一种用于在测试模式下实现芯片低功耗测量的方法及系统技术方案

本发明专利技术公开了一种用于在测试模式下实现芯片低功耗测量的方法及系统，该系统包括测试模块，其中测试模块的输入端为多个外部管脚，其输出端连接待测芯片的多路复用器。测试模块在外部管脚达到特定组合时进入对应的测试模式。测试模块包括线性稳压器测试模式，线性稳压器测试模式包括时钟控制信号、闪存控制信号和线性稳压器控制信号，且线性稳压器测试模式生效时输出具有更高优先级的控制信号。本发明专利技术能够在测试模式下实现芯片最低功耗场景，可以有效降低测试时间，并且降低测试难度。

【技术实现步骤摘要】
一种用于在测试模式下实现芯片低功耗测量的方法及系统
本专利技术涉及一种芯片测试方法及系统，更具体地说，涉及一种用于在测试模式下实现芯片低功耗测量的方法及系统。
技术介绍
随着芯片规模越来越大，芯片的功耗问题愈发凸显，功耗指标是衡量芯片性能的一个非常重要的指标。为了在大规模量产的时候测试每颗芯片的最低功耗，通常的做法需要在测试基台模拟芯片在正常功能模式下进入低功耗模式，再测量芯片的最低功耗。现有的芯片测试方法如图1所示，使用外部管脚PAD连接CPU内核的烧录接口，通过内核发出指令将低功耗的程序烧录进闪存Flash，随后通过执行已烧录进Flash的程序，控制系统控制单元SCU模块将时钟模块HRC/LRC关闭，同时控制线性稳压器LDO模块进入低功耗，最后控制Flash进入低功耗模式。芯片最低功耗测试完成后，还需要通过内核的烧录接口将Flash中的程序擦除。由图1的模式可见，现有的方法过程繁琐，基台调试难度大，并且测试时间长。
技术实现思路
针对现有技术中存在的上述问题，本专利技术的目的是提供一种用于在测试模式下实现本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于在测试模式下实现芯片低功耗测量的系统，包括测试模块，其特征在于：/n所述测试模块的输入端为多个外部管脚，其输出端连接待测芯片的多路复用器；/n所述测试模块在外部管脚达到特定组合时进入对应的测试模式；/n所述测试模块包括线性稳压器测试模式，所述线性稳压器测试模式包括时钟控制信号、闪存控制信号和线性稳压器控制信号，且所述线性稳压器测试模式生效时输出具有更高优先级的控制信号。/n

【技术特征摘要】
1.一种用于在测试模式下实现芯片低功耗测量的系统，包括测试模块，其特征在于：
所述测试模块的输入端为多个外部管脚，其输出端连接待测芯片的多路复用器；
所述测试模块在外部管脚达到特定组合时进入对应的测试模式；
所述测试模块包括线性稳压器测试模式，所述线性稳压器测试模式包括时钟控制信号、闪存控制信号和线性稳压器控制信号，且所述线性稳压器测试模式生效时输出具有更高优先级的控制信号。


2.如权利要求1所述的用于在测试模式下实现芯片低功耗测量的系统，其特征在于：
所述时钟控制信号关闭待测芯片的时钟模块；
所述闪存控制信号使得待测芯片的闪存进入低功耗模式；
所述线性稳压器控制信号使得待测芯片的线性稳压器进入低功耗模式。


3.如权利要求2所述的用于在测试模式下实现芯片低功耗测量的系统，其特征在于：
所述测试模块输出线性稳压器测试模式的生效信号作为待测芯片的多路复用器的控制信号，从而生成具有更高优先级的控制信号。


4.如权利要求3所述的用于在测试模式下实现芯片低功耗测量的系统，其特征在于：
所述测试模块将时钟控制信号通过待测芯片的多路复用器关闭待测芯片的时钟模块；
所述测试模块将闪存控制信号通过待测芯片的多路复用器使得待测芯片的闪存进入低功耗模式；
所述测试模块将线性稳压器控制信号通过待测芯片的多...

【专利技术属性】
技术研发人员：徐淑芹，朱爱勇，何丽，邱晨，张慧文，
申请(专利权)人：上海健康医学院，
类型：发明
国别省市：上海;31