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本发明公开了一种用于在测试模式下实现芯片低功耗测量的方法及系统，该系统包括测试模块，其中测试模块的输入端为多个外部管脚，其输出端连接待测芯片的多路复用器。测试模块在外部管脚达到特定组合时进入对应的测试模式。测试模块包括线性稳压器测试模式，线...
该专利属于上海健康医学院所有，仅供学习研究参考，未经过上海健康医学院授权不得商用。

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