种芯片验证系统、芯片验证方法、终端及存储介质。所述技术方案如下：一方面，本申请实施例提供一种芯片验证系统，所述系统包括：激励生成模块，用于根据预设的功能场景生成相应的激励；待测模块，用于响应于所述激励生成输出结果，所述输出结果用于表示所述待测模块在所述预设的功能场景下的测试结果；比较模块，用于对所述输出结果和预测结果进行比较，并且响应于所述输出结果与所述预测结果不相符，生成错误信息集合，其中，所述错误信息集合包括至少一个错误信息，所述错误信息用于指示所述输出结果存在的错误；分类模块，用于基于所述错误信息集合中的各个错误信息的类别，生成与所述各个错误信息相对应的问题描述信息。另一方面，本申请实施例提供一种芯片验证方法，应用于芯片验证系统中，所述方法包括：根据预设的功能场景生成相应的激励；响应于所述激励生成输出结果，所述输出结果用于表示所述芯片验证系统中的待测模块在所述预设的功能场景下的测试结果；对所述输出结果和预测结果进行比较；响应于所述输出结果与所述预测结果不相符，生成错误信息集合，其中，所述错误信息集合包括至少一个错误信息，所述错误信息用于指示所述输出结果存在的错误；基于所述错误信息集合中的各个错误信息的类别，生成与所述各个错误信息相对应的问题描述信息。另一方面，本申请实施例提供一种终端，所述终端包括处理器和存储器，所述存储器存储有计算机程序，所述计算机程序由所述处理器加载并执行以实现如上述方面所述的芯片验证方法。又一方面，本申请实施例提供一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质中存储有计算机程序，所述计算机程序由处理器加载并执行以实现如上述方面所述的芯片验证方法。又一方面，本申请实施例提供提供了一种计算机程序产品，该计算机程序产品包括计算机指令，该计算机指令存储在计算机可读存储介质中。计算机设备的处理器从计算机可读存储介质读取该计算机指令，处理器执行该计算机指令，使得该计算机设备执行上述方面提供的芯片验证方法。本申请实施例提供的技术方案可以带来如下有益效果：通过分类模块对芯片验证过程中产生的错误信息进行分类，得到导致该错误信息的原因，本申请实施例可以实时的完成对错误信息的自动分类，使得技术人员可以根据错误信息对应的问题类型快速定位出芯片设计中出现的问题，极大的减少了Debug的时间，提升了芯片验证的效率。附图说明图1是本申请一个实施例提供的分类器的示意图；图2是本申请一个实施例提供的芯片验证系统的示意图；图3是本申请另一个实施例提供的芯片验证系统的示意图；图4是本申请一个实施例提供的芯片验证方法的流程图；图5是本申请一个实施例提供的分类器训练方法的流程图；图6是本申请一个实施例提供的RBF的变化曲线图；图7是本申请一个实施例提供的终端的结构框图。具体实施方式为使本申请的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对本申请实施方式作进一步地详细描述。在对本申请实施例进行介绍说明之前，首先对本申请中涉及的一些名词进行解释说明。1、芯片验证：检测芯片上运行的程序是否存在bug(错误)的过程。芯片验证方法包括：动态功能验证、随机或定向功能验证、断言、混合功能验证、静态功能验证等。动态功能验证中的输入图形或激励信号是在一段时间(几个时钟周期)内生成并应用于设计的，相应结果会被用于与参考或黄金模型进行比较，以检验其与规范之间的一致性；随机功能验证是通过为设计提供随机激励信号来增加验证的测试空间；断言用来描述与设计相关联的假设及工作特性(包括暂时的特性)，如果设计满足或未满足规范或假设，则断言将会在一个动态仿真过程中被触发，断言还可以在形式或静态功能验证环境中使用；混合功能验证通常执行动态仿真，仿真结果被用作静态验证的输入。在静态验证过程中，在设计中传播的是逻辑方程式/符号；在静态功能验证中，不向设计施加输入激励，而是将设计映射在一个图形结构中，用双择判决图(BDD，BinaryDecisionDigraph)或其他数学表示方法来描述所有时间周期内的设计功能。2、分类器：分类器也可以称之为分类模型，是用于对数据进行分类的工具。分类器的边界向量用于区分第一类别和第二类别(第一类别和第二类别是两个不同的类别)，如图1所示，在分类器的训练过程中，获取第一类别的数据和第二类别的数据(例如图1中黑色圆圈11代表第一类别的数据，白色圆圈12代表第二类别的数据)，将上述第一类别的数据和第二类别的数据映射到更高维度的特征空间，并计算出一个边界向量(例如图1中的横条13表示边界向量)，使得第一类别的数据和第二类别的数据分别位于边界向量的两侧。在分类过程中，待分类数据被映射到特征空间，并根据其位于分类器的哪一侧来确定分类结果。不同分类器的边界向量可能不同，其分类精度可能也不同。3、SVM(SupportVectorMachine，支持向量机)：一种用于对数据进行分类的监督学习模型，具有广泛的应用场景。4、激励：电源或信号源向电路输入的电压和电流起推动电路工作的作用。5、UVM：UVM是一个以SystemVerilog类库为主体的验证平台开发框架，技术人员可以利用其可重构组件构建具有标准层次结构和接口的功能验证环境。请参考图2，其示出了本申请一个实施例提供的芯片验证系统的示意图。该系统200可以包括：激励生成模块210、待测模块220、比较模块230、分类模块240。激励生成模块210，用于根据预设的功能场景生成相应的激励。激励是指待测模块220需要处理的信息，该信息可以是信号或数据等。激励生成模块210是指用于生成激励的模块。待测模块220可模拟实现待测芯片的功能，在可能的实现方式中，待测模块220包括多种功能，则激励生成模块210可分别生成上述不同功能各自对应的激励，并将其发送给待测模块220。在可能的实现方式中，激励生成模块210中定义了各激励的约束条件，从而保证约束是有效的，激励生成模块210按照约束条件，根据预设的功能场景生成相应的激励。示例性地，预设的功能场景可以是待测模块220对应的所有功能场景，也可以是待测模块220对应的部分功能场景，还可以是待测模块220对应的任意一个功本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种芯片验证系统，其特征在于，所述系统包括：/n激励生成模块，用于根据预设的功能场景生成相应的激励；/n待测模块，用于响应于所述激励生成输出结果，所述输出结果用于表示所述待测模块在所述预设的功能场景下的测试结果；/n比较模块，用于对所述输出结果和预测结果进行比较，并且响应于所述输出结果与所述预测结果不相符，生成错误信息集合，其中，所述错误信息集合包括至少一个错误信息，所述错误信息用于指示所述输出结果存在的错误；/n分类模块，用于基于所述错误信息集合中的各个错误信息的类别，生成与所述各个错误信息相对应的问题描述信息。/n

【技术特征摘要】
1.一种芯片验证系统，其特征在于，所述系统包括：
激励生成模块，用于根据预设的功能场景生成相应的激励；
待测模块，用于响应于所述激励生成输出结果，所述输出结果用于表示所述待测模块在所述预设的功能场景下的测试结果；
比较模块，用于对所述输出结果和预测结果进行比较，并且响应于所述输出结果与所述预测结果不相符，生成错误信息集合，其中，所述错误信息集合包括至少一个错误信息，所述错误信息用于指示所述输出结果存在的错误；
分类模块，用于基于所述错误信息集合中的各个错误信息的类别，生成与所述各个错误信息相对应的问题描述信息。


2.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述分类模块，用于：
通过分类器基于所述错误信息集合中的各个错误信息的类别，生成与所述各个错误信息相对应的问题描述信息；
其中，所述分类器根据训练数据训练得到，所述训练数据包括至少一个训练错误信息以及所述训练错误信息对应的标准问题描述信息。


3.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述比较模块包括参考模型；所述系统还包括：驱动模块、接口模块、监视模块；
所述激励生成模块，用于将所述激励发送给所述驱动模块；
所述驱动模块，用于驱动所述接口模块将所述激励发送给所述待测模块；
所述监视模块，用于监视到所述接口模块上存在所述激励，从所述接口模块获取所述激励；将所述激励发送给所述参考模型；
所述参考模型，用于响应于所述激励生成所述预测结果。


4.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述激励生成模块包括至少一个激励生成器，所述待测模块包括至少一个待测单元；所述系统还包括：接口模块、驱动模块；
所述激励生成器，用于根据目标待测单元的目标功能场景生成目标激励；将所述目标激励发送给所述驱动模块；
所述驱动模块，用于驱动所述接口模块将所述目标激励发送给所述目标待测单元；
所述目标待测单元，用于响应于所述目标激励生成目标输出结果，所述目标输出结果用于表示所述目标待测单元在所述目标功能场景下的测试结果。


5.根据权利要求4所述的系统，其特征在于，所述系统还包括：仲裁模块；
所述激励生成模块，用于将所述至少一个激励生成器生成的至少一个激励发送给所述仲裁模块；
所述仲裁模块，用于确定所述至少一个激励的优先级；将所述至少一个激励中优先级最高的激励发送给所述驱动模块。


6.一种芯片验证方法，其特征在于，应用于芯片验证系统中，所述方法包括：
根据预设的功能场景生成相应的激励；
响应于所述激励生成输出结果，所述输出结果用于表示所述芯片验证系统中的待测模块在所述预设的功能场景下的测试结果；
对所述输出结果和预测结果进行比较；
响应于所述输出结果与所述预测结果不相符，生成错误信息集合，其中，所述错误信息集合包括至少一个错误信息，所述错误信息用于指示所述输出结果存在的错误；
基于所述错误信息集合中的各个错误信息的...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘君，
申请(专利权)人：OPPO广东移动通信有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44